Complex material analysis of a TiC coating produced by hot pressing with optical light microscopy, EDS, XRD, GDOES and EBSD. - In: Surface and coatings technology, ISSN 1879-3347, Bd. 476 (2024), 130265, S. 1-11
The present study investigates the interface between carbon steel and titanium samples annealed at different temperatures (ϑ1 = Image 1 and ϑ2 = Image 2). In both cases, an observable layer forms at the interface, with its thickness increasing from tϑ1 = 2.75 ± Image 3 at Image 1 to tϑ2 = 8.86 ± Image 4 at Image 2. The layer's composition and thickness evolve with temperature. Analysis reveals approximately 40 at.-% carbon concentration in the exterior region, indicating likely titanium carbide creation. X-ray diffraction identifies titanium carbide peaks, while microscopy and elemental mapping confirm compositional gradients at the interface. Electron Backscatter Diffraction (EBSD) shows a gradient in grain size near the TiC surface, reflecting TiC nucleation rates. XRD data detect both titanium carbide and titanium phases, with TiC becoming more prominent at Image 2. Rietveld analysis further confirms TiC formation. Notably, distinct diffraction patterns on the contact and rear sides suggest a Ti(C, O, N) presence. Depth profiles exhibit varying surface and depth carbon concentrations, attributed to temperature effects. The study successfully demonstrates TiC coating fabrication through hot pressing, wherein Ti(C, O, N) coatings arise from titanium's affinity for reacting with oxygen and nitrogen. This research contributes to the understanding of phase transformations and interfacial properties in titanium-carbon steel systems.
https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2023.130265
Preparation and gas-sensing properties of very thin sputtered NiO films. - In: Journal of electrical engineering, ISSN 1339-309X, Bd. 72 (2021), 1, S. 61-65
We present results on very thin NiO films which are able to detect 3 ppm of acetone, toluene and n-butyl acetate in synthetic air and to operate at 300˚C. NiO films with 25 and 50 nm thicknesses were prepared by dc reactive magnetron sputtering on alumina substrates previously coated by Pt layers as heater and as interdigitated electrodes. Annealed NiO films are indexed to the (fcc) crystalline structure of NiO and their calculated grain sizes are in the range from 22 to 27 nm. Surface morphology of the examined samples was influenced by a rough and compact granular structure of alumina substrate. Nanoporous NiO film is formed by an agglomeration of small grains with different shapes while they are created on every alumina grain.
https://doi.org/10.2478/jee-2021-0009
Layered WS2 thin films prepared by sulfurization of sputtered W films. - In: Applied surface science, Bd. 544 (2021), 148719
Im Titel ist "2" tiefgestellt
We present structural, optical and electrical investigations of layered WS2 films prepared on tungsten. A two-step technique has been used to synthesize layered WS2 films using sulfurization of W films sputtered with thinner (1 and 2 nm) and thicker (14 and 28 nm) thicknesses at 800 ˚C. XRD analysis revealed that the examined films are polycrystalline with texture and have a 2H-WS2 hexagonal microstructure. Using Raman spectroscopy with the 532 nm laser excitation, the presence of E12g and A1g vibration modes was observed and the layered nature of WS2 was confirmed. FE SEM observations showed two different surface morphologies. The samples grown on thinner W films were not compact over the surface and agglomeration of nanosize grains in combination of triangles and flakes was visible. In another group the surface was lamellar and contained plenty of nanorods embedded vertically and/or inclined at different angles to the surface. Layered WS2 films exhibited a direct band gap in the range of 2.1-2.5 eV and they were n-type semiconductors with the sheet resistance in the order of several MΩ at room temperature.
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.148719
A method to approach constant isotropic permeabilities and demagnetization factors of magneto-rheological elastomers. - In: Journal of magnetism and magnetic materials, ISSN 1873-4766, Bd. 527 (2021), 167742
The use of non-conventional materials is nowadays of much interest in scientific community. Magneto-rheological elastomers are hybrid materials, which in presence of magnetic fields state a change in their mechanical properties. They are composed by an elastomeric matrix with embedded magnetic particles. One of the most attractive features of these materials is that as soon as the magnetic field is removed from the material, the original mechanical properties are completely recovered, with negligible differences in comparison to the original state. This paper focuses on the study of magnetic characteristics of these smart materials, such as relative permeability and demagnetizing factors, for samples with different volume concentration of ferromagnetic particles.
https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2021.167742
Effect of thermoplastic morphology on mechanical properties in laser-assisted joining of polyamide 6 with aluminum. - In: Welding in the world, ISSN 1878-6669, Bd. 65 (2021), 4, S. 699-711
This paper examined the joining zone between semi-crystalline polyamide 6 and aluminum EN AW 6082 in laser-based joining and evaluated the mechanical properties of the joint. The joint tests were carried out in overlap configuration and a characterized in terms of energy per unit length. The mechanical properties were examined to the point of cohesive failure. An increasing energy per unit length resulted in a reduced crosshead displacement in short-term testing and a decreased fatigue strength. Further material testing was carried out locally at various positions within the joining zone. The mechanical properties were correlated with results of a hardness test, thermoplastic morphology, differential scanning calorimetry (DSC), and X-ray diffraction (XRD). By combining the findings with heat-treated samples at elevated temperatures, secondary crystallization was identified and evidenced as a primary effect among the changes in mechanical properties due to the heat treatment of the thermoplastic material.
https://doi.org/10.1007/s40194-020-01048-1
Structural and morphological evaluation of layered WS2 thin films. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 179 (2020), 109570
Im Titel ist "2" tiefgestellt
https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2020.109570
Nanostructured boron doped diamond enhancing the photoelectrochemical performance of TiO2/BDD heterojunction anodes. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Volume 171 (2020), 109006, Seite 1-5
Im Titel ist "2" tiefgestellt
https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2019.109006
Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
3., überarbeitete Auflage. - Wiesbaden : Springer Spektrum, 2019. - 1 Online-Ressource (XVI, 635 Seiten). - (Springer eBooks) ISBN 978-3-8348-8232-5
Einleitung -- Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung -- Beugung von Röntgenstrahlung -- Hardware für die Röntgenbeugung -- Methoden der Röntgenbeugung -- Phasenanalyse -- Zellparameterbestimmung -- Mathematische Beschreibung von Röntgenbeugungsdiagrammen -- Kristallstrukturanalyse -- Röntgenographische Spannungsanalyse -- Röntgenographische Texturanalyse -- Bestimmung der Kristallorientierung -- Untersuchungen an dünnen Schichten -- Spezielle Verfahren -- Komplexe Anwendung -- Zusammenfassung -- Lösung der Aufgaben
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8232-5
Characterization of the joining zone in laser direct joining between thermoplastics and metals. - In: Hybrid Materials and Structures, (2018), S. 210-215
https://edocs.tib.eu/files/e01fn18/1017765650.pdf
Bearbeitungszustände sind zerstörungsfrei mit der Röntgendiffraktometrie analysierbar. - In: DGZfP-Jahrestagung 2018, (2018), S. 1-8
Structural and optical properties of WS2 prepared using sulfurization of different thick sputtered tungsten films. - In: Applied surface science, Bd. 461 (2018), S. 133-138
Im Titel ist "2" tiefgestellt
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2018.05.209
Sensor technologies for enhanced safety and security of buildings and its occupants (SafeSens) : Teilprojekt: Strukturanalytik und Demonstrator an Metalloxiden für die Gasanalyse (SADMOX) : Abschlußbericht : Projektbeginn: 01.04.2014, Förderzeitraum: 01.07.2014-31.03.2017, Projektende: 30.11.2017. - [Ilmenau] : [Technische Universität Ilmenau (TUIL), Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Institut für Werkstofftechnik, Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik]. - 1 Online-Ressource (211 Seiten, 49,52 MB)Förderkennzeichen BMBF 16ES0226. - Verbund-Nummer 01152795
https://doi.org/10.2314/GBV:1026691850
Bestimmung von Presskräften mittels Ultraschall : (Impuls-Echo-Verfahren). - In: ZfP-Zeitung, ISSN 1616-069X, Bd. 153 (2017), S. 33-35
The effect of process parameters and annealing on the properties of Ti/Pt films for miniature temperature sensors. - In: ASDAM 2016, ISBN 978-1-5090-3083-5, (2016), S. 85-88
https://doi.org/10.1109/ASDAM.2016.7805901
Only the combination of different NDT methods of material characterization is the key to success. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 21 (2016), 7, WCNDT 2016, Session: Materials Characterisation, insges. 6 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200173
Bestimmung von Werkstoffkennwerte mit dem Ultraschallverfahren - Anwendung auf weitere Werkstoffgruppen. - In: DACH-Jahrestagung 2015, ISBN 978-3-940283-68-9, (2015), insges. 5 S.
Poster 22
Bestimmung von Werkstoffkennwerten mit Ultraschallverfahren - ist der "Goldbarren" echt?. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 20 (2015), 3, DGZfP 2014, Session: Ultraschallverfahren (UT), Poster 50, insges. 7 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016102504
Partnerschaft 1 - Institut für Werkstofftechnik, Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik (TU Ilmenau) und Institut für Elektronik und Photonik, Lehrstuhl Mikroelektronik (STU Bratislava). - In: Retrospektive 50 Jahre Zusammenarbeit Slowakische Technische Universität Bratislava - Technische Universität Ilmenau, (2015), S. 13-37
Grundlegende Betrachtungen zur Umsetzung der EU-Richtlinie 2013/59 : "Schutz vor den Gefahren einer Exposition gegenüber ionisierender Strahlung" aus der Sicht der Ausbildung und Industrie. - Saarbrücken : Südwestdt. Verl. für Hochschulschriften, 2015. - VI, 131 S.Literaturverz. S. 127 - 131
"Röntgen" kann noch mehr. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 19 (2014), 3, DGZfP 2013, Session: Materialcharakterisierung, Di.2.C.1, insges. 8 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200227
Zerstörungsfreie Charakterisierung mechanischer Eigenschaften von hartstoffpartikelhaltigen Passivierungsschichten auf galvanischen Zink- und Zinklegierungsschichten. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 19 (2014), 3, DGZfP 2013, Session: Korrosion, Mi.3.B.2, insges. 8 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016102106
Sputtered nanocrystalline NiO thin films for very low ethanol detection. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 107 (2014), S. 129-131
http://dx.doi.org/10.1016/j.vacuum.2014.04.012
Materialcharakterisierung an Messing-Legierungen, Computertomographie zur Gefügebeurteilung. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 18 (2013), 5, DGZfP 2012, Session: Materialcharakterisierung, Poster 20, insges. 7 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121
Zerstörungsfreie Materialuntersuchungen an einem Pferdemaulkorb aus dem Jahr 1597 aus dem Angermuseum Erfurt. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 18 (2013), 5, DGZfP 2012, Session: Materialcharakterisierung, Di.1.C.1, insges. 8 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200205
Sensorschichten - Ergebnisse methodischer Werkstoffuntersuchungen. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 61-66
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Strahlungsanwendung in der Technik : technische Entwicklung macht Korrektur von StrlSchV, RöV und nachgelagerter Richtlinien notwendig. - In: Strahlenschutz-Praxis, ISSN 0947-434X, Bd. 19 (2013), 1, S. 34-37
Facets of protein assembly on nanostructured titanium oxide surfaces. - In: Acta biomaterialia, ISSN 1878-7568, Bd. 9 (2013), 3, S. 5810-5820
https://doi.org/10.1016/j.actbio.2012.10.045
Sputtered TiO 2 thin films with NiO additives for hydrogen detection. - In: Applied surface science, Bd. 269 (2013), S. 110-115
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.09.061
Sputtered ITO for application in thin-film silicon solar cells: relationship between structural and electrical properties. - In: Applied surface science, Bd. 269 (2013), S. 81-87
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.10.180
Sputtered NiO thin films for organic vapours testing. - In: 2012 Ninth International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), ISBN 978-1-4673-1198-4, (2012), S. 291-294
http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2012.6418540
Comparative investigation on the determination of the austenite content in bainitic cast iron (ADI) :
Vergleichende Untersuchungen zur Bestimmung des Austenitgehalts austenitisch-ferritischen Gusseisens mit Kugelgraphit (ADI). - In: HTM - journal of heat treatment and materials, ISSN 2194-1831, Bd. 67 (2012), 6, S. 393-401
Der Austenitgehalt bestimmt maßgeblich die mechanischen und chemischen Eigenschaften von Konstruktionselementen in Eisenwerkstoffen. So werden zum Beispiel die dynamische Festigkeit und das Korrosionsverhalten von Eisenlegierungen durch den Austenitgehalt beeinflusst. Die korrekte Quantifizierung dieses Gefügebestandteils in materialwissenschaftlichen Untersuchungen, in der Produktion und auch in der Qualitätskontrolle ist somit von großer Bedeutung. Aus der Vielzahl von Verfahren werden in dieser Arbeit das Wirbelstromverfahren, die magnetinduktive Methode, die Mössbauerspektroskopie, die Metallographie sowie die Röntgenbeugung zur Untersuchung von austenitisch-ferritischem Gusseisen mit Kugelgraphit (ADI) angewendet und miteinander verglichen. Die Messergebnisse der genannten Methoden zeigen zwar alle die gleiche Tendenz im Verlauf des Austenitgehalts auf, die gemessenen Absolutwerte variieren jedoch. Da Austenit und Martensit in Schliffbildern kaum voneinander zu separieren sind, eignet sich die Metallographie bei ADI-Proben nicht zur Quantifizierung.
https://doi.org/10.3139/105.110169
Simulation, development and characterization of platinum microheater on polyimide membrane. - In: 23rd Micromechanics and Microsystems Europe Workshop, (2012), insges. 4 S.
Improved adhesion at titanium surfaces via laser-induced surface oxidation and roughening. - In: Materials science & engineering. Structural materials / American Society for Metals. - Amsterdam : Elsevier, 1988- , ISSN: 1873-4936 , ZDB-ID: 2012154-4, ISSN 1873-4936, Bd. 558 (2012), S. 755-760
http://dx.doi.org/10.1016/j.msea.2012.08.101
Nafion-coated bismuth film electrodes on pyrolyzed photoresist/alumina supports for analysis of trace heavy metals. - In: Electrochimica acta, ISSN 1873-3859, Bd. 63 (2012), S. 192-196
http://dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2011.12.075
Die Materialcharakterisierungsverfahren Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) und Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) im Alltag eines Werkstoffprüflabors. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 16 (2011), 1, DGZfP 2010, Session: Materialcharakterisierung, Di.1.C.1, insges. 8 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121
Thin compound oxide films based on NiO and TiO 2 for gas detection. - In: Proceedings of the 17th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, APCOM 2011, June 22 - 24, 2011, Spa Nový Smokovec, High Tatras, Slovak Republic, ISBN 978-80-5540386-1, (2011), S. 268-271
Restaustenitbestimmung-vergleichende Untersuchung mit zerstörungsfreien Messmethoden. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 7 S.
Bestimmung von Werkstoffkenngrößen mittels der instrumentierten Eindringhärteprüfung. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 5 S.
Pyrolyzed photoresist film electrodes for application in electroanalysis. - In: Journal of electrical engineering, ISSN 1339-309X, Bd. 62 (2011), 1, S. 49-53
https://doi.org/10.2478/v10187-011-0008-0
Friction and wear properties of WC/C nano-scale multilayer coatings on technical surfaces. - In: Tribology letters, ISSN 1573-2711, Bd. 44 (2011), 1, S. 89-98
http://dx.doi.org/10.1007/s11249-011-9826-2
Schichten über Schichten : innovative Beschichtungen für komplexe Anwendungen. - In: Vakuum in Forschung und Praxis, ISSN 1522-2454, Bd. 23 (2011), 3, S. 24-32
http://dx.doi.org/10.1002/vipr.201100457
Komplexe Materialprüfung und Schadensanalyse - Praxisbeispiele aus dem Ofenbau-, Beschichtungs- und Automobilbereich. - In: Materials testing, ISSN 0025-5300, Bd. 53 (2011), 3, S. 150-158
Structural evolution of sputtered indium oxide thin films. - In: Journal of electrical engineering, ISSN 1339-309X, Bd. 61 (2010), 6, S. 382-385
https://doi.org/10.2478/v10187-010-0059-7
The compound oxides based on TiO2 and NiO thin films for low temperature gas detection. - In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010, ISBN 978-1-4244-8572-7, (2010), S. 337-340
http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5666355
Study of optical and electrical properties of sputtered indium oxide films. - In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010, ISBN 978-1-4244-8572-7, (2010), S. 297-300
http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5667003
Effect of substrate temperature on oblique-angle sputtered ZnO:Ga thin films. - In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010, ISBN 978-1-4244-8572-7, (2010), S. 73-76
http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5666346
Sputtering of ZnO:Ga thin films with the inclined crystalic texture. - In: 2010 27th International Conference on Microelectronics proceedings (MIEL), ISBN 978-1-4244-7200-0, (2010), S. 177-180
http://dx.doi.org/10.1109/MIEL.2010.5490506
Structural characterization of sputtered indium oxide films deposited at room temperature. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 518 (2010), 16, S. 4508-4511
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2009.12.018
Struktur und Oberflächenmorphologie von gesputterten TiO2-Schichten. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 121-126
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Schichteigenschaftsbestimmung an Hartmetallen. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 127-132
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Darstellung der Eigenschaftsverteilung in einer einsatzgehärteten Randschicht mit verschiedenen Methoden. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 133-138
Parallel als Druckausg. erschienen
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Untersuchung zur Phasenausbildung von Platinsiliziden mittels PVD und unterschiedlicher Temperprozesse. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 149-154
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Structural characterization of metal-ceramic coatings by electron microscopy. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 189-194
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Thüringer Werkstofftag 2010 : Technische Universität Ilmenau, 24. März 2010 ; wissenschaftliche Beiträge
[Online-Ausg.]. - Ilmenau : Univ.-Verl. Ilmenau, 2010. - Online-Ressource (PDF-Datei: IX, 214 S., 18,42 MB). - (Werkstofftechnik aktuell ; 2)Literaturangaben
Der Tagungsband "Thüringer Werkstofftag 2010" sind die Proceedings des 8. Thüringer Werkstofftages, der im März 2010 an der TU Ilmenau stattfindet. Der Band beinhaltet die Wissenschaftlichen Beiträge (Vorträge und Poster), die auf dem Thüringer Werkstofftag 2010 vorgestellt werden und die als Manuskript zur Veröffentlichung eingereicht wurden. Für alle weiteren Beiträge, für die kein Manuskript eingereicht wurde, ist die Zusammenfassung des jeweiligen Beitrages in den Tagungsband aufgenommen worden.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Spectroscopic ellipsometry of wurtzite ZnO and GaN: examination of a special case. - In: Journal of applied physics, ISSN 1089-7550, Bd. 107 (2010), 2, 023509, insges. 10 S.
https://doi.org/10.1063/1.3285485
Gas sensing micromachined structure based on gallium arsenide. - In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future, (2009), insges. 8 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=14796
Nanostructured indium oxide thin films deposited at room temperature. - In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future, (2009), insges. 4 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=14795
An effect of bismuth film electroplating variables on electrode performance in electroanalysis. - In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future, (2009), insges. 7 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=14793
Herstellung und komplexe Charakterisierung von Metall-Keramik-Verbundschichten. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 40 (2009), 12, S. 894-900
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200900535
Structural and morphological investigations of TiO2 sputtered thin films. - In: Journal of electrical engineering, ISSN 1335-3632, Bd. 60 (2009), 6, S. 354-357
Sliding friction of nanocomposite WC1-x/C coatings: transfer film and its influence on tribology. - In: Journal of nanoscience and nanotechnology, ISSN 1533-4899, Bd. 9 (2009), 6, S. 3499-3505
http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2009.NS23
Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
2., überarb. und erw. Aufl.. - Wiesbaden : Vieweg + Teubner, 2009. - XIV, 564 S.. - (Studium) ISBN 978-3-8351-0166-1
Literaturverz. S. [543] - 554
Growth and characterization of ZnO thin films using XRD and AFM. - In: Prospects in mechanical engineering, (2008), insges. 10 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=18044
Growth and characterization of indium oxide films for ozone detection. - In: Prospects in mechanical engineering, (2008), insges. 11 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=18741
SEM and TEM investigations of electrophoretical deposited Si3N4 and SiC particles in siloxane of steel substrate. - In: Materials science, ISBN 978-3-540-85225-4, (2008), S. 695-696
Surface investigation of SU-8 by atomic force and scanning electron microscopy. - In: Materials science, ISBN 978-3-540-85225-4, (2008), S. 693-694
Ion implanted titanium surfaces for hard tissue replacement :
Ionenimplantierte Titanoberflächen für den Hartgewebeersatz. - In: Biomaterialien, ISSN 2191-4672, Bd. 8 (2007), 4, S. 285-292
https://doi.org/10.1515/BIOMAT.2007.8.4.285
Nanolayered and nanoparticle-dispersed WC/C coatings: frictional and wear behavior. - In: 71st annual meeting of the DPG and spring meeting of the Condensed Matter Division and the sections: Biological Physics, Environmental Physics, Extraterrestrial Physics, History of Physics, Physics Education, Radiation and Medical Physics as well as the working groups: Energy Matters, Equal Opportunities, Industry and Economy, Information, Physics and Disarmament, Physics of Socio-Economic Systems, 2007, MM 20.29
Tribological performance of WC/C coatings on rough substrates. - In: 71st annual meeting of the DPG and spring meeting of the Condensed Matter Division and the sections: Biological Physics, Environmental Physics, Extraterrestrial Physics, History of Physics, Physics Education, Radiation and Medical Physics as well as the working groups: Energy Matters, Equal Opportunities, Industry and Economy, Information, Physics and Disarmament, Physics of Socio-Economic Systems, 2007, MM 39.1
Physiko-chemische und zellbiologische Untersuchungen an ätztechnisch modifizierten Titanproben zur Verbesserung der Osteointegration. - In: Oberflächentechnik für die Praxis, (2007), S. 291-297
TEM investigations of Au-NiO nanocrystalline thin films as gas sensing material. - In: Journal of electrical engineering, ISSN 1335-3632, Bd. 58 (2007), 6, S. 347-350
Au-NiO nanocrystalline thin films for sensor application. - In: Journal of physics, ISSN 1742-6596, Bd. 61 (2007), S. 435-439
http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/61/1/087
TEM investigation of sputtered and epitaxial grown indium oxide layers for ozone sensors. - In: Microscopy and microanalysis, ISSN 1435-8115, Bd. 13.2007, Suppl. S03, S. 406-407
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927607082037
Metal-ceramic composite layers on stainless steel through the combination of electrophoretic deposition and galvanic processes. - In: Journal of materials science, ISSN 1573-4803, Bd. 42 (2007), 12, S. 4545-4551
http://dx.doi.org/10.1007/s10853-006-0482-0
Influence of ion implantation on titanium surfaces for medical applications. - In: Surface science, ISSN 1879-2758, Bd. 601 (2007), 18, S. 3856-3860
http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2007.04.060
Using defined structures on very thin foils for characterizing AFM tips. - In: Ultramicroscopy, ISSN 1879-2723, Bd. 107 (2007), 10/11, S. 1086-1090
http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.05.004
Analysis of nanocrystalline films on rough substrates. - In: Ultramicroscopy, ISSN 1879-2723, Bd. 107 (2007), 10/11, S. 989-994
http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.02.046
Preparation of defined structures on very thin foils for characterization of AFM probes. - In: Microelectronic engineering, Bd. 84 (2007), 3, S. 528-531
http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2006.10.077
Markers prepared by focus ion beam technique for nanopositioning procedures. - In: Microelectronic engineering, Bd. 84 (2007), 3, S. 524-527
http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2006.10.076
Preparation and characterization of microhotplate for gas sensors. - In: International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, 2006, (2006), insges. 4 S.
https://doi.org/10.1109/ASDAM.2006.331208
Fabrication and characterization of a microheater on GaAs for gas sensors. - In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future, (2006), insges. 9 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=13379
Determination of trace heavy metals by anodic stripping voltammetry at mercury-plated silicon microelectrodes. - In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future, (2006), insges. 7 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=13380
Zinc oxide - unique material for micro-/nanotechnology. - In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future, (2006), insges. 11 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=13548
Festkörperphysikalische Analyse an nanoskaligen funktionellen Keramik-Verbund-Schichten. - In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future, (2006), insges. 21 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=13627
Evaluation of the friction of WC/DLC solid lubricating films in vacuum. - In: Tribology international, ISSN 1879-2464, Bd. 39 (2006), 12, S. 1584-1590
http://dx.doi.org/10.1016/j.triboint.2006.02.061
NiO nanostructured films with Pt coating prepared by magnetron sputtering. - In: Czechoslovak journal of physics, ISSN 1572-9486, Bd. 56.2006, Suppl. 2, S. B1192-B1198
http://dx.doi.org/10.1007/s10582-006-0349-2
NiO-based nanostructured thin films with Pt surface modification for gas detection. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 515 (2006), 2, S. 658-661
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.12.232
Tungsten carbide layers for nanomeasuring systems. - In: Festschrift zum Ehrenkolloquium anlässlich der Emeritierung von Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Dr. rer. nat. Christian Knedlik, (2006), S. 105-106
Vergleichende Darstellung von Methoden zur Bewertung der Randentkohlung am Werkstoff 100Cr6. - In: Festschrift zum Ehrenkolloquium anlässlich der Emeritierung von Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Dr. rer. nat. Christian Knedlik, (2006), S. 72-78
Prozess, Mikrostruktur und Eigenschaften von dünnen Wolframkarbidschichten. - In: Festschrift zum Ehrenkolloquium anlässlich der Emeritierung von Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Dr. rer. nat. Christian Knedlik, (2006), S. 56-64
Tribological characteristics of tungsten carbide films. - In: Festschrift zum Ehrenkolloquium anlässlich der Emeritierung von Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Dr. rer. nat. Christian Knedlik, (2006), S. 18-19
SEM and EDX analyses of thin-film ITO and diamond microelectrodes modified by mercury for use in electrochemical microsensors. - In: Festschrift zum Ehrenkolloquium anlässlich der Emeritierung von Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Dr. rer. nat. Christian Knedlik, (2006), S. 16-17
p-type chemoresistive gas sensor based on Pt-modified NiO sputtered thin films for the detection of hydrogen electronic nose. - In: Sensors and microsystems, (2005), S. 92-98
Hydrogen microsensors based on NiO modified thin films. - In: Maschinenbau von Makro bis Nano, 2005, [04.14], insges. 2 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=17355
Development of a reference field for a NPM-machine. - In: Maschinenbau von Makro bis Nano, 2005, [01.P.01], insges. 2 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=16760
Entwicklung von nanoskaligen Wolframkarbid-Schichtsystemen für funktionelle Oberflächen einer NPM-Maschine. - In: Maschinenbau von Makro bis Nano, 2005, [01.10], insges. 2 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=16753
Quantitativ assessment of the wear of an afm tip by blind tip estimation. - In: 1st Vienna International Conference Micro- and Nano-Technology, (2005), S. 323-328
Mercury-plated thin film ITO microelectrode array for analysis of heavy metals. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 80 (2005), 1/3, S. 132-136
http://dx.doi.org/10.1016/j.vacuum.2005.07.025
Prozess, Mikrostruktur und Eigenschaften von dünnen Wolframkarbidschichten. - In: Thüringer Werkstofftag, 20. April 2005, (2005), S. 89-97
Röntgenografische Spannungsmessungen zur Beurteilung des Schneidverhaltens an beschichteten Hartmetallwerkzeugen. - In: Thüringer Werkstofftag, 20. April 2005, (2005), S. 112-118
SEM/TEM investigations of nickel filled ceramic layers. - In: Proceedings, (2005), S. 313
SEM/TEM investigations of tungsten/tungsten-carbide/carbon and MoS2 multilayers/nanocomposites. - In: Proceedings, (2005), S. 271
C60 intercalated graphite: a new form of carbon. - In: Fullerenes, nanotubes & carbon nanostructures, ISSN 1536-4046, Bd. 13.2005, Suppl. 1, S. 427-430
http://dx.doi.org/10.1081/FST-200039421
Tribological characteristics of WC1-x9 W2C and WC tungsten carbide films. - In: Life cycle tribology, (2005), S. 409-417
Nanoscale multilayer WC/C coatings developed for nanopositioning: Part II. Friction and wear. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 488 (2005), 1, S. 140-148
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.03.020
Nanoscale multilayer WC/C coatings developed for nanopositioning: Part I. Microstructures and mechanical properties. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 488 (2005), 1, S. 132-139
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.04.107
Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
1. Aufl.. - Wiesbaden : Teubner, 2005. - XII, 523 S.. - (Teubner Lehrbuch Physik) ISBN 978-3-519-00522-3
Growth of 3C-(Si1-xC1-y)Gex+y layers on 4H-SiC by molecular beam epitaxy. - In: Silicon carbide and related materials 2004, (2005), S. 173-176
Characterization and gas sensing properties of NiO thin films. - In: Sensors and microsystems, (2004), S. 185-190
NiO modified thin films for gas monitoring. - In: The Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, 2004, (2004), S. 303-306
http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2004.1441221
Characterization of sputtered NiO films using XRD and AFM. - In: Journal of materials science, ISSN 1573-4803, Bd. 39 (2004), 7, S. 2609-2612
http://dx.doi.org/10.1023/B:JMSC.0000020040.77683.20
Enhancement of H2 sensing properties of NiO-based thin films with a Pt surface modification. - In: Sensors and actuators, ISSN 0925-4005, Bd. 103 (2004), 1/2, S. 300-311
http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2004.04.109
Investigation on preparation of multiwalled carbon nanotubes by DC arc discharge under N2 atmosphere. - In: Carbon, ISSN 1873-3891, Bd. 42 (2004), 5/6, S. 931-939
http://dx.doi.org/10.1016/j.carbon.2003.12.060
3C-SiC:Ge alloys grown on Si (111) substrates by SSMBE. - In: Physica status solidi, ISSN 1610-1642, Bd. 1 (2004), 2, S. 347-350
http://dx.doi.org/10.1002/pssc.200303953
A novel class of sensors for system integrative concepts in biotechnological applications. - In: Technische Systeme für Biotechnologie und Umwelt, (2004), S. 163-169
Bias-Magnetron Sputtern von Wolframkarbid-Schichten auf Stahl. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 35 (2004), 10/11, S. 916-923
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200400812
Lateralkraftmikroskopie an elektrischen Kontakten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 203-211
Analyse nanokristalliner Schichten auf rauen Substraten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 177-183
Nanoschichten für die Nanopositionierung. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 131-136
Definierte Präparation von hexagonalem WSi2 und Wolframsilizidmetallisierungen mit einstellbarem Temperaturkoeffizient der elektrischen Leitfähigkeit. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 119-124
Insertion of C60 into multi-wall carbon nanotubes : a synthesis of C60MWCNT. - In: Carbon, ISSN 1873-3891, Bd. 42 (2004), 12/13, S. 2759-2762
http://dx.doi.org/10.1016/j.carbon.2004.05.025
Vergleichende oberflächenanalytische und korrosionschemische Untersuchungen zum Einfluß eines keramischen Brennzyklus auf eine biozertifizierte PdCuGa-Aufbrennkeramiklegierung. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 57-62
Cubic InN on r-plane sapphire. - In: Superlattices and microstructures, ISSN 1096-3677, Bd. 36 (2004), 4/6, S. 487-495
http://dx.doi.org/10.1016/j.spmi.2004.09.054
Sputter depth profiling of InN layers. - In: Nuclear instruments & methods in physics research, Bd. 215 (2004), 3/4, S. 486-494
http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2003.08.039
Structure and composition of 3C-SiC:Ge alloys grown on Si (111) substrates by SSMBE. - In: Silicon carbide and related materials 2003, (2004), S. 293-296
Thüringer Werkstofftag 2004 : [Vorträge und Poster]
1. Aufl.. - Berlin : Köster, 2004. - VIII, 219 S.. - (Schriftenreihe Werkstoffwissenschaften ; 18) ISBN 3-89574-519-7
NiO thin films for gas sensing applications. - In: Sensors for Enviromental Control, (2003), S. 58-63
Study of annealed NiO thin films sputtered on unheated substrate. - In: Japanese journal of applied physics, ISSN 1347-4065, Bd. 42.2003, Pt. 2, 10A, S. L1178-L1181
http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.42.L1178
Tungsten carbide layers for nanomeasuring systems. - In: Proceedings, (2003), S. 165-170
Preparation of multiwalled carbon nanotubes by DC arc discharge under a nitrogen atmosphere. - In: Carbon, ISSN 1873-3891, Bd. 41 (2003), 8, S. 1648-1651
http://dx.doi.org/10.1016/S0008-6223(03)00083-6
The influence of process parameters and annealing temperature on the physical properties of sputtered NiO thin films. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 69 (2003), 1/3, S. 237-242
http://dx.doi.org/10.1016/S0042-207X(02)00338-X
Dielectric function of "narrow" band gap InN. - In: GaN and related alloys - 2002, 2003, S. L5.9.1-L5.9.6, insges. 6 S.
Thin-film gold, palladium and indium tin oxide microelectrodes modified by mercury. - In: Proceedings and our portrait, (2003), insges. 16 S.
NiO films with Pt surface modification for gas sensing. - In: Proceedings and our portrait, (2003), insges. 2 S.
Interface behaviour in nickel composite coatings with nano-particles of oxidic ceramic. - In: Electrochimica acta, ISSN 1873-3859, Bd. 48 (2003), 20/22, S. 3063-3070
Advances in micro-technology demand that new functional materials be developed so that the technical properties of micro-devices can be improved at reasonable cost. The co-deposition of nanoscaled particles during an electroplating process has been shown to bring such an improvement. This work focuses on particles of oxidic ceramics, in this case those of Al2O3 and TiO2. The diameters of the primary particles ranges from 10 to 30 nm, electrodeposited by means of a conventional Watts nickel electrolyte. A series of nickel nano-ceramic composites were produced, with co-deposition of particles as a single primary particle in the nanometre range at one end of the sale and as agglomerates up to a size of a micrometer at the other. The influence of the presence of particles on crystallisation behaviour, residual stress and texture of the deposited nickel coatings was examined by X-ray diffraction (XRD). There is a report on the interfaces between the nickel grains and the oxidic ceramic particles, investigates using transmission electron microscopy (TEM). A decreasing corrosion stability indicates an attack along the interface nickel/particles.
http://dx.doi.org/10.1016/S0013-4686(03)00380-3
Characterization of Indium-Tin-Oxide thin film microelectrodes for biomedical use. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 662-665
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200390132
Nutzung von Werkstoffstrukturgrößen als Messnormale. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 648-653
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200390130
Growth of cubic InN on r-plane sapphire. - In: Applied physics letters, ISSN 1077-3118, Bd. 83 (2003), 17, S. 3468-3470
http://dx.doi.org/10.1063/1.1622985
High-resolution XRD investigations of the strain reduction in 3C-SiC thin films grown on Si (111) substrates. - In: Silicon carbide and related materials 2002, (2003), S. 433-436
Sensing characteristics of NiO thin films as NO2 gas sensors. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 418 (2002), 1, S. 9-15
Im Titel ist "2" tiefgestellt
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(02)00579-5
Thin films for electrochemical sensoric interfaces. - In: Conference proceedings, (2002), S. 321-324
Physical and structural characterization of NiO films for gas detection. - In: Conference proceedings, (2002), S. 107-110
Characterization of thin film ITO microelectrodes for biomedical use. - In: 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (2002), insges. 6 S.
Sprödbruchbildung an nitrierten hochfesten Warmarbeitsstählen. - In: Thüringer Werkstofftag 2002, (2002), S. 106-107
EBSD-Analyse von technischen Werkstoffoberflächen. - In: Thüringer Werkstofftag 2002, (2002), S. 86-91
The influences of preparation parameters on NiO thin film properties for gas-sensing application. - In: Sensors and actuators, ISSN 0925-4005, Bd. 78 (2001), 1/3, S. 126-132
http://dx.doi.org/10.1016/S0925-4005(01)00802-4
Sputtered yttrium oxide thin films appropriate for electrochemical sensors. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 61 (2001), 2/4, S. 229-234
http://dx.doi.org/10.1016/S0042-207X(01)00117-8
Carbonization induced change of the polarity for MBE grown 3C-SiC/Si(111). - In: Silicon carbide and related materials, (2001), S. 179-182
Vertically arranged microelectrode array for electrochemical sensing. - In: Conference proceedings, (2000), S. 421-424
Preparation of single phase tungsten carbide by annealing of sputtered tungsten-carbon layers. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 359 (2000), 2, S. 146-149
http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(99)00732-4
Preparation and characterization of NiO thin films for gas sensor applications. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 58 (2000), 2/3, S. 300-307
http://dx.doi.org/10.1016/S0042-207X(00)00182-2
High temperature stable WSi2-contacts on p-6H-silicon carbide. - In: Wide-bandgap semiconductors for high-power, high-frequency and high-temperature applications - 1999, (1999), S. 111-116
Preparation of conductive tungsten carbide layers for SiC high temperature applications. - In: Wide-bandgap semiconductors for high-power, high-frequency and high-temperature applications - 1999, (1999), S. 99-104
Preparation of nickel oxide thin films for gas sensors applications. - In: Sensors and actuators, ISSN 0925-4005, Bd. 57 (1999), 1/3, S. 147-152
http://dx.doi.org/10.1016/S0925-4005(99)00077-5
Charakterisierung von CVD-Hartstoffschichten auf Hartmetall. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 7 S.
Nanostrukturierte Werkstoffe - Meßnormale?. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.
Thin film microelectrode arrays for electrochemical biosensors. - In: [Vortragsreihen, (1999), S. 215-220
Investigation of polymorphism and estimation of lattice constants of SiC epilayers by four circle X-ray diffraction. - In: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, (1998), S. 437-440
Preparation and structural characterization of nickel oxide films for gas sensor devices. - In: Conference proceedings, (1998), S. 175-178
Röntgenografische Textur- und Einkristalluntersuchungen an SiC. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 5 S.
Thermowellenanalyse an implantiertem SiC. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 8 S.
Werkstoffanalytische Probleme bei der Charakterisierung von Siliziumkarbid für Mikrotechnikanwendungen. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Effect of oxygen concentration in the sputtering mixture on the properties of dc magnetron sputtered NiO films. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Werkstoffe und Analytik für die Mikroelektronik aus der Sicht der Metallisierung und Kontaktierung. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Atomic force microscopy investigations of rapid thermal carbonized silicon. - In: Materials science and engineering. Solid state materials for advanced technology / American Society for Metals. - New York, NY [u.a.] : Elsevier, 1988- , ISSN: 1873-4944 , ZDB-ID: 1492109-1, ISSN 1873-4944, Bd. 47 (1997), 3, S. 274-278
http://dx.doi.org/10.1016/S0921-5107(97)00045-7
Aluminium implantation of p-SiC for ohmic contacts. - In: Diamond and related materials, ISSN 0925-9635, Bd. 6 (1997), 10, S. 1414-1419
http://dx.doi.org/10.1016/S0925-9635(97)00047-2
Improved ohmic contacts to p-type 6H-SiC. - In: Silicon carbide and related materials 1995, (1996), S. 585-588
Rapid thermal annealing of tungsten silicide films. - In: Silicide thin films, (1996), S. 625-630
Analysis of reflection high energy electron diffraction pattern of silicon carbide grown on silicon. - In: Evolution of epitaxial structure and morphology, (1996), S. 17-22
Ohmic contacts to p-type 6H-silicon carbide. - In: Applied surface science, Bd. 91 (1995), 1/4, S. 347-351
http://dx.doi.org/10.1016/0169-4332(95)00144-1
Röntgenstrahlen in der Technik. - In: 100 Jahre Röntgenstrahlen - Thüringer Beiträge, (1995), S. 86-96
Ohmsche Kontakte auf p-type 6H-Siliciumkarbid. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 730-735
Herstellung von WSi 2 und TiSi 2 durch Co-Sputtern und RTA. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 724-729
NiO thin films applicable in gas sensors. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 713-718
Complex solid state physical investigations of metal layers on plastics. - In: Fresenius' journal of analytical chemistry, ISSN 1432-1130, Bd. 349 (1994), 1, S. 237
http://dx.doi.org/10.1007/BF00323293
X-ray diffraction analysis of RTP-annealed thin ZnO films. - In: Thin films, (1994), S. 666-669
Rapid thermal annealing of thin ZnO films. - In: Physica status solidi. Applications and materials science. - Weinheim : Wiley-VCH, 2005- , ISSN: 1862-6319 , ZDB-ID: 1481091-8, ISSN 1862-6319, Bd. 145 (1994), 2, S. 283-288
http://dx.doi.org/10.1002/pssa.2211450208
Röntgendiffraktometrische Sonderverfahren an dünnen Schichten. - In: Vortragsreihen Mikroelektronik und Schaltungstechnik, Kommunikations- und Meßtechnik, (1992), S. 198-203
Führt die Höchstintegration der Mikroelektronik zu einer Analytikkrise?. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 133-136
Titansilicidschichten auf Poly-Si und SiO2. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 47-50
Rechnerunterstützte komplexe Festkörperanalytik für Mikroelektronikwerkstoffe, insbesondere von Siliciden zur Metallisierung von höchstintegrierten Schaltkreisen. - Ilmenau. - 1 Band (verschiedene Seitenzählungen)
Technische Hochschule Ilmenau, Habilitationsschrift 1990
Enthält Thesen
Komplexe Strukturanalytik von Metallisierungsschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 35 (1989), 1, S. 51-60
Modernste Metallisierungskonzepte für höchstintegrierte Schaltkreise - Probleme und Lösungen. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 35 (1989), 1, S. 41-50
Wolfram-Silizide für die VLSI-Mikroelektronik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 34 (1988), 4, S. 199-205
Röntgenprofilanalyse an Schwermetallsilicidschichten. - In: Kurzfassungen der Posterbeiträge, (1987), S. 56-57
Sputtering of Mo-Si layers from composite targets. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 149 (1987), 2, S. 2011-218
http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(87)90297-5
Komplexer Analysezyklus (elektrische Messungen, Röntgenfeinstruktur, AES, RBS) zur Charakterisierung von W/Si-Sandwichanordnungen. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 91-94
Herstellung und Charakterisierung von Wolfram-Silizium-Mischschichten unterschiedlicher Stöchiometrie. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 87-89
Eigenschaften von MoSi2-Schichten - hergestellt mit dem Mosaiktarget. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 83-85
Eigenschaften von Tantal-Silizium-Mischschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 32 (1986), 6, S. 175-182
Wolframsilicidbildung durch Temperung von Wolframschichten auf einkristallinem Silicium. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 32 (1986), 6, S. 167-174
Triotron-Zerstäubungsanordnung zur Herstellung von Ta/Si-Mischschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 32 (1986), 3, S. 161-166
Zur Silizidproblematik in Metallisierungssystemen für integrierte Schaltkreise der VLSI-Technik. - Ilmenau, 1985. - 1 Band (verschiedene Seitenzählungen)
Technische Hochschule Ilmenau, Dissertation 1985
Elektrische Charakterisierung von Schwermetall-Silizium-Mischschichten. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0374-3365, Bd. 29 (1984), 5, S. 7-10
Herstellung und Charakterisierung von getemperten Wolframschichten auf einkristallinem Silizium. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 6, S. 131-140
Elektrische Charakterisierung von Schichten und Strukturen der Metallisierung für die VLSI-Technik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 143-152