Technische Universit├Ąt Ilmenau

Reliability of circuits and systems - Modultafeln of TU Ilmenau

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subject properties subject number 100825 - common information
subject number100825
departmentDepartment of Electrical Engineering and Information Technology
ID of group2143 (Micro- and nanoelectronic Systems Group)
subject leaderProf. Dr. Martin Ziegler
languagedeutsch
term Wintersemester
previous knowledge and experience

Bachelor (Ingenieur- oder Naturwissenschaften), Kenntnisse  zur Funktion von  Halbleiterbauelementen und ICs

learning outcome

Die Studierenden lernen die grundlegenden Zusammenhänge und Methoden zur Beschreibung der Zuverlässigkeit elektronischer Schaltungen und Systeme kennen. Es werden Herangehensweisen zur Erfassung und Beeinflussung besprochen. Grundlegende Ausfallmechanismen werden behandelt.

Fachkompetenzen: Ingenieurtechnische Grundlagen zur Bewertung und Beeinflussung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme, bauelementetypische Ausfallmechanismen.

Methodenkompetenz: Methoden der Zuverlässigkeitsanalyse und ihre Anwendung, Ergebnisdokumentation.

Systemkompetenzen: Zusammenhang von Entwurf, Fertigung und Test basierend auf den Fachkenntnissen anderer Lehrgebiete (HL-Technologie, Schaltungsentwurf, Mikro- und nanoelektronische Systeme), Entwicklung interdisziplinären Denkens.

content

- Ausfall- und Überlebenswahrscheinlichkeit  (Verteilungsfunktionen )

- Zuverlässigkeit von Systemen mit mehreren Elementen (Zuverlässigkeitsersatzschaltbild;

  Redundante und nichtredundante Elemente; Analysemethoden)

- Methoden der Zuverlässigkeitsanalyse

- Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente (Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung;

  Zuverlässigkeitsbildende Maßnahmen im Entwurf, der Produktion und in der Endkontrolle)

- Bewertung der Zuverlässigkeit

- Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen (Intrinsische und extrinsische Fehlermechanismen;

  Ausfallmechanismen in CMOS-ICs )

- Test integrierter Schaltungen (Grundprobleme; Automatische Testmustererzeugung, passive und

  aktive Testhilfen; BIST; IDDQ-Test)

media of instruction

Folien, Beamer, Tafel

literature / references

Bajenescu/Bazu: Reliability of Electronic Components, Springer, 1999

Jha/Gupta: Testing of Digital Systems, Cambridge Univ. Press, 2003

evaluation of teaching

Pflichtevaluation:

WS 2010/11 (Fach)

WS 2013/14 (Fach)

Freiwillige Evaluation:

Hospitation:

WS 2010/11

WS 2013/2014

Details in major Master Elektrotechnik und Informationstechnik 2014 (MNE)
subject nameReliability of circuits and systems
examination number2100507
credit points5
on-campus program (h)45
self-study (h)105
Obligationobligatory
examoral examination performance, 30 minutes
details of the certificate
maximum number of participants