Forschungsschwerpunkte

Das Fachgebiet "Werkstoffe der Elektrotechnik" befasst sich mit verschiedenen Forschungsschwerpunkten:

  • Oberflächentechnologien, Dünnschichttechnik, PVD-Schichtabscheidung (Mehrebenen- und Mischschichten, Metallisierung, Funktionsschichten, Kontakte)
  • Materialanalytik und Werkstoffprüfung; Schichtmesstechnik, mechanische und zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Prüfzentrum Schicht- und Materialeigenschaften Ilmenau (Amtliche Prüfstelle, akkreditiert nach DIN EN ISO/IEC 17025)
  • Werkstoffentwicklung, neue Materialien, Funktionswerkstoffe, Metallisierung
  • Kontaktwerkstoffe und -systeme, bleifreie Lote, Einsatzuntersuchungen

Leistungsangebot

  • Werkstoffentwicklung, Beschichtungsentwicklung, Werkstoffauswahl und Optimierung, Entwicklung zu Beschichtungswerkstoffen und -verfahren
  • Forschungsarbeiten zu Kontaktwerkstoffen und Kontaktsystemen, Funktionsschichten
  • Entwicklung von Verfahren zur Charakterisierung dünner Schichten
  • Untersuchung von Schicht. und Materialeigenschaften: Röntgendiffraktometrie (Strukturuntersuchungen, Phasennachweis, Spannungsmessungen, Rastertunnel-/Atomkraftmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie (Elementanalyse mittels EDX, EBSD, ESEM), Analytische hochauflösende Transmissonselektronenmikroskopie mit EDX und EELS, Röntgenfluoreszenz (Elementanalyse, Schichtdickenmessung, Element-Tiefenprofile)
  • Spezielle Schichtmesstechnik: elektrische Schicht- und Kontaktmessungen, Schichtdicke, Schichtspannungen, Haftfestigkeit, Härteprofile, mechanische Eigenschaften
  • Werkstoffprüfung: mechanische Kennwerte, Härte, Mikrohärte, Universalhärte (Hartprofil, elektrische und plastische Verformungsenergie), Metallografie mit Bildverarbeitung, Standardverfahren der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung

Spezialausstattung

  • Bedampfungs- und Sputteranlagen, PVC-Anlagen
  • Röntgendiffraktometer, mit Zusätzen für Textur, dünne Schichten, Eigenspannungen
  • Rastersondenmikroskop (AFM)
  • Werkstoffprüfgeräte, metallografische Präparationstechnik,
  • optische Mikroskopie,
  • Mikro- und Universalhärte, Nanoindenter,
  • Schichtspannungsmesser,
  • optisches Profilometer,
  • GDOS, RFA,
  • Thin Film Analyzer,
  • Light Flash Analyzer
  • Schulröntgenanlage
  • Elektrische Messtechnik, Leitfähigkeit, U-I-Kennlinien, Degradationsmessplatz