Technische Universität Ilmenau

Spektroskopische Methoden - Modultafeln der TU Ilmenau

Die Modultafeln sind ein Informationsangebot zu unseren Studiengängen. Rechtlich verbindliche Angaben zum Verlauf des Studiums entnehmen Sie bitte dem jeweiligen Studienplan (Anlage zur Studienordnung). Bitte beachten Sie diesen rechtlichen Hinweis. Angaben zum Raum und Zeitpunkt der einzelnen Lehrveranstaltungen entnehmen Sie bitte dem aktuellen Vorlesungsverzeichnis.

Fachinformationen zu Spektroskopische Methoden im Studiengang Master Technische Physik 2011
Fachnummer9046
Prüfungsnummer2400417
Fakultät
Fachgebietsnummer 2422 (Technische Physik)
Fachverantwortliche(r)Prof. Dr. Stefan Krischok
TurnusWintersemester
SpracheDeutsch
Leistungspunkte3
Präsenzstudium (h)22
Selbststudium (h)68
VerpflichtungPflicht
Abschlusskeiner
Details zum Abschluss
max. Teilnehmerzahl
Vorkenntnisse

Elektrodynamik,
Atomphysik,
Festkörperphysik

Lernergebnisse

Die Studenten lernen in dieser VL moderne Methoden der Charakterisierung von Oberflächen und Dünnschichteigenschaften kennen. Dabei wird neben der Darstellung der physikalischen und experimentellen Voraussetzungen, Wert auf Gemeinsamkeiten und Unterschiede verschiedener Methoden und Ansätze in Bezug auf die Untersuchung struktureller und stoffbedingter Eigenschaften gelegt, sowie die jeweiligen Möglichkeiten und Grenzen diskutiert. Die Studenten werden dadurch in die Lage versetzt, einige dieser Methoden auf konkrete Fragestellungen anzuwenden und die für auftretende Herausforderungen in der Oberflächenanalytik jeweils am besten geeignete Technik auszuwählen und komplementäre Methoden voneinander abzugrenzen.

Inhalt

Elektronenspektroskopie für die Element- und Bindungsanalyse

Untersuchung elektronischer Eigenschaften durch Photonenanregung oder durch Anregung mit metastabilen Sondenteilchen

Schwingungsspektroskopie an Grenz- und Oberflächenflächen

Aufklärung der Struktur und Stöchiometrie durch Spektroskopie und Streuexperimente mit Ionen und Neutralteilchen

Massenspektrometrie für Desoptionsexperimente und Ionenabtrag

Optische Spektroskopie an Oberflächen

Medienformen

Tafel, Folien, Beamer, Bereitstellung von Folien zur Vorlesung

Literatur

K. Oura et al., Surface Science - an introduction, Springer

A. Zangwill, Physics at surfaces, Cambridge Univ. Press

H. Lüth, Surfaces and Interfaces of Solid Materials, Springer

M. Henzler und W. Göpel, Oberflächenphysik des Festkörpers, Teubner

W. Mönch, Semiconductor Surfaces and Interfaces, Springer

G. Ertl, J. Küppers, Low Energy Electrons and Surface Chemistry, VCH

G. Friedbacher,H. Bubert,H. Jenett, Surface and Thin Film Analysis:

A Compendium of Principles, Instrumentation and Applications, Wiley 

D.P. Woodruff, Modern techniques of surface science, Cambridge Univ. Press

J.C. Vickerman, The surface analysis: the principal techniques, Wiley

S. Hüfner, Photoelectron spectroscopy : principles and applications, Springer

M. Cardona, L. Ley, Photoemission in solids, Springer

D. Briggs, J.T. Grant , Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy, IM Publications

M. Grasserbauer, H.J. Dudek, M.F. Ebel, Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS, Akademie-Verlag Berlin

H. Ibach, D. L. Mills, Electron Energy Loss Spectroscopy and Surface Vibrations, Academic Press, London

G. Ertl, J. Küppers, Low Energy Electrons and Surface Chemistry, VCH Publishers

Lehrevaluation

Pflichtevaluation:

Freiwillige Evaluation:

WS 2014/15 (Vorlesung)

WS 2015/16 (Vorlesung)

 

Hospitation:

WS 2017/18

Informationen und Handreichungen zur Pflege von Modul- und Fachbeschreibungen durch den Modul- oder Fachverantwortlichen finden Sie auf den Infoseiten zum Modulkatalog.