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Prof. Dr. Jens Haueisen

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INHALTE

16.04.2014 - Workshopvortrag, Complementary Sensitivity of EEG and MEG to Tangential and Ra-dial Epileptic Spike Activity: Influence of Source Depth

Simulierte EEG (oben) und MEG (unten) Signale einer fokalen epileptischen Quelle

A. Hunold, M. Funke, R. Eichardt, J. Haueisen, BBS 10./11. April 2014, Berlin

Elektroenzephalographie (EEG) und Magnetoenzephalographie (MEG) zeigen unterschiedliche Empfindlichkeit gegen-über neuronaler Aktivität. Der Einfluss der Quellorientierung und –tiefenlage wird in der vorliegenden Studie für fokale und ausgedehnte Quellen analysiert. Die Simulationsumgebung besteht aus realistischen drei schaligen Randelementme-thodemodellen als Volumenleitermodell und Gitterrepräsentationen der gefalteten kortikalen Oberfläche. Fokale Einzel-dipole und ausgedehnte Dipolverbundquellen werden anhand der Quellorientierung und –tiefenlage klassifiziert. Simula-tionen von EEG- und MEG-Signalen weisen komplementäre Empfindlichkeitsverteilungen in Abhängigkeit von der Quellorientierung für oberflächennahe Quellen auf. Demnach kann die gleichzeitige Ableitung von EEG und MEG die Wahrscheinlichkeit der Quellerkennung erhöhen.