Vollautomatisierte Prüfprogrammerstellung für Inspektionssysteme der ElektronikfertigungDie Simulation der physikalischen Prozesse und der Ausbau des Modells zur Bildgenerierung unter Berücksichtigung der Prozessparameter (z. B. Temperaturen) über den gesamten Produktionsprozess hinweg ist Ziel dieses Arbeitspaketes. Der Ursprung einer fehlerhaften Lötstelle kann sich in einem fehlerhaften Prozessschritt weit vor dem eigentlichen Aufbringen des Lotes wiederfinden. Weiterhin muss auch das Aufbringen der Lotpaste mit betrachtet werden, um von der finalen Lötstelle ein Bild generieren zu können. Schießlich werden auch die bereits vorhandenen CAD-Daten der Bauteile einer Platine mit Umgebungsparametern aufgewertet, um die Bildgenerierung zu verbessern. Das Modell muss in der Lage sein die Prozessschritte bis zur fertigen Lötstelle abzubilden. Die zeitliche Abfolge muss dabei berücksichtigt werden.

Vollautomatisierte Prüfprogrammerstellung für Inspektionssysteme der Elektronikfertigung

Prüfung von Platinen mit Automatischer Optischer Inspektion

Kurzbeschreibung

Die Simulation der physikalischen Prozesse und der Ausbau des Modells zur Bildgenerierung unter Berücksichtigung der Prozessparameter (z. B. Temperaturen) über den gesamten Produktionsprozess hinweg ist Ziel dieses Arbeitspaketes. Der Ursprung einer fehlerhaften Lötstelle kann sich in einem fehlerhaften Prozessschritt weit vor dem eigentlichen Aufbringen des Lotes wiederfinden.
Weiterhin muss auch das Aufbringen der Lotpaste mit betrachtet werden, um von der finalen Lötstelle ein Bild generieren zu können. Schießlich werden auch die bereits vorhandenen CAD-Daten der Bauteile einer Platine mit Umgebungsparametern aufgewertet, um die Bildgenerierung zu verbessern. Das Modell muss in der Lage sein die Prozessschritte bis zur fertigen Lötstelle abzubilden. Die zeitliche Abfolge muss dabei berücksichtigt werden.

 

Referenzen

Nau, Johannes; Richter, Johannes; Streitferdt, Detlef; Kirchhoff, Michael (2020): Simulating the Printed Circuit Board Assembly Process
for Image Generation. In: W. K. Chan (Hg.): 2020 IEEE 44th Annual Computers, Software, and Applications Conference. COMPSAC
2020 : proceedings : 13-17 July 2020, virtual event. 2020 IEEE 44th Annual Computers, Software, and Applications Conference
(COMPSAC). Madrid, Spain, 7/13/2020 - 7/17/2020. Piscataway, NJ: IEEE, S. 245–254.


Richter, Johannes; Nau, Johannes; Kirchhoff, Michael; Streitferdt, Detlef (2021): KOI: An Architecture and Framework for Industrial and
Academic Machine Learning Applications. In: Dana Simian und Laura Florentina Stoica (Hg.): MODELLING AND DEVELOPMENT OF
INTELLIGENT SYSTEMS. 7th international conference, Bd. 1341. [S.l.]: SPRINGER NATURE (Communications in Computer and
Information Science), S. 113–128.