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FG Integrierte Kommunikationssysteme


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Prof. Dr.-Ing. habil. Andreas Mitschele-Thiel

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INHALTE

Studentische Arbeiten

Thema

Microprocessor based embedded system test

Typ:
Diplomarbeit
Betreuer:
Dr.-Ing. Heinz- Dietrich Wuttke
Bearbeiter:
Martin Instenberg
Status:
abgeschlossen
Abstract:
Eingebettete Systeme können heute in nahezu allen elektronischen Geräten, von digitalen Uhren bis hin zu Steuerungssystemen für Kernkraftwerke, gefunden werden. Ihr Design ist in höchstem Maße für die jeweilige Aufgabe optimiert. Fortschritte in der Halbleiter- und Nanotechnologie, sowie in der Design-Automatisierung erlauben es Ingenieuren immer komplexere digitale Systeme zu entwickeln. Mit der Erhöhung der Komplexität wächst jedoch auch die Wahrscheinlichkeit für das Auftreten von Fabrikationsfehlern. Das Testen von eingebetteten Systemen wird somit immer wichtiger, um ein gewisses Qualitätsniveau zu garantieren. Hersteller von eingebetteten Systemen verlangen nach neuen Lösungen, die eine hohe Fehlerabdeckung bei minimalen Kosten erreichen. Dies impliziert ein hohes Maß an Testautomatisierung und den Verzicht auf den Einsatz von teurer Testausrüstung.
In dieser Arbeit wird ein neuer Ansatz zum Testen von eingebetteten Systemen vorgestellt. Er beruht auf der Entwicklung und Ausführung von Testprogrammen, die es ermöglichen die verschiedenen Systemkomponenten zu testen und heißt deswegen microprocessor-based embedded system test (zu deutsch: Mikroprozessorbasiertes Testen von eingebetteten Systemen). Der Ansatz wird ausführlich analysiert und es werden Lösungen zur Generation von Testprogrammen und deren Ausführung vorgestellt. Zusätzlich wird die Verwendung von Debug-Funktionen und Debug-Standards im Rahmen von mikroprozessorbasiertem Testen diskutiert. Experimente mit realer Hardware (bzw. Hardwarebeschreibungen) beweisen letztlich die Machbarkeit des Ansatzes.