Technische Universität Ilmenau

3D Materialanalytik - Modultafeln der TU Ilmenau

Die Modultafeln sind ein Informationsangebot zu unseren Studiengängen. Rechtlich verbindliche Angaben zum Verlauf des Studiums entnehmen Sie bitte dem jeweiligen Studienplan (Anlage zur Studienordnung). Bitte beachten Sie diesen rechtlichen Hinweis. Angaben zum Raum und Zeitpunkt der einzelnen Lehrveranstaltungen entnehmen Sie bitte dem aktuellen Vorlesungsverzeichnis.

Fachinformationen zu 3D Materialanalytik im Studiengang Master Werkstoffwissenschaft 2013
Fachnummer101365
Prüfungsnummer2100543
FakultätFakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Fachgebietsnummer2172
Fachverantwortliche(r)Prof. Dr. Peter Schaaf
TurnusWintersemester
SpracheDeutsch (bei Bedarf auch Englisch)
Leistungspunkte5
Präsenzstudium (h)45
Selbststudium (h)105
VerpflichtungWahlpflicht
Abschlussmündliche Prüfungsleistung, 30 Minuten
Details zum Abschluss

mündliche Prüfung 30 min

max. Teilnehmerzahl
Vorkenntnisse

Grundkenntnisse in Werkstoffwissenschaft, Physik und Chemie. Grundkenntnisse in der Materialanalytik.

Lernergebnisse

Die Studierenden lernen Methoden zur 3D-Materialanalyse kennen. Sie können die Vorraussetzung und die Bedingungen für solche Verfahren abschätzen und für spezielle Probleme die richtigen Methoden auswählen und anwenden.

Inhalt

Dozent: Dr. Thomas Kups

Inhalt:

- Einleitung Definitionen: Analytik, Verfahren, 3D

- Rastersondenmikroskopie

  • RTM, AFM, LFM, SNOM Arbeitsweise, Parameter, Anwendungsmöglichkeiten

- Elektronenmikroskopie

  • TEM Abbildungs- und Analysemodi: SAED, CBED, HRTEM, EDX, EELS; Kristallographische Analyse
  • REM SE, BSE, EDX, EBSD

- Ionenmikroskopie

  • Focussed Ion Beam (für EBSD)
  • Feldemissions- / Atomsondenmikroskopie

- 3D-Computertomographie

  • Arbeitsweisen, Bildrekonstruktion, Artefakte

Die Vorlesung wird ergänzt durch vorlesungsbegleitende Übungsaufgaben. 

Medienformen

PowerPoint-Präsentation, Tafelanschrieb, Animationen, Videos

Literatur

empfohlene Literatur (Auswahl):

  • O‘Connor, Sexton, Smart, „Surface Analysis Methods in Material Science“, Springer Verlag Berlin 2008, ISBN 3-540-41330-8
  • van Tendeloo, van Dyck, Pennycook (Hrsg.), Handbook of Nanoscopy, Wiley-VCH Verlag Weinheim, 2012, ISBN 978-3-527-31706-6
  • Bruce, O'Hare, Walton, Inorganic Materials Series – Multi Length-Scale Characterisation, Wiley-VCH Verlag Weinheim 2014, ISBN 978-1-118-94102-7
  • Bruce, O'Hare, Walton, Inorganic Materials Series – Local Structural Characterisaion, Wiley-VCH Verlag Weinheim 2014, ISBN 978-1-118-94102-7
  • Zhou, Wang (Eds.), „Scanning Microscopy for Nanotechnology - Techniques and Applications”, Springer-Verlag Berlin 2006, ISBN 978-0-387-33325-0
  • Morita, Wiesendanger, Meyer, „Noncontact Atomic Force Microscopy“, Springer Verlag Berlin 2002, ISBN 3-540-43117-9
  • Reimer,L. „Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis”, Springer Verlag Berlin 1986, ISBN 0-387-13530-8
  • Goldstein, „Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis”, Plenum Press New York 1992, ISBN 978-1-4612-7653-1
  • Bethge, Heidenreich, „Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik“ Springer Verlag Berlin, 1982 ISBN 3-540-11361-4
  • Williams, Carter, „Transmission Electron Microscopy“, Plenum Press New York 2009, ISBN 978-0-387-76500-6
  • Buzug, Th. M, Einführung in die Computertomographie - Mathematisch-physikalische Grundlagen der Bildrekonstruktion, Springer-Verlag Berlin 2004, ISBN 978-3-540-20808-2
Lehrevaluation

Informationen und Handreichungen zur Pflege von Modul- und Fachbeschreibungen durch den Modul- oder Fachverantwortlichen finden Sie auf den Infoseiten zum Modulkatalog.