Technische Universität Ilmenau

Bildgebende und analytische Verfahren - Modultafeln der TU Ilmenau

Die Modultafeln sind ein Informationsangebot zu den Studiengängen der TU Ilmenau.

Die rechtsverbindlichen Studienpläne entnehmen Sie bitte den jeweiligen Studien- und Prüfungsordnungen (Anlage Studienplan).

Alle Angaben zu geplanten Lehrveranstaltungen finden Sie im elektronischen Vorlesungsverzeichnis.

Informationen und Handreichungen zur Pflege von Modulbeschreibungen durch die Modulverantwortlichen finden Sie unter Modulpflege.

Hinweise zu fehlenden oder fehlerhaften Modulbeschreibungen senden Sie bitte direkt an modulkatalog@tu-ilmenau.de.

Modulinformationen zu Bildgebende und analytische Verfahren im Studiengang Bachelor Werkstoffwissenschaft 2009
Modulnummer6709
Prüfungsnummer2100273
FakultätFakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Fachgebietsnummer 2172 (Werkstoffe der Elektrotechnik)
Modulverantwortliche(r)Prof. Dr. Peter Schaaf
TurnusWintersemester
SpracheDeutsch
Leistungspunkte3
Präsenzstudium (h)34
Selbststudium (h)56
VerpflichtungWahlmodul
Abschlussmündliche Studienleistung, 30 Minuten
Details zum Abschluss
Alternative Abschlussform aufgrund verordneter Corona-Maßnahmen inkl. technischer Voraussetzungen
Anmeldemodalitäten für alternative PL oder SL
max. Teilnehmerzahl
Vorkenntnisse

Grundlagen Werkstoffwissenschaft, Kristallographie, Mathematik, Physik

Lernergebnisse und erworbene KompetenzenBewertung und Messung von Oberflächen vom technischem Bereich bis zur atomaren Auflösung kennen.
Es werden die Methoden Lichtmikroskopie, Elektronenmikroskopie und Rastersondenmikroskopie den Studenten vermittelt. Die Studenten sollen danach selbständig das passende Verfahren für ihre Anwendungen auswählen und anwenden können.
Inhalt

Dozent: Dr. Thomas Kups

1. Einleitung: Bereiche, wo bildgebende und analytischeVerfahren notwendig sind, Einteilung der Verfahren der Werkstoffdiagnose 2. Lichtmikroskopie: Auflösungsvermögen des Auges, scharfes Sehen, Abbe´sche Gleichung, Förderliche und leere Vergrößerungen, Hellfeld- und Dunkelfeldmikroskopie 3. Materialographie: Wiederholung Gefügesichtbarmachung, Verfahren zur Bestimmung der Kontrastverbesserung, Verfahren zur Bestimmung der Kornverteilung, Anwendungsbeispiele 4. Rastersondenmikroskopie: Abbildungsprinzipien für atomare Auflösungen, Aufbau und Arbeitsweise Rastertunnelmikroskop, Aufbau und Arbeitsweise Rasterkraftmikroskop 5. Elektronenmikroskopie: Erzeugung hoch fokussierter Elektronenstrahlen (Kathoden, Linsen), Detektoren, Wechselwirkungskette (Sekundär, Rückstreuelektronen, Augerelektronen …), Bildaufbau im Elektronenmikroskop - Rasterelektronenmikroskopie - Verfahren, Sekundärelektronenverfahren, Rückstreuelektronenverfahren 6. Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenstrahl induzierte Röntgenstrahlung - Detektionsmöglichkeiten (EDX, WDX) - Detektoraufbau - qualitative und quantitative EDX 7. Zusammenfassung: Vergleich der Verfahren bezüglich Auflösung, Quantifizierbarkeit, Kosten, Probenanforderung

Medienformen und technische Anforderungen bei Lehr- und Abschlussleistungen in elektronischer FormVorlesungsskript
Tafel / Whiteboard
Folien
Computer Demo
Literatur- Hunger, H.J.: Werkstoffanalytische Verfahren: eine Auswahl; 1. Auflage, Deutscher Verlag für
Grundstoffindustrie 1995
eine Auswahl; 1. Auflage, Deutscher Verlag für
Grundstoffindustrie 1995
- Reimer, l.: Scanning Electron Microscopy; 2.
Auflage, Springer Verlag 2008
- Reimer, L; Pfefferkorn, G.: Raster-
Elektronenmikroskopie; 2. Auflage, Springer Verlag 1977
- Schmidt, P. F.: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, expert-Verlag 1994
- Slayter, E.: Light and electron microscopy,
Cambridge Univ. Press 1992
- Schäfer; Terlecki: Halbleiterprüfung, Hüthig-
Verlag 1986
- Eggert, F.: Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse (mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop): Ein Handbuch für die Praxis (Taschenbuch); Books on Demand Gmbh; Auflage: 1 (Februar 2005); ISBN: 978-3833425998
- Reimer, l.: Scanning Electron Microscopy; 2. Auflage, Springer Verlag 1998
- Reimer, L; Pfefferkorn, G.: Raster-
Elektronenmikroskopie; 2. Auflage, Springer Verlag
1977
- Schmidt, P. F.: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, expert-Verlag 1994
- Slayter, E.: Light and electron microscopy, Cambridge Univ. Press 1992
- Riesebeck; Beyer, H.: Handbuch der Mikroskopie,
Verlag Technik Berlin 1988
- Schäfer; Terlecki: Halbleiterprüfung, Hüthig-Verlag 1986
Lehrevaluation

Pflichtevaluation:

Freiwillige Evaluation:

Hospitation: