Technische Universität Ilmenau

Spectroscopic Diagnostic Methods - Interaktive Studienpläne der TU Ilmenau

Die Interaktiven Studienpläne sind ein Informationsangebot zu den Studiengängen der TU Ilmenau.

Die rechtsverbindlichen Studienpläne entnehmen Sie bitte den jeweiligen Studien- und Prüfungsordnungen (Anlage Studienplan).

Alle Angaben zu geplanten Lehrveranstaltungen finden Sie im elektronischen Vorlesungsverzeichnis.

Bitte beachten Sie, dass auf dieser Seite keine Aktualisierungen mehr vorgenommen werden. Alle Module und Studienpläne ab der PO-Version 2021 (Bachelor- und Master-Studiengänge) sind ab sofort im Campus-Portal erreichbar.

Modulinformationen zu Spectroscopic Diagnostic Methods im Studiengang Master Technische Physik 2023
Modulnummer201150
Prüfungsnummer2400878
FakultätFakultät für Mathematik und Naturwissenschaften
Fachgebietsnummer 2422 (Technische Physik)
Modulverantwortliche(r)Prof. Dr. Stefan Krischok
TurnusWintersemester
SpracheEnglisch
Leistungspunkte3
Präsenzstudium (h)22
Selbststudium (h)68
VerpflichtungWahlmodul
Abschlussmündliche Studienleistung, 30 Minuten
Details zum Abschluss

Die mündliche Prüfung erstreckt sich über den Inhalt der Vorlesung. 

Link zum Moodle-Kurs
LehrendeProf. Dr. Stefan Krischok
Anmeldemodalitäten für alternative PL oder SL
max. Teilnehmerzahl
VorkenntnisseElektrodynamik, Festkörperphysik, Atomphysik
Lernergebnisse und erworbene KompetenzenThe students have learned basic methods to characterize
and analyze surfaces and interfaces.  Besides the knowledge of physical
and experimental principles, the students are able to evaluate common
aspects as well as differences of the methods.  Opportunities and
limitations of the individual techniques are clear to the students,
which enables them to choose the most appropriate combination of methods
in order to answer scientific questions in surface and interface
analytics.
InhaltElectron spectroscopy for element and bonding analysis;
Study of electronic properties by  excitation with photons or
metastable probe particles; Vibrational spectroscopy of surfaces and
interfaces; Characterization of structure and stoichiometry by
scattering and spectroscopy of ions and neutral atoms; Mass spectrometry
for desorption experiments and ion abrasion; Optical spectroscopy of
surfaces
Medienformen und technische Anforderungen bei Lehr- und Abschlussleistungen in elektronischer FormTafel, Computerpräsentation
LiteraturK. Oura et al., Surface Science - an introduction,
Springer; A. Zangwill, Physics at surfaces, Cambridge Univ. Press; H.
Lüth, Surfaces and Interfaces of Solid Materials, Springer; M. Henzler
und W. Göpel, Oberflächenphysik des Festkörpers, Teubner; W. Mönch,
Semiconductor Surfaces and Interfaces, Springer; G. Ertl, J. Küppers,
Low Energy Electrons and Surface Chemistry, VCH; G. Friedbacher,H.
Bubert,H. Jenett, Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of
Principles, Instrumentation and Applications, Wiley; D.P. Woodruff,
Modern techniques of surface science, Cambridge Univ. Press; J.C.
Vickerman, The surface analysis: the principal techniques, Wiley; S.
Hüfner, Photoelectron spectroscopy : principles and applications,
Springer; M. Cardona, L. Ley, Photoemission in solids, Springer; D.
Briggs, J.T. Grant , Surface analysis by Auger and X-ray photoelectron
spectroscopy, IM Publications; M. Grasserbauer, H.J. Dudek, M.F. Ebel,
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS, Akademie-Verlag
Berlin; H. Ibach, D. L. Mills, Electron Energy Loss Spectroscopy and
Surface Vibrations, Academic Press, London; G. Ertl, J. Küppers, Low
Energy Electrons and Surface Chemistry, VCH Publishers
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