Technische Universität Ilmenau

Material states and material analysis - Interactive curriculae of TU Ilmenau

The interactive curriculae provide information on the degree programmes offered by the TU Ilmenau.

Please refer to the respective study and examination rules and regulations for the legally binding curricula (Annex Curriculum).

You can find all details on planned lectures and classes in the course catalogue.

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module properties Material states and material analysis in degree program Diplom Elektrotechnik und Informationstechnik 2017
module number101123
examination number2100569
departmentDepartment of Electrical Engineering and Information Technology
ID of group 2172 (Materials for Electrical Engineering and Electronics)
module leaderProf. Dr. Peter Schaaf
term summer term only
languageDeutsch
credit points5
on-campus program (h)45
self-study (h)105
obligationelective module
examwritten examination performance, 90 minutes
details of the certificate
link to Moodle course
teacher

Dr. Thomas Kups

signup details for alternative examinations
maximum number of participants
previous knowledge and experience

Bachelorkenntnisse zu Werkstoffwissenschaft, Physik, Chemie. Basiswissen zu Werkstoffanalytik

Kenntnisse zu Festkörperphysik und Kristallographie.

learning outcomeDie Studierenden lernen Methoden zur Bestimmung von Werkstoffstrukturdaten unter Anwendung von ionisierender Strahlung kennen. Die Besonderheiten beim Einsatz von Schichten werden verstärkt herausgearbeitet. Die Studierenden bewerten Werkstoffstrukturdaten in Abhängigkeit der Untersuchungsmethoden und der erhaltenen Strukturkenngrößen.
Die Studierenden können Diffraktogramme, die PDF-Datei und die Geräte prinzipell auswerten bzw. anwenden.
Das Fach vermittelt Fach-, Methoden- und Systemkompetenz.
content

Dozent: Dr. Thomas Kups

Fachkompetenz

Die Vorlesung wird durch eine Übung und ein Komplexpraktikum begleitet.

1. Einleitung und allgemeine Grundlagen

2. Rastersondenmikroskopie
    3.1. Einführung, Grundlagen
    3.2. Rastertunnelmikroskop
    3.3. Atomkraftmikroskop
    3.4. weitere Verfahren

3. Elektronen- und Ionenmikroskopie
    3.1. Einführung
    3.2. Transmissionselektronemmikroskopie (BF, DF, HRTEM, SAED, CBED)
    3.3. Rasterelektronenmikroskopie (SE, BSE)
    3.4. Analytische Elektronenmikroskopie (EDX, WDX, EELS)
    3.5. Ionenmikroskopie (FIB)

4. Verfahren zur Bestimmung thermischer Eigenschaften und -zustände
    4.1 Einleitung und Definitionen
    4.2 Light/Laser Flash Analyzer

5. Untersuchungen mittels Röntgenstrahlung
   6.1. Einführung
   6.2. Röntgenbeugung
   6.3. Radiographie
   6.4. Computer Tomographie

6. Zusammenfassung

 

Methodenkompetenz

Diskussion von Aufgaben und Problemstellungen in der Gruppe und Vorstellung von Lösungen.

Selbstkompetenz

Einschätzen der Eigenen Fähigkeiten und des eigenen Kenntnisstandes im Bereich der Werkstoffe.

Sozialkompetenz

Fähigkeit zur Diskussion und Lösung von Fragestellungen in der Gruppe. Einschätzen von Lösungsstrategien und Problemen.

 

media of instruction and technical requirements for education and examination in case of online participation

Der moodle Kurs ist hier zu finden: https://moodle.tu-ilmenau.de/course/view.php?id=1066

Einschreibung startet am 1. April. Einschreibeschlüssel: "wza3D24"-

literature / references

kurze Auswahl, nicht vollständig!

  1. O‘Connor, Sexton, Smart, „Surface Analysis Methods in Material Science“, Springer Berlin 2008,
  2. van Tendeloo, van Dyck, Pennycook (Hrsg.), Handbook of Nanoscopy, Wiley-VCH Weinheim, 2012,
  3. Bruce, O'Hare, Walton, Inorganic Materials Series – Multi Length-Scale Characterisation, Wiley-VCH Weinheim 2014,
  4. Garratt-Reed, Bell, „Energy Dispersive X-Ray Analysis“ Bios Scientific Publishers Ltd 2003,
  5. Buzug, „Einführung in die Computertomographie - Mathematisch-physikalische Grundlagen der Bildrekonstruktion“, Springer Berlin 2004
  6. Goldstein, „Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis”, Plenum Press New York 1992,
  7. Bethge, Heidenreich, „Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik“ Springer Verlag Berlin, 1982
  8. Hornbogen, Skrotzki, „Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe“, Springer Verlag Berlin, 2009,
  9. Morita, Wiesendanger, Meyer, „Noncontact Atomic Force Microscopy“, Springer Verlag Berlin 2002,
  10. Williams, Carter, „Transmission Electron Microscopy“, Plenum Press New York 2009
  11. Reimer, „Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis”, Springer Verlag Berlin 1986, ISBN 0-387-13530-8
  12. Zhou, Wang (Eds.), „Scanning Microscopy for Nanotechnology - Techniques and Applications”, Springer-Verlag Berlin 2006, ISBN 978-0-387-33325-0
  13. Spieß, Teichert, Schwarzer, Behnken, Genzel: „Moderne Röntgenbeugung“, Springer, 2019
  14. Allmann, Kern: „Röntgenpulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung“, 2. Aufl. Springer-Verlag, 2013
  15. Pecharsky, V. K.; P. Y. Zavalij: “Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials”, Springer, Berlin, 2. Auflage, 2008
  16. He: “Two-dimensional X-ray Diffraction”, John Wiley & Sons; 2018
  17. Several Web resources: https://eels.info
evaluation of teaching