Die Hannover-Messe Industrie ist seit als 60 Jahren die führende Messe für neue Technologien, Werkstoffe und Ideen und gilt als wichtigstes Technologieereignis weltweit.
Die Technische Universität Ilmenau ist auch auf der HMI 2009 in der Halle 2 / C37 am Gemeinschaftsstand „Forschung für die Zukunft“ der Länder Sachsen – Sachsen/Anhalt - Thüringen wieder mit verschiedenen Exponaten vertreten.
Mehr Informationen zur Hannover Messe finden Sie unter www.hannovermesse.de.
Macro bis Nano - Neue Nano- und Mikrotechnologien für die Anwendungen der ZukunftDas Institut für Mikro- und Nanotechnologien MacroNano® stellt aktuelle Forschungsergebnisse aus den Bereichen Mikrosensorik, optische Mikrosysteme, Mikroaktorik und biologische Mikrosysteme vor.
Beispiele sind:
- Passive RFID-Sensoren zur Integration in Packstoffe
- Bio-Mikroreaktoren
- Mikroaktorsysteme für Ventile
Standort: Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft", Halle 2, Stand C 37
Ansprechpartner:
Technische Universität Ilmenau
Institut für Mikro- und Nanotechnologien MacroNano®
Prof. Martin Hoffmann
Gustav-Kirchhoff-Straße 7
98683 Ilmenau
Telefon: +49 3677 69-3400
Telefax: +49 3677 69-1840
E-Mail: martin.hoffmann(at)tu-ilmenau.de
Link zum Institut für Mikro- und Nanotechnologien
Exponat: Druckverteilungsmeßsystem "PiCo Cube"Das Meßsystem “PiCo Cube”, hervorgegangen aus einem Thüringer Verbundprojekt, ist ein neuartiges System zur Erfassung von Schwingungen und Drücken bzw. Kräften. Durch die Nutzung von piezokeramischen Substraten (in Epoxidharz eingebettete Keramikfasern) ist es möglich, hochdynamische ebenso wie auch quasi-statische Anwendungen zu untersuchen. Da die Sensorelemente flexibel in Ihrer Verwendung sind, können fast beliebige Abmessungen realisiert werden und es ist möglich, ein breites Spektrum an Meßaufgaben abzudecken. Im Speziellen sind dies automobiltechnische Fragestellungen der Bereiche Antriebs- und Fahrwerkstechnik. Daneben sind auch andere Applikationen denkbar, da daß System überaus flexibel und robust ist. Durch die hohe Auflösung von kleinen Kräften sind Meß- und Regelaufgaben in Bezug auf NVH – Fragestellungen und neuartige by-wire Bremssysteme abbildbar. Die selbstentwickelte Verstärkerschaltung erlaubt zudem die Erfassung absoluter Parameter für quasi-stationäre Zustände. Speziell in Kombination mit einer hohen örtlichen Auflösung kann das Meßsystem für die Automobilindustrie von Interesse sein.
Innerhalb der Forschungsaktivitäten wurden erste Prototypen am Fachgebiet Kraftfahrzeugtechnik aufgebaut. Eine dieser applikativen Anwendungen betrifft einen sensierten Bremsbelag mit gegenwärtig 8 Sensorelementen und Abtastraten von bis zu 10 kHz. Eine Erweiterung zu einer höheren Anzahl an Sensorelementen wird derzeit erarbeitet. Die Applikation konnte bereits erfolgreich unter Laborbedingungen (Bremsenprüfstand) eingesetzt und entwickelt werden. Somit ist es möglich, auch bei dynamischen Betriebsmodi (rotierende Bremsscheibe) z.B. Kraftverteilungen an der Belagrückenplatte zu erfassen. Dabei ist zu betonen, daß die Belagstruktur nur geringfügig modifiziert wurde. Daher sind die strukturdynamischen Eigenschaften kaum beeinflußt, so daß der Belagprototyp sich diesbezüglich fast wie ein originaler Bremsbelag verhält.
Standort: Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft", Halle 2, Stand C 37
Kontakt:
TU Ilmenau
Fachgebiet Kraftfahrzeugtechnik
Univ.-Prof. Dr.-Ing. Klaus Augsburg
Postfach 10 05 65
98684 Ilmenau
Telefon: +49 3677 69 38 43
Fax: +49 3677 69 3840
E-Mail: klaus.augsburg(at)tu-ilmenau.de
Link zum Fachgebiet Kraftfahrzeugtechnik
Exponat: Weißlichtinterferometrie für 3D-Messungen im unteren nm-BereichDie Weißlichtinterferometrie gehört zu den herausragenden optischen Messverfahren für die Erfassung von 3D-Topografien mit Tiefenauflösungen im unteren Nanometer- und Subnanometerbereich. Obwohl der physikalische Grundansatz seit Jahren bekannt ist und der Bedarf an großflächig aufgelösten, hochpräzisen Tiefenbildern für die Nano- und Mikrotechnologie sowie für die Halbleitertechnik ständig steigt, ist die breite praktische Nutzung der Weißlichtinterferometrie erst durch die enormen Fortschritte der Rechentechnik in den letzten Jahren möglich geworden.
Am Fachgebiet Graphische Datenverarbeitung wurden, gefördert durch das Thüringer Kultusministerium, Grundlagen zur Weißlichtinterferometrie und neue methodische Ansätze zu deren Auswertung erforscht und weiterentwickelt, sodass sich für die bildaufgelöste Messung mehrere Millionen Korrelogramme in weniger als einer Minute nanometergenau berechnen lassen. Das darauf basierende Messverfahren ist sehr robust und gestattet, die erzielbare Genauigkeit im Falle optisch glatter Oberflächen zusätzlich anzuheben. Die Untersuchungen des Fachgebietes wurden ausgedehnt auf die Nutzung der Weißlichtinterferometrie in Verbindung mit 3D-Nanopositionier- und –messmaschinen, so dass Messobjekte mittels hochpräzisem Stitching über ein Messvolumen von z.B. (25x25x5) mm³ nanometergenau topografisch erfasst werden können. Die Ergebnisse werden mittels Erweiterungsbausatz für ein konventionelles Lichtmikroskop, der in einer Folgeentwicklung der GBS mbH in Ilmenau entstanden ist, demonstriert.
Standort: Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft", Halle 2, Stand C 37
Ansprechpartner:
TU Ilmenau
Fachgebiet Grafische Datenverarbeitung
PD Dr.-Ing. habil. Karl-Heinz Franke
Gustav-Kirchhoff-Straße 5 (Applikationszentrum)
98693 Ilmenau
Telefon: +49 3677 2010-300
Telefax: +49 3677 2010-302
E-Mail: karl-heinz.franke(at)tu-ilmenau.de
Link zum Fachgebiet Grafische Datenverarbeitung
Projekt: Komplexanalyse neuer MärkteZunehmende Globalisierung der Wirtschaft stellt eine große Herausforderung für Informationsanbieter dar. Eröffnung und Entwicklung neuer technologischen Märkte, verstärkte Wechselwirkungen zwischen Unternehmen, Industriebranchen und Nationalmärkten, sowie zwischen Industrie und Wissenschaft verlangen eine neue, komplexe Betrachtung des Informationsangebots im Bezug auf Recherche und Analyse von Massendaten aus allen Ecken der Welt. PATON an der TU Ilmenau bietet hierbei professionelle Dienstleistungen auf dem Gebiet von Patentund Markenrecherchen, Komplexanalysen von Patent- und Literaturdaten aus Patent-, Literatur- und Industriedatenbanken. Wir bieten verschiedene Verarbeitungs- und Lieferungsoptionen, von Rohdaten über einfache Datenzusammenstellungen bis zu komplexen Analyse- und Visualisierungsverfahren, wie z.B. Unternehmens-, Fachgebiets-, Portfolio- und Zitierungsanalysen, unter Berücksichtigung unterschiedlicher Datenquellen.
Standort: Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft", Halle 2, Stand C 37
Ansprechpartner:
Technische Universität Ilmenau
PATON Landespatentzentrum Thüringen
Prof. Dr.-Ing. habil. Reinhard Schramm
Langewiesener Straße 37
98693 Ilmenau
Telefon: +49 3677 69-4573
Telefax: +49 3677 69-4538
E-Mail: reinhard.schramm(at)tu-ilmenau.de
Link zum PATON
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