Technische Universität Ilmenau

Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie - Modultafeln der TU Ilmenau

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Fachinformationen zu Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie im Studiengang Master Technische Physik 2013
Fachnummer9045
Prüfungsnummer2400416
FakultätFakultät für Mathematik und Naturwissenschaften
Fachgebietsnummer 2424 (Experimentalphysik I)
Fachverantwortliche(r)Prof. Dr. Jörg Kröger
TurnusSommersemester
SpracheDeutsch
Leistungspunkte3
Präsenzstudium (h)22
Selbststudium (h)68
VerpflichtungPflicht
Abschlusskeiner
Details zum Abschluss

Fach wird geprüft im Rahmen des Moduls

Anmeldemodalitäten für alternative PL oder SL
max. Teilnehmerzahl100
Vorkenntnisse

Festkörperphysik 1, Experimentalphysik 1 und 2, Techniken der Oberflächenphysik, Oberflächen-und Grenzflächenphysik

Lernergebnisse

Die Studierenden erhalten einen detaillierten Einblick in Rastersondenverfahren, wobei der Schwerpunkt auf Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie liegt. Es versetzt die Studierenden in die Lage, die Herausforderungen solcher Experimente einzuschätzen.

Inhalt

Das Rastertunnelmikroskop revolutioniert unsere Vorstellung von Prozessen auf der atomaren Längenskala. Die Vorlesung behandelt vorwiegend experimentelle Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, -spektroskopie und der Rasterkraftmikroskopie. Es werden zunächst technische Voraussetzungen zum Betrieb eines Rastertunnelmikroskops diskutiert. Die Vorstellung unterschiedlicher Abbildungsmodi und Spektroskopiemethoden schließt sich an. Ein Schwerpunkt wird gelegt auf inelastische und spinaufgelöste Rastertunnelspektroskopie. Das Ziel der Vorlesung ist die Vermittlung der Grundlagen zu Rastersondenverfahren und der Ergebnisse aus der aktuellen Forschung.

Medienformen

Tafel, Computer-Präsentation

Literatur

R. Wiesendanger: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy (Cambridge University Press, 1998)

J. A. Stroscio, W. J. Kaiser (Ed.): Scanning Tunneling Microscopy (Academic Press, 1993)

C. J. Chen: Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford University Press, 2008)

D. Sarid: Scanning Force Microscopy (Oxford University Press, 1994)

H. J. Güntherodt, R. Wiesendanger (Ed.): Scanning Tunneling Microscopy I, II, III (Springer, 1991)

C. Bai: Scanning Tunneling Microscopy and its Application (Springer, 1992)

E. L. Wolf: Principles of Electron Tunneling Spectroscopy (Oxford University Press, 1989)

Lehrevaluation

Informationen und Handreichungen zur Pflege von Modul- und Fachbeschreibungen durch den Modul- oder Fachverantwortlichen finden Sie auf den Infoseiten zum Modulkatalog.