Material Phases and there Analytics - Interactive curriculae of TU Ilmenau

Bachelorkenntnisse zu Werkstoffwissenschaft, Physik, Chemie. Basiswissen zu Werkstoffanalytik

Kenntnisse zu Festkörperphysik und Kristallographie.

Dozent: Dr. Thomas Kups

Fachkompetenz

Die Vorlesung wird durch eine Übung und ein Komplexpraktikum begleitet.

1. Einleitung und allgemeine Grundlagen

2. Rastersondenmikroskopie
    3.1. Einführung, Grundlagen
    3.2. Rastertunnelmikroskop
    3.3. Atomkraftmikroskop
    3.4. weitere Verfahren

3. Elektronen- und Ionenmikroskopie
    3.1. Einführung
    3.2. Transmissionselektronemmikroskopie (BF, DF, HRTEM, SAED, CBED)
    3.3. Rasterelektronenmikroskopie (SE, BSE)
    3.4. Analytische Elektronenmikroskopie (EDX, WDX, EELS)
    3.5. Ionenmikroskopie (FIB)

4. Verfahren zur Bestimmung thermischer Eigenschaften und -zustände
    4.1 Einleitung und Definitionen
    4.2 Light/Laser Flash Analyzer

5. Untersuchungen mittels Röntgenstrahlung
   6.1. Einführung
   6.2. Röntgenbeugung
   6.3. Radiographie
   6.4. Computer Tomographie

6. Zusammenfassung

Methodenkompetenz

Diskussion von Aufgaben und Problemstellungen in der Gruppe und Vorstellung von Lösungen.

Selbstkompetenz

Einschätzen der Eigenen Fähigkeiten und des eigenen Kenntnisstandes im Bereich der Werkstoffe.

Sozialkompetenz

Fähigkeit zur Diskussion und Lösung von Fragestellungen in der Gruppe. Einschätzen von Lösungsstrategien und Problemen.

Der moodle Kurs ist hier zu finden: https://moodle.tu-ilmenau.de/course/view.php?id=1066

Einschreibung startet am 1. April. Einschreibeschlüssel: "wza3D24"-

kurze Auswahl, nicht vollständig!

1. O‘Connor, Sexton, Smart, „Surface Analysis Methods in Material Science“, Springer Berlin 2008,
2. van Tendeloo, van Dyck, Pennycook (Hrsg.), Handbook of Nanoscopy, Wiley-VCH Weinheim, 2012,
3. Bruce, O'Hare, Walton, Inorganic Materials Series – Multi Length-Scale Characterisation, Wiley-VCH Weinheim 2014,
4. Garratt-Reed, Bell, „Energy Dispersive X-Ray Analysis“ Bios Scientific Publishers Ltd 2003,
5. Buzug, „Einführung in die Computertomographie - Mathematisch-physikalische Grundlagen der Bildrekonstruktion“, Springer Berlin 2004
6. Goldstein, „Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis”, Plenum Press New York 1992,
7. Bethge, Heidenreich, „Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik“ Springer Verlag Berlin, 1982
8. Hornbogen, Skrotzki, „Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe“, Springer Verlag Berlin, 2009,
9. Morita, Wiesendanger, Meyer, „Noncontact Atomic Force Microscopy“, Springer Verlag Berlin 2002,
10. Williams, Carter, „Transmission Electron Microscopy“, Plenum Press New York 2009
11. Reimer, „Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis”, Springer Verlag Berlin 1986, ISBN 0-387-13530-8
12. Zhou, Wang (Eds.), „Scanning Microscopy for Nanotechnology - Techniques and Applications”, Springer-Verlag Berlin 2006, ISBN 978-0-387-33325-0
13. Spieß, Teichert, Schwarzer, Behnken, Genzel: „Moderne Röntgenbeugung“, Springer, 2019
14. Allmann, Kern: „Röntgenpulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung“, 2. Aufl. Springer-Verlag, 2013
15. Pecharsky, V. K.; P. Y. Zavalij: “Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials”, Springer, Berlin, 2. Auflage, 2008
16. He: “Two-dimensional X-ray Diffraction”, John Wiley & Sons; 2018
17. Several Web resources: https://eels.info

schriftliche Prüfung von 90 Minuten Dauer (sPL90).

(falls coronabedingte Einschränkungen erfolgen: take home exam oder online-Klausur)

Dr. Thomas Kups