Forschungsschwerpunkte
Das Fachgebiet "Werkstoffe der Elektrotechnik" befasst sich mit verschiedenen Forschungsschwerpunkten:
- Oberflächentechnologien, Dünnschichttechnik, PVD-Schichtabscheidung (Mehrebenen- und Mischschichten, Metallisierung, Funktionsschichten, Kontakte)
- Materialanalytik und Werkstoffprüfung; Schichtmesstechnik, mechanische und zerstörungsfreie Werkstoffprüfung; Prüfzentrum Schicht- und Materialeigenschaften Ilmenau (Amtliche Prüfstelle, akkreditiert nach DIN EN ISO/IEC 17025)
- Werkstoffentwicklung, neue Materialien, Funktionswerkstoffe, Metallisierung
- Kontaktwerkstoffe und -systeme, bleifreie Lote, Einsatzuntersuchungen
Leistungsangebot
- Werkstoffentwicklung, Beschichtungsentwicklung, Werkstoffauswahl und Optimierung, Entwicklung zu Beschichtungswerkstoffen und -verfahren
- Forschungsarbeiten zu Kontaktwerkstoffen und Kontaktsystemen, Funktionsschichten
- Entwicklung von Verfahren zur Charakterisierung dünner Schichten
- Untersuchung von Schicht. und Materialeigenschaften: Röntgendiffraktometrie (Strukturuntersuchungen, Phasennachweis, Spannungsmessungen, Rastertunnel-/Atomkraftmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie (Elementanalyse mittels EDX, EBSD, ESEM), Analytische hochauflösende Transmissonselektronenmikroskopie mit EDX und EELS, Röntgenfluoreszenz (Elementanalyse, Schichtdickenmessung, Element-Tiefenprofile)
- Spezielle Schichtmesstechnik: elektrische Schicht- und Kontaktmessungen, Schichtdicke, Schichtspannungen, Haftfestigkeit, Härteprofile, mechanische Eigenschaften
- Werkstoffprüfung: mechanische Kennwerte, Härte, Mikrohärte, Universalhärte (Hartprofil, elektrische und plastische Verformungsenergie), Metallografie mit Bildverarbeitung, Standardverfahren der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung
Spezialausstattung
- Bedampfungs- und Sputteranlagen, PVC-Anlagen
- Röntgendiffraktometer, mit Zusätzen für Textur, dünne Schichten, Eigenspannungen
- Rastersondenmikroskop (AFM)
- TEM-Transmissionselektronenmikroskop TECNAI S20 mit EDX, Hellfeld/Dunkelfeldabbildung, STEM
- Werkstoffprüfgeräte, metallografische Präparationstechnik, Mikroskopie, Mikro- und Universalhärte, Nanoindenter, Schichtspannungsmesser, optisches Profilometer, GDOS, RFA, Thin Film Analyzer, Light Flash Analyzer
- Schulröntgenanlage
- Elektrische Messtechnik, Leitfähigkeit, U-I-Kennlinien, Degradationsmessplatz