HIWA - Hochgenaue interferometrische Winkelmessung mit Absolutfähigkeit für Industrie und Forschung

Projektlaufzeit: 01.07.2024 -30.06.2027
Projektleiter: Jun.-Prof. Dr. Thomas Kissinger

Förderprogramm: FTI-Thüringen TECHNOLOGIE: Thüringen MOTIVation – move to innovation
Förderkennzeichen: 2024 VFE 0026

Die Anforderungen an Genauigkeiten und an Zeitoptimierung bei der Herstellung, Abnahme oder Kalibrierung speziell von Koordinatenmessgeräten und Präzisionswerkzeugmaschinen sind in den letzten Jahren deutlich gestiegen. Sowohl beim Aufbau dieser Maschinen und Anlagen als auch bei abschließenden Abnahmen und Prüfungen werden Messsysteme eingesetzt, die geometrische Abweichungen beim Positionieren eines Messschlittens, eines Messkopfes oder eines Werkzeuges erfassen. Das Ziel dieses Projektvorhabens ist deshalb, die Mehrstrahlinterferometrie, die für die Abnahmemessungen an Koordinatenmessgeräten und Werkzeugmaschinen etabliert ist, durch eine Fähigkeit zur absoluten Messung soweit zu entwickeln, dass der komplette Herstellungsprozess eines hochgenauen Koordinatenmessgerätes oder einer Präzisionswerkzeugmaschine mit einem Gerät abgedeckt werden kann.

Damit wäre es möglich, die Qualitätssicherung des Gesamtherstellungsprozesses hochgenauer Anlagen durch ein schnelles und konsistentes Messinstrument zu gewährleisten und in der Herstellung Kosten und Zeit zu sparen.