Vom 26.-28. Mai ist die SENSOR+TEST 2009 in Nürnberg erneut der Treffpunkt internationaler Unternehmen aus Sensorik und Messtechnik. Sie bietet einen vollständigen und branchenübergreifenden Überblick der gesamten messtechnischen Systemkompetenz vom Sensor bis zur Auswertung.
Die Technische Universität Ilmenau ist am Gemeinschaftsstand „Forschung für die Zukunft“ der Länder Sachsen – Sachsen/Anhalt - Thüringen in Halle 12, Stand 12-222 vertreten.
Weiterführende Informationen zur Messe: http://www.sensor-test.de
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| Exponat: Mehrkanalige Spektralanalyse von LebensmittelnDie Spektralbildverarbeitung gewinnt zunehmend an Bedeutung, da sie immer häufiger in der Industrie eingesetzt wird. Spektral messende Systeme ermöglichen die Erkennung feinster Farbabweichungen. Einen Schwerpunkt der Forschungsarbeiten der TU Ilmenau bilden Aufgaben im Lebensmittelbereich, wie die Detektion von pilzbelastetem Getreide oder die frühzeitige Erkennung von verdorbenen Fleischerzeugnissen. Für spektrale Messungen steht ein mehrkanaliges Miniaturspektrometer zur Verfügung.
In der Kunststoffindustrie ist es für die Sortierung farbiger Kunststoffteile geeignet. Durch seinen monolithischen Aufbau ist die Bauform sehr kompakt und es erreicht eine hohe optische Qualität. Die extrem hohe Lichtempfindlichkeit in Kombination mit einer weitgestaffelten Integrationszeit (10 µs - 15 s) macht es für weitere Anwendungsgebiete attraktiv. Das Miniaturspektrometer kann in verschiedenen Ausführungen konzipiert werden. Es sind zwei, vier oder bis zu acht Kanäle vorgesehen. Mittels eines Standard-USB-2.0-Anschlusses kann es an jeden handelsüblichen Laptop oder PDA (Host) angeschlossen werden, was das Miniaturspektrometer zu einem tragbaren, flexibel einsetzbaren und leistungsstarken Messsystem macht. Die vorhandene Software ist imstande, bis zu acht Proben bzw. Referenzen echtzeitnah auszuwerten.
Standort: Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft", Halle 12, Stand 12-222
Ansprechpartner:
Technische Universität Ilmenau
Fakultät für Maschinenbau
Fachgebiet Qualitätssicherung
Prof. Dr.-Ing. habil. Gerhard Linß
Postfach 10 05 65
98693 Ilmenau
Telefon +49 36 77 69 38 22
Telefax +49 36 77 69 38 23
Email: gerhard.linss(at)tu-ilmenau.de
Link zum Fachgebiet Qualitätssicherung
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Exponat: Weißlichtinterferometrie für 3D-Messungen im unteren nm-BereichDie Weißlichtinterferometrie gehört zu den herausragenden optischen Messverfahren für die Erfassung von 3D-Topografien mit Tiefenauflösungen im unteren Nanometer- und Subnanometerbereich. Obwohl der physikalische Grundansatz seit Jahren bekannt ist und der Bedarf an großflächig aufgelösten, hochpräzisen Tiefenbildern für die Nano- und Mikrotechnologie sowie für die Halbleitertechnik ständig steigt, ist die breite praktische Nutzung der Weißlichtinterferometrie erst durch die enormen Fortschritte der Rechentechnik in den letzten Jahren möglich geworden.
Am Fachgebiet Graphische Datenverarbeitung wurden, gefördert durch das Thüringer Kultusministerium, Grundlagen zur Weißlichtinterferometrie und neue methodische Ansätze zu deren Auswertung erforscht und weiterentwickelt, sodass sich für die bildaufgelöste Messung mehrere Millionen Korrelogramme in weniger als einer Minute nanometergenau berechnen lassen. Das darauf basierende Messverfahren ist sehr robust und gestattet, die erzielbare Genauigkeit im Falle optisch glatter Oberflächen zusätzlich anzuheben. Die Untersuchungen des Fachgebietes wurden ausgedehnt auf die Nutzung der Weißlichtinterferometrie in Verbindung mit 3D-Nanopositionier- und –messmaschinen, so dass Messobjekte mittels hochpräzisem Stitching über ein Messvolumen von z.B. (25x25x5) mm³ nanometergenau topografisch erfasst werden können. Die Ergebnisse werden mittels Erweiterungsbausatz für ein konventionelles Lichtmikroskop, der in einer Folgeentwicklung der GBS mbH in Ilmenau entstanden ist, demonstriert.
Standort: Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft", Halle 12, Stand 12-222
Ansprechpartner:
TU Ilmenau
Fachgebiet Grafische Datenverarbeitung
PD Dr.-Ing. habil. Karl-Heinz Franke
Gustav-Kirchhoff-Straße 5 (Applikationszentrum)
98693 Ilmenau
Telefon: +49 3677 2010-300
Telefax: +49 3677 2010-302
E-Mail: karl-heinz.franke(at)tu-ilmenau.de
Link zum Fachgebiet Grafische Datenverarbeitung
Exponat: Passive Sensoren für RFID-AnwendungenDie Integration von RFID-Funktionalität in Verpackungsmaterial bietet einen kostengünstigen Ansatz zum Item Tagging und neue Anwendungsmöglichkeiten im Vergleich zu Barcodes oder klassischen RFID Labeln. Das durch das BMBF geförderte Projekt SMARTPACK (Partner: RFID Chiphersteller NXP, Verpackungsmaterialhersteller ALCAN Packaging und Anlagenbauer Mühlbauer) zielt aus Kostengründen auf die Integration von RFID Funktionalität schon bei der Herstellung des Packstoffes ab. RFID im Packstoff eröffnet auch die Möglichkeit Sensoren zu implementieren, welche die Zustandsgrößen oder deren Integralwerte überwachen. Mögliche Anwendungen sind die Überwachung von Kühlketten oder Sterilisationsprozessen. Im Falle der Kühlkettenüberwachung wird die temperaturabhängige Diffusionseigenschaft einer polymeren Barriereschicht auf Speicherschicht ausgenutzt. Die Widerstandsänderung ist dabei direkt von der aufgenommenen Wassermenge abhängig. Für Hochtemperaturanwendungen wie Sterilisationsprozesse wurde ein Konzept basierend auf Kapillareffekten untersucht. Dabei füllt ein geschmolzenes Polymer eine Kapillarstruktur. Passive Sensoren dieser Art ohne aktive elektrische Energieversorgung stellen einen ersten Schritt in Richtung Low-Cost-Anwendung dar.
Standort: Gemeinschaftsstand "Forschung für die Zukunft", Halle 12, Stand 12-222
Ansprechpartner:
Technische Universität Ilmenau
Institut für Mikro- und Nanotechnologien
Fachgebiet Mikromechanische Systeme
Prof. Dr.-Ing. Martin Hoffmann
Postfach 10 05 65
Telefon +49 36 77 69 24 87
Telefax +49 36 77 69 18 40
Email: martin.hoffmann(at)tu-ilmenau.de
Link zum Fachgebiet Mikromechanische Systeme
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