Für ihre Abschlussarbeiten in den Studiengängen Ingenieurinformatik und Maschinenbau sind Jakob Hampel und Lukas Leon Barthelmann, Nachwuchswissenschaftler der TU Ilmenau, mit dem Silicon Science Award ausgezeichnet worden. Mit dem Preis, der am 4. September im Rahmen des Ilmenauer Wissenschaftlichen Kolloquiums (IWK) vergeben wurde, würdigen der CiS e.V. und die CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH insbesondere den hohen praktischen Nutzen ihrer anspruchsvollen Forschungsarbeiten.
Jakob Hampel entwickelte in seiner in der IMMS GmbH angefertigten und vom Fachgebiet Theoretische Elektrotechnik der TU Ilmenau betreuten Arbeit „Zeitkorrelierte Einzelphotonenzählung zur Zeitbereichscharakterisierung von Hochgeschwindigkeitslichtquellen mittels konfigurierbarer Logikbausteine“ ein kostengünstiges, lediglich handflächengroßes Messsystem, das Lichtimpulse mit einer Auflösung von 20 Pikosekunden misst. Damit kann es unter anderem in miniaturisierten und besonders empfindlichen Laborgeräten eingesetzt werden, die Patientenproben wie Blut oder Urin in unmittelbar Nähe zum Patienten analysieren – so genannten Point-of-Care-Geräten, wie sie das IMMS entwickelt. Auch wird das System bereits im Rahmen der Erforschung von Quantentechnologien im Projekt QuantumHub Thüringen eingesetzt. Fachgebietsleiter Prof. Hannes Töpfer:
Mit seiner Arbeit adressiert Herr Hampel nicht nur hoch aktuelle Forschungsfragen, sondern erschließt auch viele neue Anwendungsgebiete. Damit beweist er zugleich eindrucksvoll, wie sich dank der engen Zusammenarbeit der TU Ilmenau mit außeruniversitären Forschungsinstituten schon im Studium anspruchsvolles theoretisches Wissen mit aktuellem Praxisbezug verbinden lässt.
Mit einem ebenfalls sehr anwendungsbezogenen Forschungsthema setzte sich auch Lukas Leon Barthelmann auseinander: Im Rahmen seiner bei der CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH angefertigten und am Institut für Prozessmess- und Sensortechnik (IPMS) der TU Ilmenau betreuten Bachelorarbeit untersuchte und optimierte er so genannte redundante Temperaturmesssysteme. Bei solchen Messeinrichtungen kommen im Gegensatz zu Systemen mit Einzelsensoren mehrere Sensoren zum Einsatz, die sich bezüglich des Zusammenhangs zwischen der zu messenden physikalischen Größe und der resultierenden elektrischen Größe voneinander unterscheiden. Fällt ein Sensor aus, kann die Temperatur dennoch richtig gemessen werden. Das macht die Messsysteme deutlich zuverlässiger und sicherer.
Indem Herr Barthelmann das Auswerten der Sensordaten im industrierelevanten Temperaturbereich von -40 °C bis +140 °C so weit wie möglich automatisierte, generierte er viele messtechnisch äußerst aussagekräftige und belastbare Daten, die für die Entwicklung redundanter Systeme in der industriellen Messtechnik oder im Bereich Automotive relevant sind
erklärt Prof. Thomas Fröhlich, Leiter des Fachgebietes Prozessmesstechnik, der die Arbeit am IPMS betreute.
Mit dem Silicon Science Award will der CIS e.V. gemeinsam mit der CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH junge Nachwuchswissenschaftler und Nachwuchswissenschaftlerinnen ermutigen, sich mit Themen und Forschungsaufgaben auseinander zu setzen, die einen Bezug zu siliziumbasierter Mikrosystemtechnik, Optoelektronik und Quantentechnologien aufweisen und für viele wissenschaftliche und wirtschaftliche Innovationen grundlegend sind, um gesellschaftliche Herausforderungen wie Klimaschutz oder Ressourceneffizienz zu lösen. Insgesamt wurden dieses Jahr im Rahmen des IWK fünf Personen ausgezeichnet, darunter auch Forschende der Technischen Universität Dresden, der Eberhard Karls Universität Tübingen und der Ruhr Universität Bochum.