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Ansprechpartner

Prof. Dr. Jens Haueisen

Institutsleiter

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INHALTE

19.11.2015 - David Heinemann auf der ICIAP, May 11 - 12, 2015, Montreal, Canada

D.Heinemann: Optical Imaging Based Detection of Solder paste in printed Circuit Board Jet-Printing Inspection

David Heinemann stellte auf der ICIAP (International Conference on Image Analysis and Processing) aktuelle Ergebnisse im Projekt MAMUD vor.