Technische Universität Ilmenau

Material states and material analysis - Modultafeln der TU Ilmenau

Die Modultafeln sind ein Informationsangebot zu den Studiengängen der TU Ilmenau.

Die rechtsverbindlichen Studienpläne entnehmen Sie bitte den jeweiligen Studien- und Prüfungsordnungen (Anlage Studienplan).

Alle Angaben zu geplanten Lehrveranstaltungen finden Sie im elektronischen Vorlesungsverzeichnis.

Informationen und Handreichungen zur Pflege von Modulbeschreibungen durch die Modulverantwortlichen finden Sie unter Modulpflege.

Hinweise zu fehlenden oder fehlerhaften Modulbeschreibungen senden Sie bitte direkt an modulkatalog@tu-ilmenau.de.

Modulinformationen zu Material states and material analysis im Studiengang Diplom Elektrotechnik und Informationstechnik 2017
Modulnummer101123
Prüfungsnummer2100569
FakultätFakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Fachgebietsnummer 2172 (Werkstoffe der Elektrotechnik)
Modulverantwortliche(r)Prof. Dr. Peter Schaaf
TurnusSommersemester
SpracheDeutsch
Leistungspunkte5
Präsenzstudium (h)45
Selbststudium (h)105
VerpflichtungWahlmodul
Abschlussschriftliche Prüfungsleistung, 90 Minuten
Details zum Abschluss
Anmeldemodalitäten für alternative PL oder SL
max. Teilnehmerzahl
Vorkenntnisse

Kenntnisse aus dem Bachelor WSW oder äquivalente Kenntnisse.

Lernergebnisse und erworbene KompetenzenDie Studierenden lernen Methoden zur Bestimmung von Werkstoffstrukturdaten unter Anwendung von ionisierender Strahlung kennen. Die Besonderheiten beim Einsatz von Schichten werden verstärkt herausgearbeitet. Die Studierenden bewerten Werkstoffstrukturdaten in Abhängigkeit der Untersuchungsmethoden und der erhaltenen Strukturkenngrößen.
Die Studierenden können Diffraktogramme, die PDF-Datei und die Geräte prinzipell auswerten bzw. anwenden.
Das Fach vermittelt Fach-, Methoden- und Systemkompetenz.
Inhalt<p><strong>Dozent: Prof. Dr. Lothar Spieß</strong></p><ol><li><strong>Einleitung – Werkstoffzustände</strong></li><li><strong>Arten, Eigenschaften und Wechselwirkung von Strahlung</strong></li><li><strong>Ausgewählte Detektoren für Strahlung</strong></li><li><strong>Radiographische Verfahren </strong></li><li><strong>Röntgenbeugungsverfahren                     </strong><ol start="5"><li><strong>Bragg-Brentano-Verfahren – qualitative Phasenanalyse</strong></li><li><strong>Röntgenoptiken und Verfahren damit</strong></li><li><strong>quantitative Phasenanalyse, Zellparameterbestimmung</strong></li><li><strong>röntgenografische  Texturanalyse</strong></li><li><strong>röntgenografische Spannungsanalyse</strong></li><li><strong>Superlattices, HRXRD, Einkristallverfahren</strong></li></ol></li><li><strong>Schichtdickenmessverfahren</strong><ol start="6"><li><strong>mit radioaktiven Strahlern</strong></li><li><strong>Röntgen-Reflektometrie</strong></li></ol></li><li><strong>Zusammenfassung</strong></li></ol><p>Die Vorlesung wird durch eine Übung, teilweise unter Nutzung von Gerätevorführungen begleitet.</p>
Medienformen

Vorlesungsscript, Lehrbuch Nr. 1; Übung im RTK mit kompexer Lösung einer Aufgabenstellung aus den Gebieten der Radiographie und der Auswertung von Röntgenbeugungsexperimenten

moodle Kurs:

https://moodle2.tu-ilmenau.de/enrol/index.php?id=1634 

Einschreibeschlüssel hier: https://wwwalt.tu-ilmenau.de/wt-wet/lehre/e-learning-vorlesungen-ss-2021/ oder per e-mail an wet@tu-ilmenau.de .

Literatur

kurze Auswahl, nicht vollständig!

  1. Spieß, L.; Teichert, G.; Schwarzer, R.; Behnken, H.; Genzel, Ch. Moderne Röntgenbeugung, 3. Auflage Springer 2019, 635 S.
  2. Allmann, R.; Kern, A.: Röntgenpulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung, 2. Aufl. Springer-Verlag, 2013 unv.
  3. Krieger, H.: Grundlagen der Strahlungsphysik und des Strahlenschutzes, 5. Aufl. Springer Spektrum, 2017
  4. Pecharsky, V. K.; P. Y. Zavalij: Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer, Berlin, 2. Auflage, 2008
  5. He, B. B.:Two-dimensional X-ray Diffraction , John Wiley & Sons; 2. Auflage, 2018
  6. Benediktovich, A.; Feranchuk, I.; Ulyanenkov, A.: Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis, Springer 2014
  7. R. E. Dinnebier; A. Leineweber; J. Evans: Rietveld Refinement, De Gryter, 2019
  8. Hornbogen, E.; Skrotzky, B.: Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe, 3. Auflage, Springer, 2009
  9. Schumann, H.; Oettel, H.: Metallographie, 14. neubearb. Aufl., Wiley-VCH, 2004
  10. Werkstoffwissenschaft, 9. Aufl., (Herausg.: W.Schatt, H. Worch),  Wiley-VCH, 2003
  11. Werkstoffprüfung /Herausg.: H. Blumenauer.- 6., stark überarb. und erw. Aufl.- Leipzig; Stuttgart: Dt. Verlag für Grundstoffindustrie, 1994
  12. Werkstoffanalytische Verfahren /Herausg.: H.-J. Hunger.- 1. Aufl.- Leipzig; Stuttgart: Dt. Verlag für Grundstoffindustrie, 1995
Lehrevaluation

Pflichtevaluation:

Freiwillige Evaluation:

Hospitation: