Technische Universität Ilmenau

Material states and material analysis - Interaktive Studienpläne der TU Ilmenau

Die Interaktiven Studienpläne sind ein Informationsangebot zu den Studiengängen der TU Ilmenau.

Die rechtsverbindlichen Studienpläne entnehmen Sie bitte den jeweiligen Studien- und Prüfungsordnungen (Anlage Studienplan).

Alle Angaben zu geplanten Lehrveranstaltungen finden Sie im elektronischen Vorlesungsverzeichnis.

Bitte beachten Sie, dass auf dieser Seite keine Aktualisierungen mehr vorgenommen werden. Alle Module und Studienpläne ab der PO-Version 2021 (Bachelor- und Master-Studiengänge) sind ab sofort im Campus-Portal erreichbar.

Modulinformationen zu Material states and material analysis im Studiengang Diplom Elektrotechnik und Informationstechnik 2017
Modulnummer101123
Prüfungsnummer2100569
FakultätFakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Fachgebietsnummer 2172 (Werkstoffe der Elektrotechnik)
Modulverantwortliche(r)Prof. Dr. Peter Schaaf
TurnusSommersemester
SpracheDeutsch
Leistungspunkte5
Präsenzstudium (h)45
Selbststudium (h)105
VerpflichtungWahlmodul
Abschlussschriftliche Prüfungsleistung, 90 Minuten
Details zum Abschluss
Link zum Moodle-Kurs
Lehrende

Dr. Thomas Kups

Anmeldemodalitäten für alternative PL oder SL
max. Teilnehmerzahl
Vorkenntnisse

Bachelorkenntnisse zu Werkstoffwissenschaft, Physik, Chemie. Basiswissen zu Werkstoffanalytik

Kenntnisse zu Festkörperphysik und Kristallographie.

Lernergebnisse und erworbene KompetenzenDie Studierenden lernen Methoden zur Bestimmung von Werkstoffstrukturdaten unter Anwendung von ionisierender Strahlung kennen. Die Besonderheiten beim Einsatz von Schichten werden verstärkt herausgearbeitet. Die Studierenden bewerten Werkstoffstrukturdaten in Abhängigkeit der Untersuchungsmethoden und der erhaltenen Strukturkenngrößen.
Die Studierenden können Diffraktogramme, die PDF-Datei und die Geräte prinzipell auswerten bzw. anwenden.
Das Fach vermittelt Fach-, Methoden- und Systemkompetenz.
Inhalt

Dozent: Dr. Thomas Kups

Fachkompetenz

Die Vorlesung wird durch eine Übung und ein Komplexpraktikum begleitet.

1. Einleitung und allgemeine Grundlagen

2. Rastersondenmikroskopie
    3.1. Einführung, Grundlagen
    3.2. Rastertunnelmikroskop
    3.3. Atomkraftmikroskop
    3.4. weitere Verfahren

3. Elektronen- und Ionenmikroskopie
    3.1. Einführung
    3.2. Transmissionselektronemmikroskopie (BF, DF, HRTEM, SAED, CBED)
    3.3. Rasterelektronenmikroskopie (SE, BSE)
    3.4. Analytische Elektronenmikroskopie (EDX, WDX, EELS)
    3.5. Ionenmikroskopie (FIB)

4. Verfahren zur Bestimmung thermischer Eigenschaften und -zustände
    4.1 Einleitung und Definitionen
    4.2 Light/Laser Flash Analyzer

5. Untersuchungen mittels Röntgenstrahlung
   6.1. Einführung
   6.2. Röntgenbeugung
   6.3. Radiographie
   6.4. Computer Tomographie

6. Zusammenfassung

 

Methodenkompetenz

Diskussion von Aufgaben und Problemstellungen in der Gruppe und Vorstellung von Lösungen.

Selbstkompetenz

Einschätzen der Eigenen Fähigkeiten und des eigenen Kenntnisstandes im Bereich der Werkstoffe.

Sozialkompetenz

Fähigkeit zur Diskussion und Lösung von Fragestellungen in der Gruppe. Einschätzen von Lösungsstrategien und Problemen.

 

Medienformen und technische Anforderungen bei Lehr- und Abschlussleistungen in elektronischer Form

Der moodle Kurs ist hier zu finden: https://moodle.tu-ilmenau.de/course/view.php?id=1066

Einschreibung startet am 1. April. Einschreibeschlüssel: "wza3D24"-

Literatur

kurze Auswahl, nicht vollständig!

  1. O‘Connor, Sexton, Smart, „Surface Analysis Methods in Material Science“, Springer Berlin 2008,
  2. van Tendeloo, van Dyck, Pennycook (Hrsg.), Handbook of Nanoscopy, Wiley-VCH Weinheim, 2012,
  3. Bruce, O'Hare, Walton, Inorganic Materials Series – Multi Length-Scale Characterisation, Wiley-VCH Weinheim 2014,
  4. Garratt-Reed, Bell, „Energy Dispersive X-Ray Analysis“ Bios Scientific Publishers Ltd 2003,
  5. Buzug, „Einführung in die Computertomographie - Mathematisch-physikalische Grundlagen der Bildrekonstruktion“, Springer Berlin 2004
  6. Goldstein, „Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis”, Plenum Press New York 1992,
  7. Bethge, Heidenreich, „Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik“ Springer Verlag Berlin, 1982
  8. Hornbogen, Skrotzki, „Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe“, Springer Verlag Berlin, 2009,
  9. Morita, Wiesendanger, Meyer, „Noncontact Atomic Force Microscopy“, Springer Verlag Berlin 2002,
  10. Williams, Carter, „Transmission Electron Microscopy“, Plenum Press New York 2009
  11. Reimer, „Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis”, Springer Verlag Berlin 1986, ISBN 0-387-13530-8
  12. Zhou, Wang (Eds.), „Scanning Microscopy for Nanotechnology - Techniques and Applications”, Springer-Verlag Berlin 2006, ISBN 978-0-387-33325-0
  13. Spieß, Teichert, Schwarzer, Behnken, Genzel: „Moderne Röntgenbeugung“, Springer, 2019
  14. Allmann, Kern: „Röntgenpulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung“, 2. Aufl. Springer-Verlag, 2013
  15. Pecharsky, V. K.; P. Y. Zavalij: “Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials”, Springer, Berlin, 2. Auflage, 2008
  16. He: “Two-dimensional X-ray Diffraction”, John Wiley & Sons; 2018
  17. Several Web resources: https://eels.info
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