Technische Universität Ilmenau

Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie - Modultafeln der TU Ilmenau

Die Modultafeln sind ein Informationsangebot zu unseren Studiengängen. Rechtlich verbindliche Angaben zum Verlauf des Studiums entnehmen Sie bitte dem jeweiligen Studienplan (Anlage zur Studienordnung). Bitte beachten Sie diesen rechtlichen Hinweis. Angaben zum Raum und Zeitpunkt der einzelnen Lehrveranstaltungen entnehmen Sie bitte dem aktuellen Vorlesungsverzeichnis.

Fachinformationen zu Fachnummer 9045 - allgemeine Informationen
Fachnummer9045
FakultätFakultät für Mathematik und Naturwissenschaften
Fachgebietsnummer2424 (Experimentalphysik I)
Fachverantwortliche(r)Prof. Dr. Jörg Kröger
SpracheDeutsch
TurnusSommersemester
Vorkenntnisse

Festkörperphysik 1, Experimentalphysik 1 und 2, Techniken der Oberflächenphysik, Oberflächen-und Grenzflächenphysik

Lernergebnisse

Die Studierenden erhalten einen detaillierten Einblick in Rastersondenverfahren, wobei der Schwerpunkt auf Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie liegt. Es versetzt die Studierenden in die Lage, die Herausforderungen solcher Experimente einzuschätzen.

Inhalt

Das Rastertunnelmikroskop revolutioniert unsere Vorstellung von Prozessen auf der atomaren Längenskala. Die Vorlesung behandelt vorwiegend experimentelle Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, -spektroskopie und der Rasterkraftmikroskopie. Es werden zunächst technische Voraussetzungen zum Betrieb eines Rastertunnelmikroskops diskutiert. Die Vorstellung unterschiedlicher Abbildungsmodi und Spektroskopiemethoden schließt sich an. Ein Schwerpunkt wird gelegt auf inelastische und spinaufgelöste Rastertunnelspektroskopie. Das Ziel der Vorlesung ist die Vermittlung der Grundlagen zu Rastersondenverfahren und der Ergebnisse aus der aktuellen Forschung.

Medienformen

Tafel, Computer-Präsentation

Literatur

R. Wiesendanger: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy (Cambridge University Press, 1998)

J. A. Stroscio, W. J. Kaiser (Ed.): Scanning Tunneling Microscopy (Academic Press, 1993)

C. J. Chen: Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford University Press, 2008)

D. Sarid: Scanning Force Microscopy (Oxford University Press, 1994)

H. J. Güntherodt, R. Wiesendanger (Ed.): Scanning Tunneling Microscopy I, II, III (Springer, 1991)

C. Bai: Scanning Tunneling Microscopy and its Application (Springer, 1992)

E. L. Wolf: Principles of Electron Tunneling Spectroscopy (Oxford University Press, 1989)

Lehrevaluation
Spezifik im Studiengang Master Technische Physik 2013
FachnameRastersondenmikroskopie und -spektroskopie
Prüfungsnummer2400416
Leistungspunkte3
Präsenzstudium (h)22
Selbststudium (h)68
VerpflichtungPflicht
Abschlusskeiner
Details zum Abschluss

Fach wird geprüft im Rahmen des Moduls

Anmeldemodalitäten für alt. Leistungen
max. Teilnehmerzahl100
Spezifik im Studiengang Master Technische Physik 2008, Master Technische Physik 2011
FachnameRastersondenmikroskopie und -spektroskopie
Prüfungsnummer2400416
Leistungspunkte
Präsenzstudium (h)
Selbststudium (h)
VerpflichtungPflicht
Abschlusskeiner
Details zum Abschluss

Fach wird geprüft im Rahmen des Moduls

Anmeldemodalitäten für alt. Leistungen
max. Teilnehmerzahl100

Informationen und Handreichungen zur Pflege von Modul- und Fachbeschreibungen durch den Modul- oder Fachverantwortlichen finden Sie auf den Infoseiten zum Modulkatalog.