Vom 23. bis 26. Juni hatten wir – Johannes Belkner, Jaqueline Stauffenberg, Jiekai Wang, Maximilian Hoffmann, Simon Eisele und Thomas Kissinger – das Vergnügen, an der SPIE Optical Metrology 2025 in München teilzunehmen. Die Konferenz, die im Rahmen der Laser World of Photonics stattfand, brachte internationale Expertinnen und Experten zusammen, um aktuelle Entwicklungen in der optischen Messtechnik zu diskutieren.
Unsere Delegation des Fachgebiets Prozessmess- und Sensortechnik der TU Ilmenau war stolz, mit fünf Fachvorträgen zum Konferenzprogramm beizutragen – ein starker Auftritt, der das kontinuierliche Engagement unseres Teams für die Weiterentwicklung der optischen Messtechnik widerspiegelt:
- Johannes Belkner stellte ein phasenmoduliertes differentielles konfokales Mikroskopieverfahren mit einem Kompensationsalgorithmus zur Korrektur von objektinduzierter Aberration vor.
- Jaqueline Stauffenberg präsentierte ihre Arbeiten zur range-resolved Interferometrie mit retroreflektierenden Mikrosphären für messtechnische Anwendungen.
- Maximilian Hoffmann sprach über eine aktive Regelung des Brechungsindex der Luft zur Leistungssteigerung optischer Systeme.
- Jiekai Wang zeigte einen faseroptischen Ansatz zur Formmessung, der Bewegungsstörungen bei schwingungsbehafteten Messumgebungen kompensieren soll.
- Simon Eisele stellte ein neuartiges Konzept einer 5D-Nanopositionier- und Nanomessmaschine zur präzisen Bearbeitung und Vermessung komplexer Freiformflächen vor.
Neben den Vorträgen bot die Konferenz zahlreiche inspirierende Gespräche mit Forschenden und Vertreter:innen aus der Industrie. Wir kehren mit neuen Ideen, wertvollem Feedback und frischem Schwung für unsere weitere Arbeit nach Ilmenau zurück.
