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FG Integrierte Kommunikationssysteme


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Prof. Dr.-Ing. habil. Andreas Mitschele-Thiel

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INHALTE

Veröffentlichungen

Veröffentlichung

Chip Embedded Instruments- neue Ansätze zum PCB-Test

Autoren:
Dr.-Ing. Heinz- Dietrich Wuttke
Typ:
Workshop
Status:
akzeptiert
Veröffentlichungsdatum
20.05.2015
Abstract:
Seit seiner Einführung vor 25 Jahren hat sich der Boundary Scan Standard 1149.1 in vielen Teilbereichen des Leiterkartentests durchgesetzt. Immer komplexere Leiterkarten (printed circuit board, PCB) einerseits und schnellere Bausteine und Schnittstellen andererseits stellen neue Anforderungen an die Boundary Scan Technologie. Das Vorhanndensein von Prozessoren und komplexen programmierbaren Schaltkreisen (z.B. FPGAs) eröffnen neue Testmöglichkeiten, die durch die Revision des Standards 1149.1-2013 und durch den Standard 1687-2014 (auch iJTAG genannt) neue Impulse erhalten haben. Im Vortrag wird auf diese Standards sowie neue Ansätze zum PCB-Test mit Hilfe von Chip embedded instruments, d.h. Testinstrumenten, die temporär in FPGAs für Testzwecke integriert werden, eingegangen.
Bibtex
Weiterführender Link
http://www.goepel.com/fileadmin/downloads/bscan/2015-boundary-scan-days-flyer.pdf
Weiterführendes Dokument
https://www.tu-ilmenau.de/fileadmin/public/iks/files/lehre/euv/2015-05-20_BoundaryScanDays_Wuttke_Version%203.pdf