Technische Universität Ilmenau

Imaging and analytical methods in Materials Science - Modultafeln of TU Ilmenau

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module properties module number 6709 - common information
module number6709
departmentDepartment of Electrical Engineering and Information Technology
ID of group2172 (Materials for Electrical Engineering and Electronics)
module leaderProf. Dr. Peter Schaaf
languageDeutsch
term Wintersemester
previous knowledge and experience

Grundlagen Werkstoffwissenschaft, Kristallographie, Mathematik, Physik

learning outcomeBewertung und Messung von Oberflächen vom technischem Bereich bis zur atomaren Auflösung kennen.
Es werden die Methoden Lichtmikroskopie, Elektronenmikroskopie und Rastersondenmikroskopie den Studenten vermittelt. Die Studenten sollen danach selbständig das passende Verfahren für ihre Anwendungen auswählen und anwenden können.
content

Dozent: Dr. Thomas Kups

1. Einleitung: Bereiche, wo bildgebende und analytischeVerfahren notwendig sind, Einteilung der Verfahren der Werkstoffdiagnose 2. Lichtmikroskopie: Auflösungsvermögen des Auges, scharfes Sehen, Abbe´sche Gleichung, Förderliche und leere Vergrößerungen, Hellfeld- und Dunkelfeldmikroskopie 3. Materialographie: Wiederholung Gefügesichtbarmachung, Verfahren zur Bestimmung der Kontrastverbesserung, Verfahren zur Bestimmung der Kornverteilung, Anwendungsbeispiele 4. Rastersondenmikroskopie: Abbildungsprinzipien für atomare Auflösungen, Aufbau und Arbeitsweise Rastertunnelmikroskop, Aufbau und Arbeitsweise Rasterkraftmikroskop 5. Elektronenmikroskopie: Erzeugung hoch fokussierter Elektronenstrahlen (Kathoden, Linsen), Detektoren, Wechselwirkungskette (Sekundär, Rückstreuelektronen, Augerelektronen …), Bildaufbau im Elektronenmikroskop - Rasterelektronenmikroskopie - Verfahren, Sekundärelektronenverfahren, Rückstreuelektronenverfahren 6. Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenstrahl induzierte Röntgenstrahlung - Detektionsmöglichkeiten (EDX, WDX) - Detektoraufbau - qualitative und quantitative EDX 7. Zusammenfassung: Vergleich der Verfahren bezüglich Auflösung, Quantifizierbarkeit, Kosten, Probenanforderung

media of instruction and technical requirements for education and examination in case of online participationVorlesungsskript
Tafel / Whiteboard
Folien
Computer Demo
literature / references- Hunger, H.J.: Werkstoffanalytische Verfahren: eine Auswahl; 1. Auflage, Deutscher Verlag für
Grundstoffindustrie 1995
eine Auswahl; 1. Auflage, Deutscher Verlag für
Grundstoffindustrie 1995
- Reimer, l.: Scanning Electron Microscopy; 2.
Auflage, Springer Verlag 2008
- Reimer, L; Pfefferkorn, G.: Raster-
Elektronenmikroskopie; 2. Auflage, Springer Verlag 1977
- Schmidt, P. F.: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, expert-Verlag 1994
- Slayter, E.: Light and electron microscopy,
Cambridge Univ. Press 1992
- Schäfer; Terlecki: Halbleiterprüfung, Hüthig-
Verlag 1986
- Eggert, F.: Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse (mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop): Ein Handbuch für die Praxis (Taschenbuch); Books on Demand Gmbh; Auflage: 1 (Februar 2005); ISBN: 978-3833425998
- Reimer, l.: Scanning Electron Microscopy; 2. Auflage, Springer Verlag 1998
- Reimer, L; Pfefferkorn, G.: Raster-
Elektronenmikroskopie; 2. Auflage, Springer Verlag
1977
- Schmidt, P. F.: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, expert-Verlag 1994
- Slayter, E.: Light and electron microscopy, Cambridge Univ. Press 1992
- Riesebeck; Beyer, H.: Handbuch der Mikroskopie,
Verlag Technik Berlin 1988
- Schäfer; Terlecki: Halbleiterprüfung, Hüthig-Verlag 1986
evaluation of teaching

Pflichtevaluation:

Freiwillige Evaluation:

Hospitation:

Details reference subject
module nameImaging and analytical methods in Materials Science
examination number2100273
credit points3
SWS3
on-campus program (h)33.75
self-study (h)56.25
obligationobligatory module
examoral pass-fail certificate, 30 minutes
details of the certificate
alternative examination performance due to COVID-19 regulations incl. technical requirements
signup details for alternative examinations
maximum number of participants
Details in degree program Bachelor Werkstoffwissenschaft 2009, Bachelor Werkstoffwissenschaft 2011
module nameImaging and analytical methods in Materials Science
examination number2100273
credit points3
on-campus program (h)34
self-study (h)56
obligationelective module
examoral pass-fail certificate, 30 minutes
details of the certificate
alternative examination performance due to COVID-19 regulations incl. technical requirements
signup details for alternative examinations
maximum number of participants