Electronics Technology 2

Lecture content:

Repetition of Thick film technology (Electronics Technology 1)

Consolidation of Thick-film technology
Substrate properties
Resistor parameters, adjustment, trim sensitivity
Design of DiS resistors
Conductor and dielectric materials

Thick-film circuit design
Structure of the layout system Hyde (differentiation to circuit board design)
Introduction to the Hyde program
Procedure for designing a DiS circuit
Dimensioning of thick-film circuits

Consolidation of multilayer ceramic technology
Tape production and material classes
tape-on-substrate technology
HTCC technology
LTCC technology and materials
Properties of multilayer ceramics

Heat dissipation solutions
Thick-film on alumina substrates
LTCC-M

Direct Copper Bonding technology for power electronic circuits
Production of the DCB substrates
Design of DCB circuits
Method of mounting components on DCB substrates
Reliability of DCB circuits

Reliability of microelectronic assemblies
failure statistics
Causes and mechanisms of failure
Reliability studies

Ceramic Packaging
1st level packaging
2nd level packaging

 
Seminar

Application of the lecture contents
Production and SMD assembly of a hybrid circuit
Optional: Excursion to an assembly house or the SMT connect fair

Elektroniktechnologie 2

Vorlesungsinhalt

Vertiefung Dickschichttechnologie

Substrateigenschaften
Widerstandsparameter, Abgleich, Trimmempfindlichkeit
Entwurf von DiS-Widerständen
Layoutregeln

Dickschichtschaltungsentwurf
Aufbau des Layoutsystems Hyde (Unterscheidung zu Leiterplattenentwurf)
Einführung in das Programm Hyde
Ablauf beim Entwurf einer DiS-Schaltung
Dimensionierung

Direct Copper Bonding-Technologie für leistungselektronische Schaltungen
Herstellung der DCB-Substrate
Entwurf von DCB-Schaltungen
Montageverfahren für Bauelemente auf DCB-Substraten
Zuverlässigkeit von DCB-Schaltungen

Zuverlässigkeit mikroelektronischer Baugruppen
Ausfallstatistik
Ausfallursachen und –mechanismen
Zuverlässigkeitsuntersuchungen

Prüfung von Schaltungsträgern und Baugruppen
Kapazitätstest
Verbindungs-/Isolationstest
Impedanztest
Boundary Scan
In-Circuit Test

Vertiefung Mehrlagenkeramik-Technologie
Folienherstellung
Tape-on-Substrate Technologie
HTCC-Technologie
LTCC-Technologie
Eigenschaften von Multilayerkeramiken

 
Seminar

Herstellung und SMD-Bestückung einer doppelseitigen Leiterplatte
Entwurf einer Dickschichtschaltung mit dem Programm Hyde
Exkursion zu einem Baugruppenhersteller