Publikationsliste aus der Universitätsbibliographie

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Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Kemeny, Martin; Ondrejka, Peter; Kostic, Ivan; Mikolasek, Miroslav; Spieß, Lothar;
Preparation and gas-sensing properties of very thin sputtered NiO films. - In: Journal of electrical engineering, ISSN 1339-309X, Bd. 72 (2021), 1, S. 61-65

We present results on very thin NiO films which are able to detect 3 ppm of acetone, toluene and n-butyl acetate in synthetic air and to operate at 300˚C. NiO films with 25 and 50 nm thicknesses were prepared by dc reactive magnetron sputtering on alumina substrates previously coated by Pt layers as heater and as interdigitated electrodes. Annealed NiO films are indexed to the (fcc) crystalline structure of NiO and their calculated grain sizes are in the range from 22 to 27 nm. Surface morphology of the examined samples was influenced by a rough and compact granular structure of alumina substrate. Nanoporous NiO film is formed by an agglomeration of small grains with different shapes while they are created on every alumina grain.



https://doi.org/10.2478/jee-2021-0009
Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Mikolasek, Miroslav; Kostic, Ivan; Sojkova, Michaela; Romanus, Henry; Hulman, Martin; Buc, Dalibor; Rehacek, Vlastimil;
Layered WS2 thin films prepared by sulfurization of sputtered W films. - In: Applied surface science, Bd. 544 (2021), 148719
Im Titel ist "2" tiefgestellt

We present structural, optical and electrical investigations of layered WS2 films prepared on tungsten. A two-step technique has been used to synthesize layered WS2 films using sulfurization of W films sputtered with thinner (1 and 2 nm) and thicker (14 and 28 nm) thicknesses at 800 ˚C. XRD analysis revealed that the examined films are polycrystalline with texture and have a 2H-WS2 hexagonal microstructure. Using Raman spectroscopy with the 532 nm laser excitation, the presence of E12g and A1g vibration modes was observed and the layered nature of WS2 was confirmed. FE SEM observations showed two different surface morphologies. The samples grown on thinner W films were not compact over the surface and agglomeration of nanosize grains in combination of triangles and flakes was visible. In another group the surface was lamellar and contained plenty of nanorods embedded vertically and/or inclined at different angles to the surface. Layered WS2 films exhibited a direct band gap in the range of 2.1-2.5 eV and they were n-type semiconductors with the sheet resistance in the order of several M at room temperature.



https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.148719
Chavez, Jhohan; Ziolkowski, Marek; Schorr, Philipp; Spieß, Lothar; Böhm, Valter; Zimmermann, Klaus;
A method to approach constant isotropic permeabilities and demagnetization factors of magneto-rheological elastomers. - In: Journal of magnetism and magnetic materials, ISSN 0304-8853, Bd. 527 (2021), 167742

The use of non-conventional materials is nowadays of much interest in scientific community. Magneto-rheological elastomers are hybrid materials, which in presence of magnetic fields state a change in their mechanical properties. They are composed by an elastomeric matrix with embedded magnetic particles. One of the most attractive features of these materials is that as soon as the magnetic field is removed from the material, the original mechanical properties are completely recovered, with negligible differences in comparison to the original state. This paper focuses on the study of magnetic characteristics of these smart materials, such as relative permeability and demagnetizing factors, for samples with different volume concentration of ferromagnetic particles.



https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2021.167742
Schricker, Klaus; Bergmann, Jean Pierre; Hopfeld, Marcus; Spieß, Lothar;
Effect of thermoplastic morphology on mechanical properties in laser-assisted joining of polyamide 6 with aluminum. - In: Welding in the world, ISSN 1878-6669, Bd. 65 (2021), 4, S. 699-711

This paper examined the joining zone between semi-crystalline polyamide 6 and aluminum EN AW 6082 in laser-based joining and evaluated the mechanical properties of the joint. The joint tests were carried out in overlap configuration and a characterized in terms of energy per unit length. The mechanical properties were examined to the point of cohesive failure. An increasing energy per unit length resulted in a reduced crosshead displacement in short-term testing and a decreased fatigue strength. Further material testing was carried out locally at various positions within the joining zone. The mechanical properties were correlated with results of a hardness test, thermoplastic morphology, differential scanning calorimetry (DSC), and X-ray diffraction (XRD). By combining the findings with heat-treated samples at elevated temperatures, secondary crystallization was identified and evidenced as a primary effect among the changes in mechanical properties due to the heat treatment of the thermoplastic material.



https://doi.org/10.1007/s40194-020-01048-1
Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Mikolasek, Miroslav; Kostic, Ivan; Romanus, Henry;
Structural and morphological evaluation of layered WS2 thin films. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 179 (2020), 109570
Im Titel ist "2" tiefgestellt

https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2020.109570
Behúl, Miroslav; Vojs, Marian; Marton, Marián; Michniak, Pavol; Mikolášek, Miroslav; Kurniawan, Mario; Honig, Hauke; Zyabkin, Dmitry; Oliva Ramírez, Manuel; Spieß, Lothar; Flock, Dominik; Bund, Andreas; Papula, Martin; Redhammer, Robert;
Nanostructured boron doped diamond enhancing the photoelectrochemical performance of TiO2/BDD heterojunction anodes. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Volume 171 (2020), 109006, Seite 1-5
Im Titel ist "2" tiefgestellt

https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2019.109006
Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Schwarzer, Robert; Behnken, Herfried; Genzel, Christoph;
Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
3., überarbeitete Auflage. - Wiesbaden : Springer Spektrum, 2019. - 1 Online-Ressource (XVI, 635 Seiten). - (Springer eBooks) ISBN 978-3-8348-8232-5

Einleitung -- Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung -- Beugung von Röntgenstrahlung -- Hardware für die Röntgenbeugung -- Methoden der Röntgenbeugung -- Phasenanalyse -- Zellparameterbestimmung -- Mathematische Beschreibung von Röntgenbeugungsdiagrammen -- Kristallstrukturanalyse -- Röntgenographische Spannungsanalyse -- Röntgenographische Texturanalyse -- Bestimmung der Kristallorientierung -- Untersuchungen an dünnen Schichten -- Spezielle Verfahren -- Komplexe Anwendung -- Zusammenfassung -- Lösung der Aufgaben



https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8232-5
Schricker, Klaus; Bergmann, Jean Pierre; Hopfeld, Marcus; Spieß, Lothar;
Characterization of the joining zone in laser direct joining between thermoplastics and metals. - In: Hybrid Materials and Structures, (2018), S. 210-215

https://edocs.tib.eu/files/e01fn18/1017765650.pdf
Spieß, Lothar; Stürzel, Thomas; Rosenberg, Dirk; Kais, Anke; Schiermeyer, Susanne; Teichert, Gerd;
Bearbeitungszustände sind zerstörungsfrei mit der Röntgendiffraktometrie analysierbar. - In: DGZfP-Jahrestagung 2018, (2018), S. 1-8

Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Sojkova, Michaela; Kostic, Ivan; Mikolasek, Miroslav; Predanocy, Martin; Romanus, Henry; Hulman, Martin; Rehacek, Vlastimil;
Structural and optical properties of WS2 prepared using sulfurization of different thick sputtered tungsten films. - In: Applied surface science, Bd. 461 (2018), S. 133-138
Im Titel ist "2" tiefgestellt

https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2018.05.209
Spieß, Lothar; Oltmanns, Sabine; Schiermeyer, Susanne; Kups, Thomas; Kais, Anke; Rossberg, Diana; Hamann, Bernd;
Sensor technologies for enhanced safety and security of buildings and its occupants (SafeSens) : Teilprojekt: Strukturanalytik und Demonstrator an Metalloxiden für die Gasanalyse (SADMOX) : Abschlußbericht : Projektbeginn: 01.04.2014, Förderzeitraum: 01.07.2014-31.03.2017, Projektende: 30.11.2017. - [Ilmenau] : [Technische Universität Ilmenau (TUIL), Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, Institut für Werkstofftechnik, Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik]. - 1 Online-Ressource (211 Seiten, 49,52 MB)Förderkennzeichen BMBF 16ES0226. - Verbund-Nummer 01152795

https://doi.org/10.2314/GBV:1026691850
Böttcher, René; Spieß, Lothar; Linne, Stefan; Beinersdorf, Heiko;
Bestimmung von Presskräften mittels Ultraschall : (Impuls-Echo-Verfahren). - In: ZfP-Zeitung, ISSN 1616-069X, Bd. 153 (2017), S. 33-35

Hotový, Ivan; Haščík, Štefan; Predanocy, Martin; Mikolášek, Miroslav; Řeháček, Vlastimil; Kostič, Ivan; Nemec, Pavol; Benčurová, nna; Roßberg, Diana; Spieß, Lothar;
The effect of process parameters and annealing on the properties of Ti/Pt films for miniature temperature sensors. - In: ASDAM 2016, ISBN 978-1-5090-3083-5, (2016), S. 85-88

https://doi.org/10.1109/ASDAM.2016.7805901
Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Böttcher, René; Kups, Thomas; Schaaf, Peter;
Only the combination of different NDT methods of material characterization is the key to success. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, ISSN 1435-4934, Bd. 21 (2016), 7, WCNDT 2016, Session: Materials Characterisation, insges. 6 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200173
Spieß, Lothar; Böttcher, René; Stürzel, Thomas; Teichert, Gerd;
Bestimmung von Werkstoffkennwerte mit dem Ultraschallverfahren - Anwendung auf weitere Werkstoffgruppen. - In: DACH-Jahrestagung 2015, ISBN 978-3-940283-68-9, (2015), insges. 5 S.
Poster 22

Böttcher, René; Spieß, Lothar;
Bestimmung von Werkstoffkennwerten mit Ultraschallverfahren - ist der "Goldbarren" echt?. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, ISSN 1435-4934, Bd. 20 (2015), 3, DGZfP 2014, Session: Ultraschallverfahren (UT), Poster 50, insges. 7 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016102504
Tippmann, Herbert; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar; Schaaf, Peter; Tvarožek, Vladimír; Novotný, Ivan
Partnerschaft 1 - Institut für Werkstofftechnik, Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik (TU Ilmenau) und Institut für Elektronik und Photonik, Lehrstuhl Mikroelektronik (STU Bratislava). - In: Retrospektive 50 Jahre Zusammenarbeit Slowakische Technische Universität Bratislava - Technische Universität Ilmenau, (2015), S. 13-37

Spieß, Lothar; Miersch, Helfried; Kups, Thomas
Grundlegende Betrachtungen zur Umsetzung der EU-Richtlinie 2013/59 : "Schutz vor den Gefahren einer Exposition gegenüber ionisierender Strahlung" aus der Sicht der Ausbildung und Industrie. - Saarbrücken : Südwestdt. Verl. für Hochschulschriften, 2015. - VI, 131 S.Literaturverz. S. 127 - 131

Spieß, Lothar; Teichert, Gerd;
"Röntgen" kann noch mehr. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, ISSN 1435-4934, Bd. 19 (2014), 3, DGZfP 2013, Session: Materialcharakterisierung, Di.2.C.1, insges. 8 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200227
Teichert, Gerd; Abawi, Sabine; Camargo, Magali K.; Halbedel, Bernd; Lerp, Marianne; Schmidt, Udo; Wilke, Marcus; Spieß, Lothar;
Zerstörungsfreie Charakterisierung mechanischer Eigenschaften von hartstoffpartikelhaltigen Passivierungsschichten auf galvanischen Zink- und Zinklegierungsschichten. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, ISSN 1435-4934, Bd. 19 (2014), 3, DGZfP 2013, Session: Korrosion, Mi.3.B.2, insges. 8 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016102106
Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Predanocy, Martin; Rehacek, Vlastimil; Racko, Juray
Sputtered nanocrystalline NiO thin films for very low ethanol detection. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 107 (2014), S. 129-131

http://dx.doi.org/10.1016/j.vacuum.2014.04.012
Spieß, Lothar; Wilke, Marcus; Kais, Anke; Teichert, Gerd;
Materialcharakterisierung an Messing-Legierungen, Computertomographie zur Gefügebeurteilung. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, ISSN 1435-4934, Bd. 18 (2013), 5, DGZfP 2012, Session: Materialcharakterisierung, Poster 20, insges. 7 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121
Spieß, Lothar; Weidauer, Ulrich; Kais, Anke; Teichert, Gerd;
Zerstörungsfreie Materialuntersuchungen an einem Pferdemaulkorb aus dem Jahr 1597 aus dem Angermuseum Erfurt. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, ISSN 1435-4934, Bd. 18 (2013), 5, DGZfP 2012, Session: Materialcharakterisierung, Di.1.C.1, insges. 8 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200205
Spieß, Lothar; Roßberg, Diana; Predanoci, Martin; Hotovy, Ivan
Sensorschichten - Ergebnisse methodischer Werkstoffuntersuchungen. - In: Thüringer Werkstofftag 2013, (2013), S. 61-66

http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=22997
Spieß, Lothar;
Strahlungsanwendung in der Technik : technische Entwicklung macht Korrektur von StrlSchV, RöV und nachgelagerter Richtlinien notwendig. - In: Strahlenschutz-Praxis, ISSN 0947-434X, Bd. 19 (2013), 1, S. 34-37

Keller, Thomas F.; Reichert, Jörg; Pham, Tam Thanh; Adjiski, Ranko; Spieß, Lothar; Berzina-Cimdina, Liga; Jandt, Klaus D.; Bossert, Jörg;
Facets of protein assembly on nanostructured titanium oxide surfaces. - In: Acta biomaterialia, ISSN 1878-7568, Bd. 9 (2013), 3, S. 5810-5820

https://doi.org/10.1016/j.actbio.2012.10.045
Kosc, Ivan; Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Griesseler, Rolf; Predanocy, Martin; Wilke, Marcus; Spieß, Lothar
Sputtered TiO 2 thin films with NiO additives for hydrogen detection. - In: Applied surface science, Bd. 269 (2013), S. 110-115

http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.09.061
Hotovy, Juraj; Hüpkes, Jürgen; Böttler, Wanjiao; Marins, E.; Spieß, Lothar; Kups, Thomas; Smirnov, Vladimir; Hotovy, Ivan; Kováč, Jaroslav
Sputtered ITO for application in thin-film silicon solar cells: relationship between structural and electrical properties. - In: Applied surface science, Bd. 269 (2013), S. 81-87

http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.10.180
Predanocy, Martin; Hotový, Ivan; Čaplovičová, Mária; Řeháček, Vlastimil; Košč, Ivan; Spieß, Lothar
Sputtered NiO thin films for organic vapours testing. - In: 2012 Ninth International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), ISBN 978-1-4673-1198-4, (2012), S. 291-294

http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2012.6418540
Morgenbrodt, Sören; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Bamberger, Menachem; Schaaf, Peter
Vergleichende Untersuchungen zur Bestimmung des Austenitgehalts austenitisch-ferritischen Gusseisens mit Kugelgraphit (ADI). - In: HTM - journal of heat treatment and materials, ISSN 1867-2493, Bd. 67 (2012), 6, S. 393-401

Predanocy, Martin; Hotovy, Ivan; Kosc, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Kostic, Ivan; Spieß, Lothar
Simulation, development and characterization of platinum microheater on polyimide membrane. - In: 23rd Micromechanics and Microsystems Europe Workshop, (2012), insges. 4 S.

Zimmermann, Stefan; Specht, Uwe; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Krischok, Stefan; Himmerlich, Marcel; Ihde, Jörg
Improved adhesion at titanium surfaces via laser-induced surface oxidation and roughening. - In: Materials science & engineering. Structural materials / American Society for Metals. - Amsterdam : Elsevier, 1988- , ISSN: 1873-4936 , ZDB-ID: 2012154-4, ISSN 1873-4936, Bd. 558 (2012), S. 755-760

http://dx.doi.org/10.1016/j.msea.2012.08.101
Rehacek, Vlastimil; Hotovy, Ivan; Vojs, Marian; Kups, Thomas; Spieß, Lothar
Nafion-coated bismuth film electrodes on pyrolyzed photoresist/alumina supports for analysis of trace heavy metals. - In: Electrochimica acta, Bd. 63 (2012), S. 192-196

http://dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2011.12.075
Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Wilke, Marcus;
Die Materialcharakterisierungsverfahren Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) und Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) im Alltag eines Werkstoffprüflabors. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, ISSN 1435-4934, Bd. 16 (2011), 1, DGZfP 2010, Session: Materialcharakterisierung, Di.1.C.1, insges. 8 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121
Kosc, Ivan; Hotovy, Ivan; Grieseler, Rolf; Rehacek, Vlastimil; Wilke, Marcus; Spiess, Lothar
Thin compound oxide films based on NiO and TiO 2 for gas detection. - In: Proceedings of the 17th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, APCOM 2011, June 22 - 24, 2011, Spa Nový Smokovec, High Tatras, Slovak Republic, ISBN 978-80-5540386-1, (2011), S. 268-271

Spieß, Lothar; Morgenbrodt, Sören; Teichert, Gerd; Schaaf, Peter
Restaustenitbestimmung-vergleichende Untersuchung mit zerstörungsfreien Messmethoden. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 7 S.

Spieß, Lothar; Grieseler, Rolf; Wilke, Markus; Teichert, Gerd; Schaaf, Peter
Bestimmung von Werkstoffkenngrößen mittels der instrumentierten Eindringhärteprüfung. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 5 S.

Reháček, Vlastimil; Hotový, Ivan; Vojs, Marian; Kotlár, Mário; Kups, Thomas; Spieß, Lothar;
Pyrolyzed photoresist film electrodes for application in electroanalysis. - In: Journal of electrical engineering, ISSN 1339-309X, Bd. 62 (2011), 1, S. 49-53

http://dx.doi.org/10.2478/v10187-011-0008-0
Kosinskiy, Mikhail; Ahmed, Syed Imad-Uddin; Liu, Yonghe; Gubisch, Maik; Mastylo, Rostyslav; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.
Friction and wear properties of WC/C nano-scale multilayer coatings on technical surfaces. - In: Tribology letters, ISSN 1573-2711, Bd. 44 (2011), 1, S. 89-98

http://dx.doi.org/10.1007/s11249-011-9826-2
Schaaf, Peter; Spieß, Lothar; Kups, Thomas; Romanus, Henry; Grieseler, Rolf; Hopfeld, Marcus; Wilke, Marcus; Stauden, Thomas; Lorenz, David; Fischer, Andreas
Schichten über Schichten : innovative Beschichtungen für komplexe Anwendungen. - In: Vakuum in Forschung und Praxis, ISSN 1522-2454, Bd. 23 (2011), 3, S. 24-32

http://dx.doi.org/10.1002/vipr.201100457
Teichert, Gerd; Wilke, Marcus; Spieß, Lothar; Schaaf, Peter
Komplexe Materialprüfung und Schadensanalyse - Praxisbeispiele aus dem Ofenbau-, Beschichtungs- und Automobilbereich. - In: Materials testing, ISSN 0025-5300, Bd. 53 (2011), 3, S. 150-158

Hotový, Ivan; Kups, Thomas; Hotový, Juraj; Liday, Jozef; Búc, Dalibor; Čaplovičová, Mária; Reháček, Vlastimil; Sitter, Helmut; Simbrunner, Clemens; Bonnani, Alberta; Spieß, Lothar;
Structural evolution of sputtered indium oxide thin films. - In: Journal of electrical engineering, ISSN 1339-309X, Bd. 61 (2010), 6, S. 382-385

http://dx.doi.org/10.2478/v10187-010-0059-7
Kosc, Ivan; Hotovy, Ivan; Kompitsas, Michael; Grieseler, Rolf; Wilke, Marcus; Rehacek, Vlastimil; Predanocy, Martin; Kups, Thomas; Spieß, Lothar
The compound oxides based on TiO2 and NiO thin films for low temperature gas detection. - In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010, ISBN 978-1-4244-8572-7, (2010), S. 337-340

http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5666355
Predanocy, Martin; Fasaki, I.; Wilke, Marcus; Hotovy, Ivan; Kosc, Ivan; Spieß, Lothar
Study of optical and electrical properties of sputtered indium oxide films. - In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010, ISBN 978-1-4244-8572-7, (2010), S. 297-300

http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5667003
Novotný, Ivan; Kotorová, D.; Flickyngerová, Sona; Tvarožek, Vladimir; Spiess, Lothar; Schaaf, Peter; Netrvalová, Marie; Šutta, Pavol
Effect of substrate temperature on oblique-angle sputtered ZnO:Ga thin films. - In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010, ISBN 978-1-4244-8572-7, (2010), S. 73-76

http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5666346
Tvarožek, Vladimír; Novotny, Ivan; Sutta, Pavol; Netrvalova, Marie; Flickyngerova, Sona; Spieß , Lothar; Schaaf, Peter
Sputtering of ZnO:Ga thin films with the inclined crystalic texture. - In: 2010 27th International Conference on Microelectronics proceedings (MIEL), ISBN 978-1-4244-7200-0, (2010), S. 177-180

http://dx.doi.org/10.1109/MIEL.2010.5490506
Hotovy, Ivan; Pezoldt, Jörg; Kadlecikova, M.; Kups, Thomas; Spieß, Lothar; Breza, Juraj; Sakalauskas, Egidius; Goldhahn, Rüdiger; Rehacek, Vlastimil
Structural characterization of sputtered indium oxide films deposited at room temperature. - In: Thin solid films, Bd. 518 (2010), 16, S. 4508-4511

http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2009.12.018
Spieß, Lothar; Kups, Thomas; Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Wilke, Marcus
Struktur und Oberflächenmorphologie von gesputterten TiO2-Schichten. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 121-126

http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Spieß, Lothar; Westphal, Hartmut; Tümmler, Michael; Schmidt, Denny; Wilke, Marcus; Kups, Thomas
Schichteigenschaftsbestimmung an Hartmetallen. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 127-132

http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Hofmann, Martin; Teichert, Gerd; ; Spieß, Lothar;
Darstellung der Eigenschaftsverteilung in einer einsatzgehärteten Randschicht mit verschiedenen Methoden. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 133-138
Parallel als Druckausg. erschienen

http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Grieseler, Rolf; Romanus, Henry; Schaaf, Peter; Remdt, Elvira; Spieß, Lothar
Untersuchung zur Phasenausbildung von Platinsiliziden mittels PVD und unterschiedlicher Temperprozesse. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 149-154

http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Kups, Thomas; Knote, Andreas; Kern, Heinrich; Remdt, Elvira; Spieß, Lothar
Structural characterization of metal-ceramic coatings by electron microscopy. - In: Thüringer Werkstofftag 2010, (2010), S. 189-194

http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Spieß, Lothar; Rädlein, Edda; Schaaf, Peter
Thüringer Werkstofftag 2010 : Technische Universität Ilmenau, 24. März 2010 ; wissenschaftliche Beiträge
[Online-Ausg.]. - Ilmenau : Univ.-Verl. Ilmenau, 2010. - Online-Ressource (PDF-Datei: IX, 214 S., 18,42 MB). - (Werkstofftechnik aktuell ; 2)Literaturangaben

Der Tagungsband "Thüringer Werkstofftag 2010" sind die Proceedings des 8. Thüringer Werkstofftages, der im März 2010 an der TU Ilmenau stattfindet. Der Band beinhaltet die Wissenschaftlichen Beiträge (Vorträge und Poster), die auf dem Thüringer Werkstofftag 2010 vorgestellt werden und die als Manuskript zur Veröffentlichung eingereicht wurden. Für alle weiteren Beiträge, für die kein Manuskript eingereicht wurde, ist die Zusammenfassung des jeweiligen Beitrages in den Tagungsband aufgenommen worden.



http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=15197
Shokhovets, Sviatoslav; Spieß, Lothar; Gobsch, Gerhard
Spectroscopic ellipsometry of wurtzite ZnO and GaN: examination of a special case. - In: Journal of applied physics, ISSN 1089-7550, Bd. 107 (2010), 2, S. 023509, insges. 10 S.

http://dx.doi.org/10.1063/1.3285485
Hotovy, Ivan; Tengeri, David; Rehacek, Vlastimil; Hascik, Stefan; Pullmannova, Andrea; Kosc, Ivan; Kups, Thomas; Spieß, Lothar
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1. Aufl.. - Berlin : Köster, 2004. - VIII, 219 S.. - (Schriftenreihe Werkstoffwissenschaften ; 18) ISBN 3-89574-519-7

Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar;
NiO thin films for gas sensing applications. - In: Sensors for Enviromental Control, (2003), S. 58-63

Hotovy, Ivan; Liday, Jozef; Spieß, Lothar; Sitter, Helmut; Vogrincic, Peter
Study of annealed NiO thin films sputtered on unheated substrate. - In: Japanese journal of applied physics, ISSN 1347-4065, Bd. 42.2003, Pt. 2, 10A, S. L1178-L1181

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Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Romanus, Henry; Breiter, Manuela; Müller, Ch.; Cimalla, Volker; Ecke, Gernot; Liu, Yonghe; Knedlik, Christian
Tungsten carbide layers for nanomeasuring systems. - In: Proceedings, (2003), S. 165-170

Cui, S.; Scharff, Peter; Siegmund, Carmen; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Schawohl, Jens; Risch, Katrin; Schneider, Doreen; Klötzer, Susann
Preparation of multiwalled carbon nanotubes by DC arc discharge under a nitrogen atmosphere. - In: Carbon, ISSN 0008-6223, Bd. 41 (2003), 8, S. 1648-1651

http://dx.doi.org/10.1016/S0008-6223(03)00083-6
Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Liday, Jozef; Sitter, Helmut; Hascik, S.
The influence of process parameters and annealing temperature on the physical properties of sputtered NiO thin films. - In: Vacuum, ISSN 0042-207X, Bd. 69 (2003), 1/3, S. 237-242

http://dx.doi.org/10.1016/S0042-207X(02)00338-X
Goldhahn, Rüdiger; Shokhovets, Sviatoslav; Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Ecke, Gernot; Ambacher, Oliver; Furthmüller, J.; Bechstedt, F.; Lu, Hai; Schaff, William J.
Dielectric function of "narrow" band gap InN. - In: GaN and related alloys - 2002, 2003, S. L5.9.1-L5.9.6, insges. 6 S.

Rehacek, Vlastimil; Novotny, Ivan; Tvarozek, Vladimir; Vavrinsky, Erik; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar
Thin-film gold, palladium and indium tin oxide microelectrodes modified by mercury. - In: Proceedings and our portrait, (2003), insges. 16 S.

Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Schawohl, Jens; Rehacek, Vlastimil
NiO films with Pt surface modification for gas sensing. - In: Proceedings and our portrait, (2003), insges. 2 S.

Erler, Frank; Jakob, Christine; Romanus, Henry; Spieß, Lothar; Wielage, Bernhard; Lampke, Thomas; Steinhäuser, Siegfried
Interface behaviour in nickel composite coatings with nano-particles of oxidic ceramic. - In: Electrochimica acta, Bd. 48 (2003), 20/22, S. 3063-3070

Advances in micro-technology demand that new functional materials be developed so that the technical properties of micro-devices can be improved at reasonable cost. The co-deposition of nanoscaled particles during an electroplating process has been shown to bring such an improvement. This work focuses on particles of oxidic ceramics, in this case those of Al2O3 and TiO2. The diameters of the primary particles ranges from 10 to 30 nm, electrodeposited by means of a conventional Watts nickel electrolyte. A series of nickel nano-ceramic composites were produced, with co-deposition of particles as a single primary particle in the nanometre range at one end of the sale and as agglomerates up to a size of a micrometer at the other. The influence of the presence of particles on crystallisation behaviour, residual stress and texture of the deposited nickel coatings was examined by X-ray diffraction (XRD). There is a report on the interfaces between the nickel grains and the oxidic ceramic particles, investigates using transmission electron microscopy (TEM). A decreasing corrosion stability indicates an attack along the interface nickel/particles.



http://dx.doi.org/10.1016/S0013-4686(03)00380-3
Jakubec, Andrej; Tvarozek, Vladimir; Novotny, I.; Rehacek, Vlastimil; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar
Characterization of Indium-Tin-Oxide thin film microelectrodes for biomedical use. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 662-665

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Spieß, Lothar; Knedlik, Christian
Nutzung von Werkstoffstrukturgrößen als Messnormale. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 648-653

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Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg; Ecke, Gernot; Kosiba, Rastislav; Ambacher, Oliver; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Lu, Hai; Schaff, William J.
Growth of cubic InN on r-plane sapphire. - In: Applied physics letters, ISSN 1077-3118, Bd. 83 (2003), 17, S. 3468-3470

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Weih, Petia; Cimalla, Volker; Förster, Christian; Pezoldt, Jörg; Stauden, Thomas; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Hermann, Martin; Eickhoff, Martin; Masri, Pierre
High-resolution XRD investigations of the strain reduction in 3C-SiC thin films grown on Si (111) substrates. - In: Silicon carbide and related materials 2002, (2003), S. 433-436

Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar;
Sensing characteristics of NiO thin films as NO2 gas sensors. - In: Thin solid films, Bd. 418 (2002), 1, S. 9-15
Im Titel ist "2" tiefgestellt

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Jakubec, A.; Rehacek, Vlastimil; Novotny, I.; Ivanic, R.; Tvarozek, Vladimir; Knedlik, Christian; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar
Thin films for electrochemical sensoric interfaces. - In: Conference proceedings, (2002), S. 321-324

Kremmer, J.; Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Siroky, J.; Spieß, Lothar; Schawohl, Jens
Physical and structural characterization of NiO films for gas detection. - In: Conference proceedings, (2002), S. 107-110

Jakubec, Andrej; Tvarozek, Vladimir; Novotny, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar
Characterization of thin film ITO microelectrodes for biomedical use. - In: 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (2002), insges. 6 S.

Hofmann, M.; Teichert, Gerd; ; Spieß, Lothar;
Sprödbruchbildung an nitrierten hochfesten Warmarbeitsstählen. - In: Thüringer Werkstofftag 2002, (2002), S. 106-107

Gubisch, Maik; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Knedlik, Christian
EBSD-Analyse von technischen Werkstoffoberflächen. - In: Thüringer Werkstofftag 2002, (2002), S. 86-91

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar; Rehacek, Vlastimil
The influences of preparation parameters on NiO thin film properties for gas-sensing application. - In: Sensors and actuators, ISSN 0925-4005, Bd. 78 (2001), 1/3, S. 126-132

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Ivanic, R.; Rehacek, Vlastimil; Novotny, I.; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Tvarotzek, V.
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Pezoldt, Jörg; Schröter, B.; Cimalla, Volker; Stauden, Thomas; Goldhahn, Rüdiger; Romanus, Henry; Spieß, Lothar;
Carbonization induced change of the polarity for MBE grown 3C-SiC/Si(111). - In: Silicon carbide and related materials, (2001), S. 179-182

Rebacek, Vlastimil; Novotny, I.; Ivanic, R.; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Tvarozek, Vladimir
Vertically arranged microelectrode array for electrochemical sensing. - In: Conference proceedings, (2000), S. 421-424

Romanus, Henry; Cimalla, Volker; Schäfer, Jürgen A.; Spieß, Lothar; Ecke, Gernot; Pezoldt, Jörg;
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Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Capkovic, R.; Hascík, S.
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Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Hascik, S.; Rehacek, Vlastimil
Preparation of nickel oxide thin films for gas sensors applications. - In: Sensors and actuators, ISSN 0925-4005, Bd. 57 (1999), 1/3, S. 147-152

http://dx.doi.org/10.1016/S0925-4005(99)00077-5
Schawohl, Jens; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Reich, Steffen; Böswetter, Gerd
Charakterisierung von CVD-Hartstoffschichten auf Hartmetall. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 7 S.

Spieß, Lothar; Knedlik, Christian
Nanostrukturierte Werkstoffe - Meßnormale?. - In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1999), insges. 6 S.

Novotny, I.; Breternitz, Volkmar; Ivanic, R.; Knedlik, Christian; Tvarozek, Vladimir; Spieß, Lothar; Rehacek, Vlastimil
Thin film microelectrode arrays for electrochemical biosensors. - In: [Vortragsreihen, (1999), S. 215-220

Romanus, Henry; Teichert, Gerd; Spieß, Lothar;
Investigation of polymorphism and estimation of lattice constants of SiC epilayers by four circle X-ray diffraction. - In: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, (1998), S. 437-440

Hotovy, Ivan; Janik, J.; Huran, Jozef; Spieß, Lothar
Preparation and structural characterization of nickel oxide films for gas sensor devices. - In: Conference proceedings, (1998), S. 175-178

Romanus, Henry; Teichert, Gerd; Schawohl, Jens; Spieß, Lothar
Röntgenografische Textur- und Einkristalluntersuchungen an SiC. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 5 S.

Teichert, Gerd; Schleicher, Larissa; Spieß, Lothar; Yankov, Rossen A.; Knedlik, Christian; Pezoldt, Jörg
Thermowellenanalyse an implantiertem SiC. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 8 S.

Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Teichert, Gerd; Pezoldt, Jörg
Werkstoffanalytische Probleme bei der Charakterisierung von Siliziumkarbid für Mikrotechnikanwendungen. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Schawohl, Jens
Effect of oxygen concentration in the sputtering mixture on the properties of dc magnetron sputtered NiO films. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Knedlik, Christian; Spieß, Lothar
Werkstoffe und Analytik für die Mikroelektronik aus der Sicht der Metallisierung und Kontaktierung. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.

Romanus, Henry; Cimalla, Volker; Kromka, Alexander; Scheiner, Jörg; Spieß, Lothar; Pezoldt, Jörg
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Spieß, Lothar; Nennewitz, Olaf; Weishart, H.; Lindner, Jörg; Skorupa, Wolfgang; Romanus, Henry; Erler, Frank; Pezoldt, Jörg;
Aluminium implantation of p-SiC for ohmic contacts. - In: Diamond and related materials, ISSN 0925-9635, Bd. 6 (1997), 10, S. 1414-1419

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Improved ohmic contacts to p-type 6H-SiC. - In: Silicon carbide and related materials 1995, (1996), S. 585-588

Fabricius, Alexander; Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg
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Analysis of reflection high energy electron diffraction pattern of silicon carbide grown on silicon. - In: Evolution of epitaxial structure and morphology, (1996), S. 17-22

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Ohmic contacts to p-type 6H-silicon carbide. - In: Applied surface science, Bd. 91 (1995), 1/4, S. 347-351

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Spieß, Lothar;
Röntgenstrahlen in der Technik. - In: 100 Jahre Röntgenstrahlen - Thüringer Beiträge, (1995), S. 86-96

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Ohmsche Kontakte auf p-type 6H-Siliciumkarbid. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 730-735

Fabricius, Alexander; Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg
Herstellung von WSi 2 und TiSi 2 durch Co-Sputtern und RTA. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 724-729

Hotový, Ivan; Vanek, Oldrich; Spieß, Lothar; Nennewitz, Olaf
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Mann, Dieter; Eicke, Axel; Bilger, G.; Hummel, Wolf Joachim; Spieß, Lothar;
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Nennewitz, Olaf; Schmidt, H.; Pezoldt, Jörg; Stauden, Thomas; Schawohl, Jens; Spieß, Lothar
X-ray diffraction analysis of RTP-annealed thin ZnO films. - In: Thin films, (1994), S. 666-669

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Spieß, Lothar; Schawohl, Jens; Straßburger, Torsten; Rode, Annett
Röntgendiffraktometrische Sonderverfahren an dünnen Schichten. - In: Vortragsreihen Mikroelektronik und Schaltungstechnik, Kommunikations- und Meßtechnik, (1992), S. 198-203

Spieß, Lothar;
Führt die Höchstintegration der Mikroelektronik zu einer Analytikkrise?. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 133-136

Spieß, Lothar; Tvarožek, Vladimir; Novotný, I.; Gr&hacek;no, J.; Liday, Jozef; Va&hacek;nek, Oldrich
Titansilicidschichten auf Poly-Si und SiO2. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium, ISSN 0374-3365, Bd. 35 (1990), 5, S. 47-50

Spieß, Lothar;
Rechnerunterstützte komplexe Festkörperanalytik für Mikroelektronikwerkstoffe, insbesondere von Siliciden zur Metallisierung von höchstintegrierten Schaltkreisen. - Ilmenau. - 1 Band (verschiedene Seitenzählungen)
Technische Hochschule Ilmenau, Habilitationsschrift 1990

Enthält Thesen

Spieß, Lothar; Klein, Sylke; Schawohl, Jens; Essler, Nora; Knedlik, Christian
Komplexe Strukturanalytik von Metallisierungsschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift, ISSN 0043-6917, Bd. 35 (1989), 1, S. 51-60

Knedlik, Christian; Spieß, Lothar; Tippmann, Herbert; Linß, M.; Schneider, Martin
Modernste Metallisierungskonzepte für höchstintegrierte Schaltkreise - Probleme und Lösungen. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift, ISSN 0043-6917, Bd. 35 (1989), 1, S. 41-50

Tippmann, Herbert; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl; Spieß, Lothar
Wolfram-Silizide für die VLSI-Mikroelektronik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift, ISSN 0043-6917, Bd. 34 (1988), 4, S. 199-205

Spieß, Lothar; Schawohl, Jens; Tippmann, Herbert; Knedlik, Christian
Röntgenprofilanalyse an Schwermetallsilicidschichten. - In: Kurzfassungen der Posterbeiträge, (1987), S. 56-57

Lippert, Gunther; Procop, Mathias; Borchardt, Wolfgang; Spieß, Lothar; Urwank, Peter
Sputtering of Mo-Si layers from composite targets. - In: Thin solid films, Bd. 149 (1987), 2, S. 2011-218

http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(87)90297-5
Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl; Schlöffel, Lutz; Steding, Jens; Tvarozek, Vladimir; Nowotny, Iwan; Harmann, Rudolf; Grno, J.
Komplexer Analysezyklus (elektrische Messungen, Röntgenfeinstruktur, AES, RBS) zur Charakterisierung von W/Si-Sandwichanordnungen. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 91-94

Spieß, Lothar; Tippmann, Herbert; Nitzsche, Karl; Knedlik, Christian; Stedig, J.; Harmann, Rudolf; Tvarozek, Vladimir; Nowotny, Iwan
Herstellung und Charakterisierung von Wolfram-Silizium-Mischschichten unterschiedlicher Stöchiometrie. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 87-89

Spieß, Lothar; Lippert, Gunther
Eigenschaften von MoSi2-Schichten - hergestellt mit dem Mosaiktarget. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium, ISSN 0374-3365, Bd. 32 (1987), 5, S. 83-85

Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Hummel, Wolf-Joachim; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl; Linß, M.
Eigenschaften von Tantal-Silizium-Mischschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift, ISSN 0043-6917, Bd. 32 (1986), 6, S. 175-182

Spieß, Lothar; Tippmann, Herbert; Hegewald, Gunter; Nitzsche, Karl; Knedlik, Christian
Wolframsilicidbildung durch Temperung von Wolframschichten auf einkristallinem Silicium. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift, ISSN 0043-6917, Bd. 32 (1986), 6, S. 167-174

Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Linß, M.; Hummel, Wolf-Joachim; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl
Triotron-Zerstäubungsanordnung zur Herstellung von Ta/Si-Mischschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift, ISSN 0043-6917, Bd. 32 (1986), 3, S. 161-166

Spieß, Lothar;
Zur Silizidproblematik in Metallisierungssystemen für integrierte Schaltkreise der VLSI-Technik. - Ilmenau, 1985. - 1 Band (verschiedene Seitenzählungen)
Technische Hochschule Ilmenau, Dissertation 1985


Spieß, Lothar; Tippmann, Herber; Knedlik, Christian
Elektrische Charakterisierung von Schwermetall-Silizium-Mischschichten. - In: Internationales wissenschaftliches Kolloquium, ISSN 0374-3365, Bd. 29 (1984), 5, S. 7-10

Nitzsche, Karl; Knedlik, Christian; Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Harman, Rudolf; Vanek, Oldrich; Tvarozek, Vladimir
Herstellung und Charakterisierung von getemperten Wolframschichten auf einkristallinem Silizium. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 6, S. 131-140

Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian
Elektrische Charakterisierung von Schichten und Strukturen der Metallisierung für die VLSI-Technik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 143-152