Technische Universität Ilmenau

Imaging and analytical methods in Materials Science - Modultafeln of TU Ilmenau

The Modultafeln have a pure informational character. The legally binding information can be found in the corresponding Studienplan and Modulhandbuch, which are served on the pages of the course offers. Please also pay attention to this legal advice (german only). Information on place and time of the actual lectures is served in the Vorlesungsverzeichnis.

subject properties subject number 6709 - common information
subject number6709
departmentDepartment of Electrical Engineering and Information Technology
ID of group2172 (Group of Materials for Electrical Engineering and Electronics)
subject leaderProf. Dr. Peter Schaaf
languageDeutsch
term Wintersemester
previous knowledge and experience

Grundlagen Werkstoffwissenschaft, Kristallographie, Mathematik, Physik

learning outcomeBewertung und Messung von Oberflächen vom technischem Bereich bis zur atomaren Auflösung kennen.
Es werden die Methoden Lichtmikroskopie, Elektronenmikroskopie und Rastersondenmikroskopie den Studenten vermittelt. Die Studenten sollen danach selbständig das passende Verfahren für ihre Anwendungen auswählen und anwenden können.
content

Dozent: Dr. Thomas Kups

1. Einleitung: Bereiche, wo bildgebende und analytischeVerfahren notwendig sind, Einteilung der Verfahren der Werkstoffdiagnose 2. Lichtmikroskopie: Auflösungsvermögen des Auges, scharfes Sehen, Abbe´sche Gleichung, Förderliche und leere Vergrößerungen, Hellfeld- und Dunkelfeldmikroskopie 3. Materialographie: Wiederholung Gefügesichtbarmachung, Verfahren zur Bestimmung der Kontrastverbesserung, Verfahren zur Bestimmung der Kornverteilung, Anwendungsbeispiele 4. Rastersondenmikroskopie: Abbildungsprinzipien für atomare Auflösungen, Aufbau und Arbeitsweise Rastertunnelmikroskop, Aufbau und Arbeitsweise Rasterkraftmikroskop 5. Elektronenmikroskopie: Erzeugung hoch fokussierter Elektronenstrahlen (Kathoden, Linsen), Detektoren, Wechselwirkungskette (Sekundär, Rückstreuelektronen, Augerelektronen …), Bildaufbau im Elektronenmikroskop - Rasterelektronenmikroskopie - Verfahren, Sekundärelektronenverfahren, Rückstreuelektronenverfahren 6. Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenstrahl induzierte Röntgenstrahlung - Detektionsmöglichkeiten (EDX, WDX) - Detektoraufbau - qualitative und quantitative EDX 7. Zusammenfassung: Vergleich der Verfahren bezüglich Auflösung, Quantifizierbarkeit, Kosten, Probenanforderung

media of instructionVorlesungsskript
Tafel / Whiteboard
Folien
Computer Demo
literature / references- Hunger, H.J.: Werkstoffanalytische Verfahren: eine Auswahl; 1. Auflage, Deutscher Verlag für
Grundstoffindustrie 1995
eine Auswahl; 1. Auflage, Deutscher Verlag für
Grundstoffindustrie 1995
- Reimer, l.: Scanning Electron Microscopy; 2.
Auflage, Springer Verlag 2008
- Reimer, L; Pfefferkorn, G.: Raster-
Elektronenmikroskopie; 2. Auflage, Springer Verlag 1977
- Schmidt, P. F.: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, expert-Verlag 1994
- Slayter, E.: Light and electron microscopy,
Cambridge Univ. Press 1992
- Schäfer; Terlecki: Halbleiterprüfung, Hüthig-
Verlag 1986
- Eggert, F.: Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse (mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop): Ein Handbuch für die Praxis (Taschenbuch); Books on Demand Gmbh; Auflage: 1 (Februar 2005); ISBN: 978-3833425998
- Reimer, l.: Scanning Electron Microscopy; 2. Auflage, Springer Verlag 1998
- Reimer, L; Pfefferkorn, G.: Raster-
Elektronenmikroskopie; 2. Auflage, Springer Verlag
1977
- Schmidt, P. F.: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, expert-Verlag 1994
- Slayter, E.: Light and electron microscopy, Cambridge Univ. Press 1992
- Riesebeck; Beyer, H.: Handbuch der Mikroskopie,
Verlag Technik Berlin 1988
- Schäfer; Terlecki: Halbleiterprüfung, Hüthig-Verlag 1986
evaluation of teaching

Pflichtevaluation:

Freiwillige Evaluation:

Hospitation:

Details in major Bachelor Werkstoffwissenschaft 2009, Bachelor Werkstoffwissenschaft 2011
subject nameImaging and analytical methods in Materials Science
examination number2100273
credit points3
on-campus program (h)34
self-study (h)56
Obligationobligatory elective
examoral pass-fail certificate, 30 minutes
details of the certificate
Signup details for alternative examinations

Pflichtevaluation:

Freiwillige Evaluation:

Hospitation:

maximum number of participants