Grundlagen der Patentstatistik (Online-Seminar)

Ziel des Seminars ist es, die Grundlegenden Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.

Zielgruppe

Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.

Voraussetzung

Grundkenntnisse zum Patentwesen.

Inhalt

• Kerninformation als Analyseziel
• Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
• Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
• Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
• Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
• Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
• Durchführung von Patentanalysen
• Kostenreduzierte Analysen
• Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
• Vorstellen von Analyse-Tools

Weitere Informationen und Anmeldung hier:

https://turm2.tu-ilmenau.de/course/open?ID=979