Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie - Interaktive Studienpläne der TU Ilmenau

Festkörperphysik 1, Experimentalphysik 1 und 2, Techniken der Oberflächenphysik, Oberflächen-und Grenzflächenphysik

Die Studierenden erhalten einen detaillierten Einblick in Rastersondenverfahren, wobei der Schwerpunkt auf Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie liegt. Es versetzt die Studierenden in die Lage, die Herausforderungen solcher Experimente einzuschätzen.

Das Rastertunnelmikroskop revolutioniert unsere Vorstellung von Prozessen auf der atomaren Längenskala. Die Vorlesung behandelt vorwiegend experimentelle Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, -spektroskopie und der Rasterkraftmikroskopie. Es werden zunächst technische Voraussetzungen zum Betrieb eines Rastertunnelmikroskops diskutiert. Die Vorstellung unterschiedlicher Abbildungsmodi und Spektroskopiemethoden schließt sich an. Ein Schwerpunkt wird gelegt auf inelastische und spinaufgelöste Rastertunnelspektroskopie. Das Ziel der Vorlesung ist die Vermittlung der Grundlagen zu Rastersondenverfahren und der Ergebnisse aus der aktuellen Forschung.

Tafel, Computer-Präsentation

R. Wiesendanger: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy (Cambridge University Press, 1998)

J. A. Stroscio, W. J. Kaiser (Ed.): Scanning Tunneling Microscopy (Academic Press, 1993)

C. J. Chen: Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford University Press, 2008)

D. Sarid: Scanning Force Microscopy (Oxford University Press, 1994)

H. J. Güntherodt, R. Wiesendanger (Ed.): Scanning Tunneling Microscopy I, II, III (Springer, 1991)

C. Bai: Scanning Tunneling Microscopy and its Application (Springer, 1992)

E. L. Wolf: Principles of Electron Tunneling Spectroscopy (Oxford University Press, 1989)

mündliche Prüfungsleistung, 45 Minuten

mündliche Prüfungsleistung, 45 Minuten