Herzlich Willkommen am Fachgebiet für Nanofabrikations- und Nanomesstechnik

Forschung

Die Forschung des Fachgebietes soll Grundlagenforschung an hochgenauen optischen Messverfahren mit Anwendungsforschung, oft gemeinsam mit interdisziplinären Partnern, auf verschiedensten Gebieten kombiniert werden. Weiterhin soll der Transfer dieser Technologien bis zur Anwendungsreife begleitet werden.

Im Zentrum steht als verbindendes Thema die interferometrischen Signalverarbeitung, umrandet von drei Hauptanwendungsfeldern. Hier bildet die Nanometrologie- und Sensorik das Hauptanwendungsgebiet des Fachgebiets, insbesondere mit Anwendungen in der Nanofabrikationstechnik. Zusätzlich kommen noch Anwendungsbereiche in der Glasfasersensorik und interferometrischen Bildgebung hinzu. Natürlich wird auch ständig Ausschau nach innovativen Themen zur Weiterentwicklung des Forschungsprofils gehalten.

ari

Lehre

Zurzeit werden vom Fachgebiet die Vorlesung „Optoelektronische Mess- und Sensortechnik“ sowie Teile der Vorlesung „Einführung in die Mess- und Sensortechnik“ angeboten.

Durch die Bearbeitung von Forschungsprojekten z.B. als Diplom-, Bachelor- und Masterarbeiten aber auch in Rahmen von wissenschaftlichen Assistenzen, Projektseminaren sollen wissenschaftliche Fähigkeiten vermittelt werden und Studierende frühzeitig in die Forschungsprojekte des Fachgebietes eingebunden werden.

Aktuelle Publikationen

[J12]      Hallam, J.M., Kissinger, T., Charrett, T. O. and Tatam, R P. “In-process range-resolved interferometric (RRI) 3d layer height measurements for wire+ arc additive manufacturing (WAAM)”, Measurement Science and Technology, 33(4):044002, 12pp, (2022).   DOI: 10.1088/1361-6501/ac440e
 
[J11]      Bridges, A., Yacoot, A., Kissinger, T. and Tatam, R.P. “Multiple intensity reference interferometry for the correction of sub-fringe displacement non-linearities”, Measurement Science and Technology, 33(2):025201, 12pp, (2022).   DOI: 10.1088/1361-6501/ac3aad
 
[J10]      Bridges, A., Yacoot, A., Kissinger, T., Humphreys, D.A. and Tatam, R. P. “Correction of periodic displacement non-linearities by two-wavelength interferometry”, Measurement Science and Technology, 32(12):125202, 12pp, (2021).   DOI: 10.1088/1361-6501/ac1dfa