MetroBase

Neue metrologische Basis höchster Präzision

Ansprechpartner

Prof. Eberhard Manske
Fachgebiet Fertigungs- und Präzisionsmesstechnik

Telefon: +49 3677 69-1250 oder 69-5050

e-mail: eberhard.manske@tu-ilmenau.de

Förderinformation

Projektträger: Carl Zeiss Stiftung

Förderkennzeichen: 0563-2.8/643/2

beteiligte Fachgebiete: Fertigungs- und Präzisionsmesstechnik, Prozessmesstechnik

Laufzeit: 01.01.2017 - 31.12.2020

Projektinformation

Das Ziel des Projektes ist im speziellen die Schaffung einer neuen metrologischen Basis, um die Forschung auf dem ausgewiesenen Gebiet der Nanopositionier- und Nanomessmaschinen auf ein qualitativ neues Level zu heben. Dazu soll die Frequenzkamm-Technologie als neue Schlüsselkomponente an der TU Ilmenau etabliert und synergetisch mit dem hohen Stand der Nanopositionier- und Nanomesstechnik verbunden werden, um somit die Forschung auf höherem Niveau nachhaltig fortführen zu können.