http://www.tu-ilmenau.de

Logo TU Ilmenau


FG Werkstoffe der Elektrotechnik


headerphoto FG Werkstoffe der Elektrotechnik
Ansprechpartner

Univ.-Prof. Dr. Peter Schaaf

Fachgebietsleiter

Telefon +49 3677 69-3610

E-Mail senden


INHALTE

Kompetenz und Ausstattung

Werkstoffe der Elektrotechnik

Forschungsschwerpunkte

  • Oberflächentechnologien, Dünnschichttechnik, PVD-Schichtabscheidung (Mehrebenen- und Mischschichten, Metallisierung, Funktionsschichten, Kontakte)
  • Materialanalytik und Werkstoffprüfung; Schichtmesstechnik, mechanische und zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Prüfzentrum Schicht- und Materialeigenschaften Ilmenau (Amtliche Prüfstelle, akkreditiert nach DIN EN ISO/IEC 17025)
  • Werkstoffentwicklung, neue Materialien, Funktionswerkstoffe, Metallisierung
  • Kontaktwerkstoffe und -systeme, bleifreie Lote, Einsatzuntersuchungen

Leistungsangebot

  • Werkstoffentwicklung, Beschichtungsentwicklung, Werkstoffauswahl und Optimierung, Entwicklung zu Beschichtungswerkstoffen und -verfahren
  • Forschungsarbeiten zu Kontaktwerkstoffen und Kontaktsystemen, Funktionsschichten
  • Entwicklung von Verfahren zur Charakterisierung dünner Schichten
  • Untersuchung von Schicht. und Materialeigenschaften: Röntgendiffraktometrie (Strukturuntersuchungen, Phasennachweis, Spannungsmessungen, Rastertunnel-/Atomkraftmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie (Elementanalyse mittels EDX, EBSD, ESEM), Analytische hochauflösende Transmissonselektronenmikroskopie mit EDX und EELS, Röntgenfluoreszenz (Elementanalyse, Schichtdickenmessung, Element-Tiefenprofile)
  • Spezielle Schichtmesstechnik: elektrische Schicht- und Kontaktmessungen, Schichtdicke, Schichtspannungen, Haftfestigkeit, Härteprofile, mechanische Eigenschaften
  • Werkstoffprüfung: mechanische Kennwerte, Härte, Mikrohärte, Universalhärte (Hartprofil, elektrische und plastische Verformungsenergie), Metallografie mit Bildverarbeitung, Standardverfahren der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung

Spezialausstattung

  • Bedampfungs- und Sputteranlagen, PVC-Anlagen
  • Röntgendiffraktometer, mit Zusätzen für Textur, dünne Schichten, Eigenspannungen
  • Rastersondenmikroskop (AFM)
  • TEM-Transmissionselektronenmikroskop TECNAI S20 mit Gatanfilter, EDX, EELS
  • REM-Rasterelektronenmikroskop (ESEM) ESEM XL30 mit EDX, EBSD
  • Werkstoffprüfgeräte, metallografische Präparationstechnik, Mikroskopie, Mikro- und Universalhärte, Nanoindenter, Klimaprüfkammer, Schichtspannungsmesser, optisches Profilometer, Thermowellen-Inspektionsgerät (Wärmeleitfähigkeit), GDOS, RFA
  • Elektrische Messtechnik, Leitfähigkeit, U-I-Kennlinien, Degradationsmessplatz

Kontakt

Univ.-Prof. Dr. Peter Schaaf TU Ilmenau Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik Gustav-Kirchhoff-Straße 5 Meitnerbau, Raum 1.2.114 98693 Ilmenau Tel. +49 3677 69-3611 Fax +49 3677 69-3171 peter.schaaf@tu-ilmenau.de www.tu-ilmenau.de/wet

Einordnung in die Forschungscluster

NanoengineeringPräzisionstechnik und PräzisionsmesstechnikTechnische und biomedizinische AssistenzsystemeAntriebs-, Energie- und UmweltsystemtechnikDigitale MedientechnologieMobilkommunikation