Prof. Dr.-Ing. habil. Lothar Spieß

Spieß, L. (Hrsg.); 2., neu bearbeitete und erweiterte Auflage "100 Jahre Röntgenstrahlen - Thüringer Beiträge" https://doi.org/10.22032/dbt.69359 - Universitätsverlag Ilmenau 2026,

Anläßlich 130 Jahre Entdeckung der Röntgenstrahlen neu bearbeitete und erweiterte Auflage der Festschrift aus dem Jahr 1995 jetzt mit Addendum (33 Seiten) und mit einem Grußwort von Herrn Minister Christian Tischner, Thüringer Minister für Bildung, Wissenschaft und Kultur

Spieß, L.; Teichert, G.; Schwarzer, R.; Behnken, H.; Genzel, Ch.: Moderne Röntgenbeugung – Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker. 3. bearbeitete und erweiterte Aufl. Wiesbaden: Springer Spektrum, 2019 – 635 S. – ISBN 978-3-8348-1219-3,

Spiess, L.; Schaaf, P.; Rädlein, E.: Thüringer Werkstofftag 2010 - Vorträge und Poster. 1. Aufl. Universitätsverlag Ilmenau 2010 – 214 S. – ISBN 978-3–939473-74-9

Spieß, L.; Teichert, G.; Schwarzer, R.; Behnken, H.; Genzel, Ch.: Moderne Röntgenbeugung – Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker. 2. bearbeitete und erweiterte Aufl. Wiesbaden: B. G. Teubner, 2009 – 564 S. – ISBN 978-3-8351-0166-1

Spieß, L.; Schwarzer, R.; Behnken, H.; Teichert, G.: Moderne Röntgenbeugung – Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker. 1. Aufl. Wiesbaden: B.G. Teubner, 2005 – 523 S. – ISBN 3–519–00522

Spiess, L.; Kern, H.; Knedlik, C.: Thüringer Werkstofftag 2004 - Vorträge und Poster. 1. Aufl. Berlin: Dr. Köster Verlag, 2004 – 230 S. – ISBN 3–89574–519–7

Moderne Röntgenbeugung

Die 3. verbesserte und erweiterte Auflage ist am; 02.05.2019 im Springer-Spektrum Verlag erschienen!

635 Seiten einschließlich Lösung von 28 Aufgaben, 392 Abbildungen davon 77 in Farbe, 99 Tabellen, 286 Literaturstellen, ISBN: 978-3-8348-1219-5; Preis: 37,99 €

Röntgenbeugung in Theorie und Praxis: Das Praxislehrbuch für Studium und Beruf

Das Buch bietet einen umfassenden Überblick über die Anwendungen der Röntgenbeugung in Gebieten wie Werkstofftechnik, Metallurgie, Elektrotechnik, Maschinenbau sowie Mikro- und Nanotechnik. Die nötigen Grundkenntnisse der Röntgenbeugung werden fundiert und anschaulich vermittelt. Dabei werden neue Techniken und Auswerteverfahren ebenso dargestellt wie altbekannte Methoden.

Korrekturseiten

Literatur - Vorlesungen Funktionswerkstoffe; Werkstoffzustände und -analyse; Werkstoffcharakterisierung;
Kristallographie; Strahlenschutz; Werkstoffauswahl und Werkstoffmodellierung

1. Schatt, W.: Einführung in die Werkstoffwissenschaft; 9. Auflage, Wiley-VCH Verlag 2003
2. Schumann, H.; Oettel, H.: Metallografie; 14. Auflage, Wiley-VCH Verlag 2004
3. Ivers-Tiffee, E.; von Münch, W.: Werkstoffe der Elektrotechnik; 10. Auflage, Teubner Verlag 2007
4. Rösler, J.; Harders, H.; Bäker, M.: Mechanisches Verhalten der Werkstoffe; 2. Auflage, Teubner Verlag 2006
5. Hornbogen, E.:Werkstoffe: Aufbau und Eigenschaften von Keramik, Metallen, Polymer- und Verbundwerkstoffen; 8. Auflage, Springer Verlag 2006
6. Callister, W. D.: Materials science and engineering - an introduction; 7. edition, Wiley 2007
7. Nitzsche, K.: Funktionswerkstoffe der Elektrotechnik und Elektronik; 2. Auflage, Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie 1993
8. Fischer, H.; Hofmann, H.; Spindler, J.: Werkstoffe in der Elektrotechnik; 4. Auflage, Hanser Verlag 2000
9. Seidel, W.: Werkstofftechnik : Werkstoffe, Eigenschaften, Prüfung, Anwendung; 6. Auflage, Hanser Verlag 2005
10. Bergmann, W.: Werkstofftechnik Band 1 und Band 2; 3. Auflage, Hanser Verlag 2000/2002
11. Frühauf, J.: Werkstoffe der Mikrotechnik; 1. Auflage, Hanser Verlag 2005
12. Ilschner, B.; Singer, R. E.: Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik; 4. Auflage, Springer Verlag 2005
13. Roos, E.; Maile, K.:Werkstoffkunde für Ingenieure; 2. Auflage, Springer Verlag 2005
14. Bargel, H. J.; Schulze, G.: Werkstoffkunde; 9. Auflage, Springer Verlag, 2005
15. Hofmann, H.; Spindler, J.: Verfahren der Oberflächentechnik; 1. Auflage, Hanser Verlag 2005
16. Weißbach, W.; Aufgabensammlung Werkstoffkunde und Werkstoffprüfung, Vieweg Verlag 2004
17. Wohlfart, H.; Ruge, J.: Technologie der Werkstoffe; 7. Auflage, Vieweg Verlag 2002
18. Weißbach, W.: Werkstoffkunde und Werkstoffprüfung; 14. Auflage, Vieweg Verlag 2001
19. Buckel, W.; Kleiner, R.: Supraleitung; 6. Auflage Wiley-VCH 2004
20. Fasching, G.: Werkstoffe für die Elektrotechnik; 2. Auflage; Springer Verlag 1987
21. Macherauch, E.: Praktikum der Werkstoffkunde, 10. Auflage, Friedrich Vieweg & Sohn, Braunschweig 1992
22. M. Merkel, K.H. Thomas: Taschenbuch der Werkstoffe; 5. Auflage, Fachbuchverlag Leipzig 2000
23. Jousten, K.;Wutz - Handbuch Vakuumtechnik; 9. Auflage, Vieweg Verlag 2006
24. Müller, W. H.; Ferber, F.: Technische Mechanik für Ingenieure; 1. Auflage, Fachbuchverlag Leipzig 2003
25. Dankert, J.; Dankert, H.: Technische Mechanik: Statik, Festigkeitslehre, Kinematik/Kinetik; 3. Auflage, Teubner Verlag 2004
26. Holzmann, G.; Meyer, H.; Schumpich, G.: Technische Mechanik 3; 8. Auflage, Teubner Verlag 2002
27. Menges, G.; Haberstroh, E.; Michaeli, W.; Schmachtenberg, E.: Werkstoffkunde Kunststoffe; 5. Auflage, Hanser Verlag 2002
28. Hofmann, H.; Spindler, J.: Verfahren der Oberflächentechnik; 1. Auflage, Fachbuchverlag Leipzig, 2004
29. Schiffner, G.: Optische Nachrichtentechnik; 1. Auflage Teubner Verlag 2005
30. Matthes, K. J.; Richter, E.:Schweißtechnik: 2. Auflage, Fachbuchverlag Leipzig 2003
31. Matthes, K. J.; Riedel, F.; Fügetechnik: 1. Auflage, Fachbuchverlag Leipzig 2003
32. Hilleringmann, U.: Silizium Halbleitertechnologie; 3. Auflage, Teubner Verlag 2002
33. Mescheder, U.; Mikrosystemtechnik; 2. Auflage, Teubner Verlag 2004
34. Roddeck,W.: Einführung in die Mechatronik; 3. Auflage, Teubner Verlag 2006
35. Spieß, L.; Teichert, G.; Behnken, H.; Schwarzer, R.: Moderne Röntgenbeugung, 1. Auflage, Teubner Verlag 2005
36. Kleinknecht, K.: Detektoren für Teilchenstrahlung, 4. Auflage, Teubner Verlag 2005
37. Stolz, W.: Radioaktivität; 5. Auflage, Teubner Verlag 2005
38. Massa, W.: Kritallstrukturbestimmung; 4. Auflage, Teubner Verlag 2005
39. Grellmann, W.; Seidler, S.; Kunststoffprüfung, Fachbuchverlag Leipzig, 1. Auflage 2006
40. Heine, B.: Werkstoffprüfung; Fachbuchverlag Leipzig, 2003
41. Allmann, R.; Kern, A.: Röntgenpulverdiffraktometrie; 2. Auflage, Springer Verlag 2002
42. Nitzsche, K.: Schichtmeßtechnik; Vogel Buch Verlag Würzburg 1997
43. Hunger, H.J.: Werkstoffanalytische Verfahren: eine Auswahl; 1. Auflage, Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie 1995
44. Eichler, J.: Physik - Grundlagen für das Ingenieurstudium, 2. Auflage, Vieweg Verlag 2004
45. Reimer, l.: Scanning Electron Microscopy; 2. Auflage, Springer Verlag 1998
46. Reimer, L; Pfefferkorn, G.: Raster-Elektronenmikroskopie; 2. Auflage, Springer Verlag 1977
47. Schmidt, P. F.: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse, expert-Verlag 1994
48. Slayter, E.: Light and electron microscopy, Cambridge Univ. Press 1992
49. Riesebeck; Beyer, H.: Handbuch der Mikroskopie, Verlag Technik Berlin 1988
50. Schäfer; Terlecki: Halbleiterprüfung, Hüthig-Verlag 1986
51. Kleber, W.; Bautsch, H.J.; Bohm, J.: Einführung in die Kristallographie; 18. Auflage, Verlag Technik Berlin 1998
52. Borchardt-Ott, W.: Kristallographie; 6. Auflage, Springer Verlag 2002
53. Müller, U.: Anorganische Strukturchemie; 5. Auflage, Teubner Verlag 2006
54. Krieger, H.: Strahlungsquellen für Technik und Medizin, 1. Auflage, Teubner Verlag 2005
55. Vogt, H.G.; Schultz, H.: Grundzüge des praktischen Strahlenschutzes, 3. Auflage, Hanser Verlag 2004
56. Krieger, H.: Strahlenphysik, Dosimetrie und Strahlenschutz, Bd. 1; 5. Auflage, Teubner Verlag 2002
57. Storm, R.: Wahrscheinlichkeitsrechnung, mathematische Statistik und statistische Qualitätskontrolle; 11. Auflage, Fachbuchverlag Leipzig 2001
58. Engeln-Mülges, G.; Schäfer, W.; Trippler, G.: Kompaktkurs Ingenieurmathematik; 3. Auflage, Fachbuchverlag Leipzig 2004
59. Timischl, W.: Qualitätssicherung - Statistische Methoden; 2. Auflage, Hanser Verlag 1996
60. Voß, W.: Taschenbuch der Statistik; 1. Auflage, Fachbuchverlag Leipzig 2000
61. Papula, L.; Mathematische Formelsammlung, Vieweg Verlag 2004
62. Papula, L.; Mathematik für Ingenieure und Naturwissenschaftler - Anwendungsbeispiele, Vieweg Verlag 2004, 5. Auflage
63. Kleppmann, W.; Taschenbuch Versuchsplanung, Fachbuchverlag Leipzig, 4. Auflage, 2006
64. Meyer, H.; Beschreibende Statistik, Hanser Verlag 2006, 4. Auflage
65. Linß, G.; Statistiktraining im Qualitätsmanagement; Hanser Verlag; 1. Auflage 2006
66. Haussühl, S.; Physical Properties of Crystals, Wiley Verlag, 1. Auflage 2007
67. Hoenow, G.; Meißner, Tomas; Entwerfen und Gestalten im Maschinenbau, Hanser Verlag 2007
68. Böhmer, E.; Ehrhard, D.; Oberschelp, W.; Elemente der angewandten Elektronik, Vieweg Verlag 2007

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Spieß, Lothar (ed.):

100 Jahre Röntgenstrahlen - Thüringer Beiträge

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2., neu bearbeitete und erweiterte Auflage. - Ilmenau : Universitätsverlag Ilmenau, 2026

DOI: https://doi.org/10.22032/dbt.69359

Grad, Marius; Honig, Hauke; Diemar, Andreas; Flock, Dominik; Spieß, Lothar:

Complex material analysis of a TiC coating produced by hot pressing with optical light microscopy, EDS, XRD, GDOES and EBSD

#!ilm_mods_00009487!#

In: Surface and coatings technology, vol. 476 (2024), art. 130265

DOI: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2023.130265

Grad, Marius; Zentgraf, Jan; Schultheiss, Ulrich; Esper, Lukas; Diemar, Andreas; Noster, Ulf; Spieß, Lothar:

Effect of carbon content on the phase composition, microstructure and mechanical properties of the TiC layer formed in hot-pressed titanium-steel composites

#!ilm_mods_00020351!#

In: Metals: open access journal, vol. 14 (2024), no. 9, art. 959

DOI: https://doi.org/10.3390/met14090959

Grad, Marius; Schultheiß, Ulrich; Diemar, Andreas; Spieß, Lothar; Noster, Ulf:

Preparation methodology for the microstructural characterization of diffusion layers in a titanium/steel composite

#!ilm_mods_00026085!#

In: Practical metallography: preparation, imaging and analysis of microstructures, vol. 61 (2024), no. 12, pp. 938–946

DOI: https://doi.org/10.1515/pm-2024-0087

Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Kemeny, Martin; Ondrejka, Peter; Kostic, Ivan; Mikolasek, Miroslav; Spieß, Lothar:

Preparation and gas-sensing properties of very thin sputtered NiO films

#!ilm_mods_00008561!#

In: Journal of electrical engineering, vol. 72 (2021), no. 1, pp. 61–65

DOI: https://doi.org/10.2478/jee-2021-0009

Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Mikolasek, Miroslav; Kostic, Ivan; Sojkova, Michaela; Romanus, Henry; Hulman, Martin; Buc, Dalibor; Rehacek, Vlastimil:

Layered WS₂ thin films prepared by sulfurization of sputtered W films

#!ilm_mods_00000651!#

In: Applied surface science: a journal devoted to applied physics and chemistry of surfaces and interfaces, vol. 544 (2021), art. 148719

DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.148719

Chavez, Jhohan; Ziolkowski, Marek; Schorr, Philipp; Spieß, Lothar; Böhm, Valter; Zimmermann, Klaus:

A method to approach constant isotropic permeabilities and demagnetization factors of magneto-rheological elastomers

#!ilm_mods_00001515!#

In: Journal of magnetism and magnetic materials: MMM, vol. 527 (2021), art. 167742

DOI: https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2021.167742

Schricker, Klaus; Bergmann, Jean Pierre; Hopfeld, Marcus; Spieß, Lothar:

Effect of thermoplastic morphology on mechanical properties in laser-assisted joining of polyamide 6 with aluminum

#!ilm_mods_00008799!#

In: Welding in the world: the international journal of materials joining, vol. 65 (2021), no. 4, pp. 699–711

DOI: https://doi.org/10.1007/s40194-020-01048-1

Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Mikolasek, Miroslav; Kostic, Ivan; Romanus, Henry:

Structural and morphological evaluation of layered WS₂ thin films

#!ilm_mods_00009484!#

In: Vacuum: surface engineering, surface instrumentation & vacuum technology, vol. 179 (2020), art. 109570

DOI: https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2020.109570

Behúl, Miroslav; Vojs, Marian; Marton, Marián; Michniak, Pavol; Mikolášek, Miroslav [et al.]:

Nanostructured boron doped diamond enhancing the photoelectrochemical performance of TiO₂/BDD heterojunction anodes

#!ilm_mods_00009106!#

In: Vacuum: surface engineering, surface instrumentation & vacuum technology, vol. 171 (2020), art. 109006

DOI: https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2019.109006

Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Schwarzer, Robert; Behnken, Herfried; Genzel, Christoph:

Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker

#!ilm_mods_00012651!#

3., überarbeitete Auflage. - Wiesbaden : Springer Spektrum, 2019. - ISBN 978-3-8348-1219-3

DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8232-5

Spieß, Lothar; Oltmanns, Sabine; Schiermeyer, Susanne; Kups, Thomas; Kais, Anke; Rossberg, Diana; Hamann, Bernd:

Sensor technologies for enhanced safety and security of buildings and its occupants (SafeSens): Teilprojekt: Strukturanalytik und Demonstrator an Metalloxiden für die Gasanalyse (SADMOX) : Abschlußbericht : Projektbeginn: 01.04.2014, Förderzeitraum: 01.07.2014-31.03.2017, Projektende: 30.11.2017

#!ilm_mods_00017647!#

Ilmenau, 2018

DOI: https://doi.org/10.2314/GBV:1026691850

Schricker, Klaus; Bergmann, Jean Pierre; Hopfeld, Marcus; Spieß, Lothar:

Characterization of the joining zone in laser direct joining between thermoplastics and metals

#!ilm_mods_00018193!#

In: Hybrid Materials and Structures: Proceedings 3. Internationale Konferenz : 18.-19. April 2018, Bremen, ATLANTIC Hotel Universum, (2018), pp. 210–215

URL: https://edocs.tib.eu/files/e01fn18/1017765650.pdf

Spieß, Lothar; Stürzel, Thomas; Rosenberg, Dirk; Kais, Anke; Schiermeyer, Susanne; Teichert, Gerd:

Bearbeitungszustände sind zerstörungsfrei mit der Röntgendiffraktometrie analysierbar

#!ilm_mods_00019345!#

In: DGZfP-Jahrestagung 2018: Kurzfassungen der Vorträge und Posterbeiträge : Leipzig, 7.-9. Mai 2018 (ISBN 978-3-940283-92-4), (2018), pp. 1–8

Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Sojkova, Michaela; Kostic, Ivan; Mikolasek, Miroslav; Predanocy, Martin; Romanus, Henry; Hulman, Martin; Rehacek, Vlastimil:

Structural and optical properties of WS₂ prepared using sulfurization of different thick sputtered tungsten films

#!ilm_mods_00014294!#

In: Applied surface science: a journal devoted to applied physics and chemistry of surfaces and interfaces, vol. 461 (2018), pp. 133–138

DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2018.05.209

Böttcher, René; Spieß, Lothar; Linne, Stefan; Beinersdorf, Heiko:

Bestimmung von Presskräften mittels Ultraschall: (Impuls-Echo-Verfahren)

#!ilm_mods_00026180!#

In: ZfP-Zeitung: Zeitschrift der DACH-Gesellschaften DGZfP, ÖGfZP und SGZP, vol. 153 (2017), pp. 33–35

Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Böttcher, René; Kups, Thomas; Schaaf, Peter:

Only the combination of different NDT methods of material characterization is the key to success

#!ilm_mods_00030445!#

In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, vol. 21 (2016), no. 7

[19. World Conference on Non-Destructive Testing (WCNDT) (München, 13.-17.06.2016)]

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200173

Hotový, Ivan; Haščík, Štefan; Predanocy, Martin; Mikolášek, Miroslav; Řeháček, Vlastimil [et al.]:

The effect of process parameters and annealing on the properties of Ti/Pt films for miniature temperature sensors

#!ilm_mods_00031395!#

In: ASDAM 2016: the 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : Smolenice Castle, Slovakia, November 13-16, 2016 : conference proceedings (ISBN 978-1-5090-3082-8), (2016), pp. 85–88

DOI: https://doi.org/10.1109/ASDAM.2016.7805901

Tippmann, Herbert; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar; Schaaf, Peter; Tvarožek, Vladimír; Novotný, Ivan:

Partnerschaft 1 - Institut für Werkstofftechnik, Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik (TU Ilmenau) und Institut für Elektronik und Photonik, Lehrstuhl Mikroelektronik (STU Bratislava)

#!ilm_mods_00032899!#

In: Retrospektive 50 Jahre Zusammenarbeit Slowakische Technische Universität Bratislava - Technische Universität Ilmenau: Festschrift 1965 - 2015. - 2015, pp. 13–37

Spieß, Lothar; Miersch, Helfried; Kups, Thomas:

Grundlegende Betrachtungen zur Umsetzung der EU-Richtlinie 2013/59: “Schutz vor den Gefahren einer Exposition gegenüber ionisierender Strahlung” aus der Sicht der Ausbildung und Industrie

#!ilm_mods_00032799!#

Saarbrücken : Südwestdt. Verl. für Hochschulschriften, 2015. - ISBN 978-3-8381-5091-8

Spieß, Lothar; Böttcher, René; Stürzel, Thomas; Teichert, Gerd:

Bestimmung von Werkstoffkennwerte mit dem Ultraschallverfahren - Anwendung auf weitere Werkstoffgruppen

#!ilm_mods_00031980!#

In: DACH-Jahrestagung 2015: Salzburg, 11. - 13. Mai in Salzburg, (2015)

Böttcher, René; Spieß, Lothar:

Bestimmung von Werkstoffkennwerten mit Ultraschallverfahren - ist der “Goldbarren” echt?

#!ilm_mods_00033238!#

In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, vol. 20 (2015), no. 3, art. Poster 50

[DGZfP-Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung (Potsdam, 26.-28.05.2014)]

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016102504

Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Predanocy, Martin; Rehacek, Vlastimil; Racko, Juray:

Sputtered nanocrystalline NiO thin films for very low ethanol detection

#!ilm_mods_00030265!#

In: Vacuum: surface engineering, surface instrumentation & vacuum technology, vol. 107 (2014), pp. 129–131

DOI: https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2014.04.012

Spieß, Lothar; Teichert, Gerd:

“Röntgen” kann noch mehr

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In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, vol. 19 (2014), no. 3, art. Di.2.C.1

[DGZfP-Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung (Dresden, 06.-08.05.2013)]

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200227

Teichert, Gerd; Abawi, Sabine; Camargo, Magali K.; Halbedel, Bernd; Lerp, Marianne; Schmidt, Udo; Wilke, Marcus; Spieß, Lothar:

Zerstörungsfreie Charakterisierung mechanischer Eigenschaften von hartstoffpartikelhaltigen Passivierungsschichten auf galvanischen Zink- und Zinklegierungsschichten

#!ilm_mods_00035460!#

In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, vol. 19 (2014), no. 3, art. Mi.3.B.2

[DGZfP-Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung (Dresden, 06.-08.05.2013)]

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016102106

Spieß, Lothar:

Strahlungsanwendung in der Technik: technische Entwicklung macht Korrektur von StrlSchV, RöV und nachgelagerter Richtlinien notwendig

#!ilm_mods_00035040!#

In: Strahlenschutz-Praxis: Zeitschrift für den sicheren Umgang mit ionisierender und nichtionisierender Strahlung ; Organ des Fachverbandes für Strahlenschutz e.V., vol. 19 (2013), no. 1, pp. 34–37

Keller, Thomas F.; Reichert, Jörg; Pham, Tam Thanh; Adjiski, Ranko; Spieß, Lothar; Berzina-Cimdina, Liga; Jandt, Klaus D.; Bossert, Jörg:

Facets of protein assembly on nanostructured titanium oxide surfaces

#!ilm_mods_00035084!#

In: Acta biomaterialia, vol. 9 (2013), no. 3, pp. 5810–5820

DOI: https://doi.org/10.1016/j.actbio.2012.10.045

Spieß, Lothar; Roßberg, Diana; Predanoci, Martin; Hotovy, Ivan:

Sensorschichten - Ergebnisse methodischer Werkstoffuntersuchungen

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In: Thüringer Werkstofftag 2013: Werkstoffe-Wissenschaft-Wirtschaft ; Technische Universität Ilmenau, 21. März 2013 (ISBN 978-3-86360-080-8), (2013), pp. 61–66

Spieß, Lothar; Wilke, Marcus; Kais, Anke; Teichert, Gerd:

Materialcharakterisierung an Messing-Legierungen, Computertomographie zur Gefügebeurteilung

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In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, vol. 18 (2013), no. 5, art. Poster 20

[DACH-Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung (Graz, 17.-19.09.2012)]

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121

Spieß, Lothar; Weidauer, Ulrich; Kais, Anke; Teichert, Gerd:

Zerstörungsfreie Materialuntersuchungen an einem Pferdemaulkorb aus dem Jahr 1597 aus dem Angermuseum Erfurt

#!ilm_mods_00037258!#

In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, vol. 18 (2013), no. 5, art. Di.1.C.1

[DACH-Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung (Graz, 17.-19.09.2012)]

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200205

Kosc, Ivan; Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Grieseler, Rolf; Predanocy, Martin; Wilke, Marcus; Spieß, Lothar:

Sputtered TiO2 thin films with NiO additives for hydrogen detection

#!ilm_mods_00035548!#

In: Applied surface science: a journal devoted to applied physics and chemistry of surfaces and interfaces, vol. 269 (2013), pp. 110–115

[3. SURFINT-SREN (Florence, 14.-19.05.2012), 3. Progress in Applied Surface, Interface and Thin Film Science - Solar Renewable Energy News (Florence, 14.-19.05.2012)]

DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.09.061

Hotovy, Juraj; Hüpkes, Jürgen; Böttler, Wanjiao; Marins, E.; Spieß, Lothar; Kups, Thomas; Smirnov, Vladimir; Hotovy, Ivan; Kováč, Jaroslav:

Sputtered ITO for application in thin-film silicon solar cells: relationship between structural and electrical properties

#!ilm_mods_00035549!#

In: Applied surface science: a journal devoted to applied physics and chemistry of surfaces and interfaces, vol. 269 (2013), pp. 81–87

[3. SURFINT-SREN (Florence, 14.-19.05.2012), 3. Progress in Applied Surface, Interface and Thin Film Science - Solar Renewable Energy News (Florence, 14.-19.05.2012)]

DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2012.10.180

Rehacek, Vlastimil; Hotovy, Ivan; Vojs, Marian; Kups, Thomas; Spieß, Lothar:

Nafion-coated bismuth film electrodes on pyrolyzed photoresist/alumina supports for analysis of trace heavy metals

#!ilm_mods_00036919!#

In: Electrochimica acta: the journal of the International Society of Electrochemistry (ISE), vol. 63 (2012), pp. 192–196

DOI: https://doi.org/10.1016/j.electacta.2011.12.075

Predanocy, Martin; Hotovy, Ivan; Kosc, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Kostic, Ivan; Spieß, Lothar:

Simulation, development and characterization of platinum microheater on polyimide membrane

#!ilm_mods_00037836!#

In: 23rd Micromechanics and Microsystems Europe Workshop: MME 2012 Ilmenau, September 9 - 12, Ilmenau, Germany ; proceedings, (2012)

Zimmermann, Stefan; Specht, Uwe; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Krischok, Stefan; Himmerlich, Marcel; Ihde, Jörg:

Improved adhesion at titanium surfaces via laser-induced surface oxidation and roughening

#!ilm_mods_00036774!#

In: Materials science & engineering: A, structural materials: properties, microstructure and processing, vol. 558 (2012), pp. 755–760

DOI: https://doi.org/10.1016/j.msea.2012.08.101

Morgenbrodt, Sören; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Bamberger, Menachem; Schaaf, Peter:

Vergleichende Untersuchungen zur Bestimmung des Austenitgehalts austenitisch-ferritischen Gusseisens mit Kugelgraphit (ADI)

#!ilm_mods_00036720!#

In: HTM - journal of heat treatment and materials: Zeitschrift für Werkstoffe, Wärmebehandlung, Fertigung, vol. 67 (2012), no. 6, pp. 393–401

DOI: https://doi.org/10.3139/105.110169

Predanocy, Martin; Hotový, Ivan; Čaplovičová, Mária; Řeháček, Vlastimil; Košč, Ivan; Spieß, Lothar:

Sputtered NiO thin films for organic vapours testing

#!ilm_mods_00037455!#

In: 2012 Ninth International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM): 11 - 15 Nov. 2012, Smolenice Castle, Slovakia, (2012), pp. 291–294

DOI: https://doi.org/10.1109/ASDAM.2012.6418540

Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Wilke, Marcus:

Die Materialcharakterisierungsverfahren Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) und Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) im Alltag eines Werkstoffprüflabors

#!ilm_mods_00037395!#

In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, vol. 16 (2011), no. 1, art. Di.1.C.1

[Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung (Erfurt, 10.-12.05.2010)]

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121

Reháček, Vlastimil; Hotový, Ivan; Vojs, Marian; Kotlár, Mário; Kups, Thomas; Spieß, Lothar:

Pyrolyzed photoresist film electrodes for application in electroanalysis

#!ilm_mods_00038733!#

In: Journal of electrical engineering, vol. 62 (2011), no. 1, pp. 49–53

DOI: https://doi.org/10.2478/v10187-011-0008-0

Schaaf, Peter; Spieß, Lothar; Kups, Thomas; Romanus, Henry; Grieseler, Rolf [et al.]:

Schichten über Schichten: innovative Beschichtungen für komplexe Anwendungen

#!ilm_mods_00038756!#

In: Vakuum in Forschung und Praxis: Zeitschrift für Vakuumtechnologie, Oberflächen und Dünne Schichten, vol. 23 (2011), no. 3, pp. 24–32

DOI: https://doi.org/10.1002/vipr.201100457

Kosinskiy, Mikhail; Ahmed, Imad; Liu, Yonghe; Gubisch, Maik; Mastylo, Rostyslav; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.:

Friction and wear properties of WC/C nano-scale multilayer coatings on technical surfaces

#!ilm_mods_00038591!#

In: Tribology letters, vol. 44 (2011), no. 1, pp. 89–98

DOI: https://doi.org/10.1007/s11249-011-9826-2

Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Wilke, Marcus:

Die Materialcharakterisierungsverfahren Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) und Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) im Alltag eines Werkstoffprüflabors

#!ilm_mods_00038779!#

In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, vol. 16 (2011), no. 1

[Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung (Erfurt, 10.-12.05.2010)]

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121

Teichert, Gerd; Wilke, Marcus; Spieß, Lothar; Schaaf, Peter:

Komplexe Materialprüfung und Schadensanalyse - Praxisbeispiele aus dem Ofenbau-, Beschichtungs- und Automobilbereich

#!ilm_mods_00038718!#

In: Materials testing: Materialprüfung ; materials and components, technology and application, vol. 53 (2011), no. 3, pp. 150–158

URL: https://ezb.ur.de/?2637816-4

Kosc, Ivan; Hotovy, Ivan; Grieseler, Rolf; Rehacek, Vlastimil; Wilke, Marcus; Spieß, Lothar:

Thin compound oxide films based on NiO and TiO 2 for gas detection

#!ilm_mods_00039393!#

In: Proceedings of the 17th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, APCOM 2011, June 22 - 24, 2011, Spa Nový Smokovec, High Tatras, Slovak Republic, (2011), pp. 268–271

Spieß, Lothar; Grieseler, Rolf; Wilke, Markus; Teichert, Gerd; Schaaf, Peter:

Bestimmung von Werkstoffkenngrößen mittels der instrumentierten Eindringhärteprüfung

#!ilm_mods_00039603!#

In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung: 30. Mai - 1. Juni 2011, Bremen ; Berichtsband, (2011)

Spieß, Lothar; Morgenbrodt, Sören; Teichert, Gerd; Schaaf, Peter:

Restaustenitbestimmung-vergleichende Untersuchung mit zerstörungsfreien Messmethoden

#!ilm_mods_00039602!#

In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung: 30. Mai - 1. Juni 2011, Bremen ; Berichtsband, (2011)

Spieß, Lothar; Rädlein, Edda; Schaaf, Peter (eds.):

Thüringer Werkstofftag 2010: Technische Universität Ilmenau, 24. März 2010 ; wissenschaftliche Beiträge

#!ilm_mods_00041687!#

Ilmenau : Univ.-Verl. Ilmenau, 2010. - ISBN 978-3-939473-74-9

[Thüringer Werkstofftag (Ilmenau, 24.03.2010)]

(Werkstofftechnik aktuell: Schriftenreihe aus dem Fakultätsübergreifenden Institut für Werkstofftechnik (IWT) an der TU Ilmenau ; 2)

URL: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2010100079

Hotovy, Ivan; Pezoldt, Jörg; Kadlecikova, Magdaléna; Kups, Thomas; Spieß, Lothar; Breza, Juraj; Sakalauskas, Egidijus; Goldhahn, Rüdiger; Rehacek, Vlastimil:

Structural characterization of sputtered indium oxide films deposited at room temperature

#!ilm_mods_00041649!#

In: Thin solid films: international journal on the science and technology of condensed matter films, vol. 518 (2010), no. 16, pp. 4508–4511

DOI: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2009.12.018

Žochovec, Svjatoslav; Spieß, Lothar; Gobsch, Gerhard:

Spectroscopic ellipsometry of wurtzite ZnO and GaN: examination of a special case

#!ilm_mods_00041546!#

In: Journal of applied physics: AIP’s archival journal for significant new results in applied physics, vol. 107 (2010), no. 2, art. 23509

DOI: https://doi.org/10.1063/1.3285485

Hotový, Ivan; Kups, Thomas; Hotový, Juraj; Liday, Jozef; Búc, Dalibor [et al.]:

Structural evolution of sputtered indium oxide thin films

#!ilm_mods_00041331!#

In: Journal of electrical engineering, vol. 61 (2010), no. 6, pp. 382–385

DOI: https://doi.org/10.2478/v10187-010-0059-7

Predanocy, Martin; Fasaki, I.; Wilke, Marcus; Hotovy, Ivan; Kosc, Ivan; Spieß, Lothar:

Study of optical and electrical properties of sputtered indium oxide films

#!ilm_mods_00042514!#

In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010: 25 - 27 Oct. 2010, Smolenice Castle, Slovakia ; conference proceedings, (2010), pp. 297–300

DOI: https://doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5667003

Kosc, Ivan; Hotovy, Ivan; Kompitsas, Michael; Grieseler, Rolf; Wilke, Marcus; Rehacek, Vlastimil; Predanocy, Martin; Kups, Thomas; Spieß, Lothar:

The compound oxides based on TiO2 and NiO thin films for low temperature gas detection

#!ilm_mods_00042513!#

In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010: 25 - 27 Oct. 2010, Smolenice Castle, Slovakia ; conference proceedings, (2010), pp. 337–340

DOI: https://doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5666355

Novotný, Ivan; Kotorová, D.; Flickyngerová, Sona; Tvarožek, Vladimir; Spieß, Lothar; Schaaf, Peter; Netrvalová, Marie; Šutta, Pavol:

Effect of substrate temperature on oblique-angle sputtered ZnO:Ga thin films

#!ilm_mods_00042515!#

In: 8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2010: 25 - 27 Oct. 2010, Smolenice Castle, Slovakia ; conference proceedings, (2010), pp. 73–76

DOI: https://doi.org/10.1109/ASDAM.2010.5666346

Tvarožek, Vladimír; Novotny, Ivan; Sutta, Pavol; Netrvalova, Marie; Flickyngerova, Sona; Spieß, Lothar; Schaaf, Peter:

Sputtering of ZnO:Ga thin films with the inclined crystalic texture

#!ilm_mods_00042654!#

In: 2010 27th International Conference on Microelectronics proceedings (MIEL): date: 16 - 19 May 2010, Nis, Serbia ; [includes] Mini-Colloquium: Nanotechnologies and Nanodevices, (2010), pp. 177–180

DOI: https://doi.org/10.1109/MIEL.2010.5490506

Spieß, Lothar; Kups, Thomas; Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Wilke, Marcus:

Struktur und Oberflächenmorphologie von gesputterten TiO2-Schichten

#!ilm_mods_00042712!#

In: Thüringer Werkstofftag 2010: Technische Universität Ilmenau, 24. März 2010 ; wissenschaftliche Beiträge (ISBN 978-3-939473-74-9), (2010), pp. 121–126

Hofmann, Martin; Teichert, Gerd; Spieß, Lothar:

Darstellung der Eigenschaftsverteilung in einer einsatzgehärteten Randschicht mit verschiedenen Methoden

#!ilm_mods_00042714!#

In: Thüringer Werkstofftag 2010: Technische Universität Ilmenau, 24. März 2010 ; wissenschaftliche Beiträge (ISBN 978-3-939473-74-9), (2010), pp. 133–138

Spieß, Lothar; Westphal, Hartmut; Tümmler, Michael; Schmidt, Denny; Wilke, Marcus; Kups, Thomas:

Schichteigenschaftsbestimmung an Hartmetallen

#!ilm_mods_00042713!#

In: Thüringer Werkstofftag 2010: Technische Universität Ilmenau, 24. März 2010 ; wissenschaftliche Beiträge (ISBN 978-3-939473-74-9), (2010), pp. 127–132

Grieseler, Rolf; Romanus, Henry; Schaaf, Peter; Remdt, Elvira; Spieß, Lothar:

Untersuchung zur Phasenausbildung von Platinsiliziden mittels PVD und unterschiedlicher Temperprozesse

#!ilm_mods_00042716!#

In: Thüringer Werkstofftag 2010: Technische Universität Ilmenau, 24. März 2010 ; wissenschaftliche Beiträge (ISBN 978-3-939473-74-9), (2010), pp. 149–154

Kups, Thomas; Knote, Andreas; Kern, Heinrich; Remdt, Elvira; Spieß, Lothar:

Structural characterization of metal-ceramic coatings by electron microscopy

#!ilm_mods_00042722!#

In: Thüringer Werkstofftag 2010: Technische Universität Ilmenau, 24. März 2010 ; wissenschaftliche Beiträge (ISBN 978-3-939473-74-9), (2010), pp. 189–194

Kups, Thomas; Knote, Andreas; Krüger, Horst Günter; Winkler, Heinz-Volker; Kern, Heinrich; Spieß, Lothar:

Herstellung und komplexe Charakterisierung von Metall-Keramik-Verbundschichten

#!ilm_mods_00019421!#

In: Materials science and engineering technology, vol. 40 (2009), no. 12, pp. 894–900

DOI: https://doi.org/10.1002/(ISSN)1521-4052

Hotovy, Ivan; Pullmannová, Andrea; Predanocy, Martin; Hotový, Juraj; Rehacek, Vlastimil; Kups, Thomas; Spieß, Lothar:

Structural and morphological investigations of TiO2 sputtered thin films

#!ilm_mods_00044148!#

In: Journal of electrical engineering, vol. 60 (2009), no. 6, pp. 354–357

URL: http://www.bibliothek.uni-regensburg.de/ezeit/?2676892

Spieß, Lothar:

Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker

#!ilm_mods_00045747!#

2., überarb. und erw. Aufl. - Wiesbaden : Vieweg + Teubner, 2009. - ISBN 978-3-8351-0166-1

(Studium)

Liu, Yonghe; Gubisch, Maik; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.:

Sliding friction of nanocomposite WC1-x/C coatings: transfer film and its influence on tribology

#!ilm_mods_00044866!#

In: Journal of nanoscience and nanotechnology, vol. 9 (2009), no. 6, pp. 3499–3505

DOI: https://doi.org/10.1166/jnn.2009.NS23

Hotovy, Ivan; Tengeri, David; Rehacek, Vlastimil; Hascik, Stefan; Pullmannova, Andrea; Kosc, Ivan; Kups, Thomas; Spieß, Lothar:

Gas sensing micromachined structure based on gallium arsenide

#!ilm_mods_00045329!#

In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future: proceedings ; 54. IWK ; 07 - 10 September 2009, (2009)

URL: https://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=14796

Hotovy, Ivan; Predanocy, Martin; Hotovy, Juraj; Pezoldt, Jörg; Wilke, Marcus; Kups, Thomas; Kosc, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Spieß, Lothar:

Nanostructured indium oxide thin films deposited at room temperature

#!ilm_mods_00045328!#

In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future: proceedings ; 54. IWK ; 07 - 10 September 2009, (2009)

URL: https://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=14795

Rehacek, Vlastimil; Hotovy, Ivan; Vojs, Marian; Kups, Thomas; Spieß, Lothar:

An effect of bismuth film electroplating variables on electrode performance in electroanalysis

#!ilm_mods_00045359!#

In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future: proceedings ; 54. IWK ; 07 - 10 September 2009, (2009)

URL: https://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=14793

Kups, Thomas; Knote, Andreas; Spieß, Lothar:

SEM and TEM investigations of electrophoretical deposited Si3N4 and SiC particles in siloxane of steel substrate

#!ilm_mods_00047698!#

In: EMC 2008: 14th European Microscopy Congress, 1 - 5 September 2008, Aachen, Germany ; Volume 2: Materials science (ISBN 978-3-540-85225-4), (2008), pp. 695–696

DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-540-85226-1

Kups, Thomas; Kremin, Christoph; Hoffmann, Martin; Spieß, Lothar:

Surface investigation of SU-8 by atomic force and scanning electron microscopy

#!ilm_mods_00047699!#

In: EMC 2008: 14th European Microscopy Congress, 1 - 5 September 2008, Aachen, Germany ; Volume 2: Materials science (ISBN 978-3-540-85225-4), (2008), pp. 693–694

DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-540-85226-1

Hotovy, Juraj; Kups, Thomas; Kovac, Jaroslav; Spieß, Lothar; Novotny, Ivan; Kovac, Jaroslav:

Growth and characterization of ZnO thin films using XRD and AFM

#!ilm_mods_00048021!#

In: Prospects in mechanical engineering: proceedings ; 53. IWK, Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 8 - 12 September 2008, (2008)

URL: https://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=18044

Hotovy, Ivan; Predanocy, Martin; Hotovy, Juraj; Kups, Thomas; Spieß, Lothar; Wang, Chunyu; Rehacek, Vlastimil:

Growth and characterization of indium oxide films for ozone detection

#!ilm_mods_00048022!#

In: Prospects in mechanical engineering: proceedings ; 53. IWK, Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 8 - 12 September 2008, (2008)

URL: https://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=18741

Hotový, Ivan; Liday, Jozef; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Čaplovičová, Mária; Búc, Dalibor; Sitter, Helmuth; Bonanni, Alberta; Vogrinčič, Peter:

TEM investigations of Au-NiO nanocrystalline thin films as gas sensing material

#!ilm_mods_00049100!#

In: Journal of electrical engineering, vol. 58 (2007), no. 6, pp. 347–350

URL: http://www.bibliothek.uni-regensburg.de/ezeit/?2676892

Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Wulf, Sven-Erik; Hänsel, Thomas; Kosinskiy, Mikhail; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.:

Nanolayered and nanoparticle-dispersed WC/C coatings: frictional and wear behavior

#!ilm_mods_00049468!#

In: 71st annual meeting of the DPG and spring meeting of the Condensed Matter Division and the sections: Biological Physics, Environmental Physics, Extraterrestrial Physics, History of Physics, Physics Education, Radiation and Medical Physics as well as the working groups: Energy Matters, Equal Opportunities, Industry and Economy, Information, Physics and Disarmament, Physics of Socio-Economic Systems: March 26 - 30, 2007, University of Regensburg, (2007), art. MM 20.29

Kosinskiy, Mikhail; Liu, Yonghe; Gubisch, Maik; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.:

Tribological performance of WC/C coatings on rough substrates

#!ilm_mods_00049480!#

Hildebrand, Gerhard; Grohmann, Steffi; Rupprecht, Bernd; Spieß, Lothar; Rechtenbach, Annett; Liefeith, Klaus:

Physiko-chemische und zellbiologische Untersuchungen an ätztechnisch modifizierten Titanproben zur Verbesserung der Osteointegration

#!ilm_mods_00049685!#

In: Oberflächentechnik für die Praxis: Plenarvorträge, Kurzvorträge, Posterzusammenfassungen ; Erfurt, 12./13. September 2007, (2007), pp. 291–297

Knote, Andreas; Krüger, Horst Günter; Selve, Sören; Kups, Thomas; Kern, Heinrich; Spieß, Lothar:

Metal-ceramic composite layers on stainless steel through the combination of electrophoretic deposition and galvanic processes

#!ilm_mods_00049207!#

In: Journal of materials science, vol. 42 (2007), no. 12, pp. 4545–4551

DOI: https://doi.org/10.1007/s10853-006-0482-0

Kups, Thomas; Wang, Chunyu; Gubisch, Maik; Spieß, Lothar; Ambacher, Oliver:

TEM investigation of sputtered and epitaxial grown indium oxide layers for ozone sensors

#!ilm_mods_00049193!#

In: Microscopy and microanalysis: the official journal of the Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada, vol. 13 (2007), no. 3, pp. 406–407

DOI: https://doi.org/10.1017/S1431927607082037

Blank, Claudia; Krischok, Stefan; Gutt, Richard; Engel, Michael; Schäfer, Jürgen A. [et al.]:

Ionenimplantierte Titanoberflächen für den Hartgewebeersatz

#!ilm_mods_00049305!#

In: Biomaterialien: interdisziplinäre Zeitschrift für Funktions-Werkstoffe im Hart- und Weichgewebe, vol. 8 (2007), no. 4, pp. 285–292

DOI: https://doi.org/10.1515/BIOMAT.2007.8.4.285

Romanus, Henry; Schadewald, Jens; Cimalla, Volker; Niebelschütz, Merten; Machleidt, Torsten; Franke, Karl-Heinz; Spieß, Lothar; Ambacher, Oliver:

Markers prepared by focus ion beam technique for nanopositioning procedures

#!ilm_mods_00049415!#

In: Microelectronic engineering, vol. 84 (2007), no. 3, pp. 524–527

DOI: https://doi.org/10.1016/j.mee.2006.10.076

Romanus, Henry; Schadewald, Jens; Cimalla, Volker; Niebelschütz, Merten; Machleidt, Torsten; Franke, Karl-Heinz; Spieß, Lothar; Ambacher, Oliver:

Preparation of defined structures on very thin foils for characterization of AFM probes

#!ilm_mods_00049416!#

In: Microelectronic engineering, vol. 84 (2007), no. 3, pp. 528–531

DOI: https://doi.org/10.1016/j.mee.2006.10.077

Krischok, Stefan; Blank, Claudia; Engel, Michael; Gutt, Richard; Ecke, Gernot [et al.]:

Influence of ion implantation on titanium surfaces for medical applications

#!ilm_mods_00049374!#

In: Surface science: including Surface science letters ; a journal devoted to the physics and chemistry of interfaces, vol. 601 (2007), no. 18, pp. 3856–3860

DOI: https://doi.org/10.1016/j.susc.2007.04.060

Cimalla, Volker; Machleidt, Torsten; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Hotovy, Ivan; Romanus, Henry; Ambacher, Oliver:

Analysis of nanocrystalline films on rough substrates

#!ilm_mods_00049375!#

In: Ultramicroscopy, vol. 107 (2007), no. 10/11, pp. 989–994

DOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.02.046

Machleidt, Torsten; Franke, Karl-Heinz; Romanus, Henry; Cimalla, Volker; Niebelschütz, Merten; Spieß, Lothar; Ambacher, Oliver:

Using defined structures on very thin foils for characterizing AFM tips

#!ilm_mods_00049376!#

In: Ultramicroscopy, vol. 107 (2007), no. 10/11, pp. 1086–1090

DOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.05.004

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Capone, Simonetta; Rehacek, Vlastimil; Taurino, A.M.; Donoval, Daniel; Siciliano, Pietro:

Au-NiO nanocrystalline thin films for sensor application

#!ilm_mods_00049407!#

In: Journal of physics: Conference Series, vol. 61 (2007), pp. 435–439

[International Conference on Nanoscience and Technology (ICN&T) (Basel, 30.07.-04.08.2006)]

DOI: https://doi.org/10.1088/1742-6596/61/1/087

Hotovy, Ivan; Donoval, Daniel; Huran, Jozef; Hascik, Stefan; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Capone, Simonetta:

NiO nanostructured films with Pt coating prepared by magnetron sputtering

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In: Czechoslovak journal of physics, vol. 56 (2006), no. 2, pp. B1192–B1198

DOI: https://doi.org/10.1007/s10582-006-0349-2

Liu, Yonghe; Gubisch, Maik; Hänsel, Thomas; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.:

Evaluation of the friction of WC/DLC solid lubricating films in vacuum

#!ilm_mods_00051817!#

In: Tribology international, vol. 39 (2006), no. 12, pp. 1584–1590

DOI: https://doi.org/10.1016/j.triboint.2006.02.061

Hotovy, Ivan; Lalinsky, Tibor; Rehacek, Vlastimil; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Hascik, Stefan; Rehakova, Andrea:

Fabrication and characterization of a microheater on GaAs for gas sensors

#!ilm_mods_00052389!#

In: Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future: 51. IWK, Internationales Wissenschaftliches Kolloquium ; proceedings ; 11 - 15 September 2006, (2006)

URL: http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=13379

Rehacek, Vlastimil; Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik:

Determination of trace heavy metals by anodic stripping voltammetry at mercury-plated silicon microelectrodes

#!ilm_mods_00052388!#

URL: http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=13380

Flickyngerova, Sona; Novotny, Ivan; Tvarozek, Vladimir; Nigrovicova, Martina; Satka, Alexander [et al.]:

Zinc oxide - unique material for micro-/nanotechnology

#!ilm_mods_00052387!#

URL: http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=13548

Reháková, Andrea; Tengeri, David; Hotový, Ivan; Lalinský, Tibor; Reháček, Vlastimil; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Has̆c̆ík, Stefan:

Preparation and characterization of microhotplate for gas sensors

#!ilm_mods_00051907!#

In: International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, 2006: ASDAM ’06 ; 16 - 18 Oct. 2006, Smolenice Castle, Slovakia ; conference proceedings (ISBN 1-4244-0396-0), (2006)

DOI: https://doi.org/10.1109/ASDAM.2006.331208

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Buc, Dalibor; Kosiba, Rastislav:

NiO-based nanostructured thin films with Pt surface modification for gas detection

#!ilm_mods_00051969!#

In: Thin solid films: international journal on the science and technology of condensed matter films, vol. 515 (2006), no. 2, pp. 658–661

DOI: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.12.232

Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Schwenke, B.; Spieß, Lothar; Krischok, Stefan; Ecke, Gernot; Schäfer, Jürgen A.; Knedlik, Christian:

Tribological characteristics of tungsten carbide films

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In: Festschrift zum Ehrenkolloquium anlässlich der Emeritierung von Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Dr. rer. nat. Christian Knedlik: [Fachkolloquium Funktionswerkstoffe und Werkstoffprüfung, Technische Universität Ilmenau, 13. Oktober 2006], (2006), pp. 18–19

Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Romanus, Henry; Breiter, Manuela; Müller, Ch.; Knedlik, Christian:

Tungsten carbide layers for nanomeasuring systems

#!ilm_mods_00052201!#

Hofmann, Martin; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Knedlik, Christian:

Vergleichende Darstellung von Methoden zur Bewertung der Randentkohlung am Werkstoff 100Cr6

#!ilm_mods_00052200!#

[Thüringer Werkstofftag (Weimar, 20.04.2005)]

Gubisch, Maik; Romanus, Henry; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian:

Prozess, Mikrostruktur und Eigenschaften von dünnen Wolframkarbidschichten

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Řeháček, Vaclav; Gubisch, Maik; Vitek, T.; Novotný, I.; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Tippmann, Herbert; Tvarožek, Vladimir; Knedlik, Christian:

SEM and EDX analyses of thin-film ITO and diamond microelectrodes modified by mercury for use in electrochemical microsensors

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Selve, Sören; Knote, Andreas; Kups, Thomas; Krüger, Horst Günter; Spieß, Lothar; Kern, Heinrich:

Festkörperphysikalische Analyse an nanoskaligen funktionellen Keramik-Verbund-Schichten

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URL: http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=13627

Spieß, Lothar; Schwarzer, Robert; Behnken, Herfried; Teichert, Gerd:

Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker

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1. Aufl. - Wiesbaden : Teubner, 2005. - ISBN 978-3-519-00522-3

(Teubner Lehrbuch Physik)

Rehacek, Vlastimil; Shtereva, Krasimira; Novotny, Ivan; Tvarozek, Vladimir; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian:

Mercury-plated thin film ITO microelectrode array for analysis of heavy metals

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In: Vacuum: surface engineering, surface instrumentation & vacuum technology, vol. 80 (2005), no. 1/3, pp. 132–136

[10. Joint Vacuum Conference (JVC) (Portorǒz, 28.09.-02.10.2004)]

DOI: https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2005.07.025

Gupta, Vinay; Scharff, Peter; Carta-Abelmann, Loredana; Spieß, Lothar:

C60 intercalated graphite: a new form of carbon

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In: Fullerenes, nanotubes & carbon nanostructures: an international and interdisciplinary journal, vol. 13 (2005), no. 1, pp. 427–430

[E-MRS spring meeting: Symposium I “Advanced Multifunctional Nanocarbon Materials and Nanosystems” (Strasbourg, 24.-28.05.2004)]

DOI: https://doi.org/10.1081/FST-200039421

Gubisch, Maik; Romanus, Henry; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian:

Prozess, Mikrostruktur und Eigenschaften von dünnen Wolframkarbidschichten

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In: Thüringer Werkstofftag, 20. April 2005: Hochleistungswerkstoffe in Thüringen ; Tagungsbericht-Band, (2005), pp. 89–97

Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Schawohl, Jens; Westphal, Hartmut:

Röntgenografische Spannungsmessungen zur Beurteilung des Schneidverhaltens an beschichteten Hartmetallwerkzeugen

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In: Thüringer Werkstofftag, 20. April 2005: Hochleistungswerkstoffe in Thüringen ; Tagungsbericht-Band, (2005), pp. 112–118

Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Krischok, Stefan; Ecke, Gernot; Schäfer, Jürgen A.; Knedlik, Christian:

Nanoscale multilayer WC/C coatings developed for nanopositioning: Part I. Microstructures and mechanical properties

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In: Thin solid films: international journal on the science and technology of condensed matter films, vol. 488 (2005), no. 1, pp. 132–139

DOI: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.04.107

Liu, Yonghe; Gubisch, Maik; Hild, Wolfram; Scherge, Matthias; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Schäfer, Jürgen A.:

Nanoscale multilayer WC/C coatings developed for nanopositioning: Part II. Friction and wear

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In: Thin solid films: international journal on the science and technology of condensed matter films, vol. 488 (2005), no. 1, pp. 140–148

DOI: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.03.020

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Romanus, Henry; Schawohl, Jens:

Hydrogen microsensors based on NiO modified thin films

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In: Maschinenbau von Makro bis Nano: 50. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, September, 19 - 23, 2005 ; proceedings, (2005)

URL: http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=17355

Machleidt, Torsten; Hild, Wolfram; Liu, Yonghe; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.; Franke, Karl-Heinz:

Quantitativ assessment of the wear of an afm tip by blind tip estimation

#!ilm_mods_00054193!#

In: 1st Vienna International Conference Micro- and Nano-Technology: March 9 - 11, 2005, Vienna, Austria ; [proceedings], (2005), pp. 323–328

Capone, Simonetta; Siciliano, Pietro; Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Huran, Jozef; Spieß, Lothar:

p-type chemoresistive gas sensor based on Pt-modified NiO sputtered thin films for the detection of hydrogen electronic nose

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In: Sensors and microsystems: proceedings of the 9th Italian Conference ; Ferrara, Italy, 8 - 11 February 2004, (2005), pp. 92–98

Spieß, Lothar; Machleidt, Torsten; Cimalla, Volker; Gubisch, Maik; Ambacher, Oliver; Franke, Karl-Heinz:

Development of a reference field for a NPM-machine

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In: Maschinenbau von Makro bis Nano: 50. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, September, 19 - 23, 2005 ; proceedings, (2005)

URL: http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=16760

Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Kups, Thomas; Romanus, Henry; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.; Knedlik, Christian:

Entwicklung von nanoskaligen Wolframkarbid-Schichtsystemen für funktionelle Oberflächen einer NPM-Maschine

#!ilm_mods_00054455!#

In: Maschinenbau von Makro bis Nano: 50. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, September, 19 - 23, 2005 ; proceedings, (2005)

URL: http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=16753

Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Krischok, Stefan; Ecke, Gernot; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.; Knedlik, Christian:

Tribological characteristics of WC1-x9 W2C and WC tungsten carbide films

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In: Life cycle tribology: proceedings of the 31st Leeds-Lyon Symposium on Tribology held at Trinity and All Saints College, Horsforth, Leeds, UK, 7th - 10th September 2004, (2005), pp. 409–417

Weih, Petia; Romanus, Henry; Stauden, Thomas; Spieß, Lothar; Ambacher, Oliver; Pezoldt, Jörg:

Growth of 3C-(Si1-xC1-y)Gex+y layers on 4H-SiC by molecular beam epitaxy

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In: Silicon carbide and related materials 2004: ECSCRM 2004 ; proceedings of 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4, 2004, Bologna, Italy (ISBN 0-87849-963-6), (2005), pp. 173–176

Selve, Sören; Knote, Andreas; Kups, Thomas; Krüger, Horst Günter; Spieß, Lothar; Kern, Heinrich:

SEM/TEM investigations of nickel filled ceramic layers

#!ilm_mods_00054145!#

In: Proceedings / Microscopy Conference 2005, 6. Dreiländertagung 2005: August 28 - September 2, 2005, Davos, Switzerland, vol. 05-01 (2005), p. 313

Gubisch, Maik; Kups, Thomas; Romanus, Henry; Spieß, Lothar:

SEM/TEM investigations of tungsten/tungsten-carbide/carbon and MoS2 multilayers/nanocomposites

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In: Proceedings / Microscopy Conference 2005, 6. Dreiländertagung 2005: August 28 - September 2, 2005, Davos, Switzerland, vol. 05-01 (2005), p. 271

Cui, Shen; Scharff, Peter; Siegmund, Carmen; Schneider, Doreen; Risch, Katrin; Klötzer, Susann; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Schawohl, Jens:

Investigation on preparation of multiwalled carbon nanotubes by DC arc discharge under N2 atmosphere

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In: Carbon: an international journal sponsored by the American Carbon Society, vol. 42 (2004), no. 5/6, pp. 931–939

DOI: https://doi.org/10.1016/j.carbon.2003.12.060

Spieß, Lothar; Kern, Heinrich; Knedlik, Christian (eds.):

Thüringer Werkstofftag 2004: [Vorträge und Poster]

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Berlin : Köster, 2004. - ISBN 3-89574-519-7

[Thüringer Werkstofftag (Ilmenau, 2004)]

(Schriftenreihe Werkstoffwissenschaften ; 18)

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar; Rehacek, Vlastimil:

Enhancement of H₂ sensing properties of NiO-based thin films with a Pt surface modification

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In: Sensors and actuators: B: Chemical, vol. 103 (2004), no. 1/2, pp. 300–311

DOI: https://doi.org/10.1016/j.snb.2004.04.109

Cimalla, Volker; Kaiser, Ute; Cimalla, Irina Nicoleta; Ecke, Gernot; Pezoldt, Jörg; Spieß, Lothar; Ambacher, Oliver; Lu, Hai; Schaff, William:

Cubic InN on r-plane sapphire

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In: Superlattices and microstructures: an interdisciplinary journal on the science and technology of nanostructures, vol. 36 (2004), no. 4/6, pp. 487–495

DOI: https://doi.org/10.1016/j.spmi.2004.09.054

Weih, Petia; Cimalla, Volker; Stauden, Thomas; Kosiba, Rastislav; Ecke, Gernot [et al.]:

3C-SiC:Ge alloys grown on Si (111) substrates by SSMBE

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In: Physica status solidi c: pss, vol. 1 (2004), no. 2, pp. 347–350

DOI: https://doi.org/10.1002/pssc.200303953

Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Ambacher, Oliver:

Lateralkraftmikroskopie an elektrischen Kontakten

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In: Thüringer Werkstofftag 2004: [Vorträge und Poster] (ISBN 3-89574-519-7), (2004), pp. 203–211

Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Hotovy, Ivan; Romanus, Henry; Ambacher, Oliver:

Analyse nanokristalliner Schichten auf rauen Substraten

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In: Thüringer Werkstofftag 2004: [Vorträge und Poster] (ISBN 3-89574-519-7), (2004), pp. 177–183

Weih, Petia; Cimalla, Volker; Stauden, Thomas; Kosiba, Rastislav; Spieß, Lothar [et al.]:

Structure and composition of 3C-SiC:Ge alloys grown on Si (111) substrates by SSMBE

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In: Silicon carbide and related materials 2003: ICSCRM 2003 ; proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5 - 10, 2003 ; Part 1 (ISBN 0-87849-943-1), (2004), pp. 293–296

Schober, Andreas; Kittler, Gabriel; Buchheim, Carsten; Majdeddin, Ali; Cimalla, Volker [et al.]:

A novel class of sensors for system integrative concepts in biotechnological applications

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In: Technische Systeme für Biotechnologie und Umwelt: 12. Heiligenstädter Kolloquium, Heilbad Heiligenstadt, 27.09. - 29.09.2004 ; [Tagungsband] (ISBN 3-00-015042-0), (2004), pp. 163–169

Kosiba, Rastislav; Ecke, Gernot; Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Krischok, Stefan; Schäfer, Jürgen A.; Ambacher, Oliver; Schaff, William J.:

Sputter depth profiling of InN layers

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In: Nuclear instruments & methods in physics research: a journal on accelerators, instrumentation and techniques applied to research in nuclear and atomic physics, materials science and related fields in physics. Section B: Beam interactions with materials and atoms, vol. 215 (2004), no. 3/4, pp. 486–494

DOI: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2003.08.039

Fröhlich, Toni; Scharff, Peter; Schliefke, Willy; Romanus, Henry; Gupta, Vinay; Siegmund, Carmen; Ambacher, Oliver; Spieß, Lothar:

Insertion of C60 into multi-wall carbon nanotubes: a synthesis of C60@MWCNT

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In: Carbon: an international journal sponsored by the American Carbon Society, vol. 42 (2004), no. 12/13, pp. 2759–2762

DOI: https://doi.org/10.1016/j.carbon.2004.05.025

Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Knedlik, Christian:

Nanoschichten für die Nanopositionierung

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In: Thüringer Werkstofftag 2004: [Vorträge und Poster] (ISBN 3-89574-519-7), (2004), pp. 131–136

Romanus, Henry; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Lindner, Jörg K.N.:

Definierte Präparation von hexagonalem WSi2 und Wolframsilizidmetallisierungen mit einstellbarem Temperaturkoeffizient der elektrischen Leitfähigkeit

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In: Thüringer Werkstofftag 2004: [Vorträge und Poster] (ISBN 3-89574-519-7), (2004), pp. 119–124

Hotovy, Ivan; Kremmer, J.; Huran, Jozef; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar:

Characterization and gas sensing properties of NiO thin films

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In: Sensors and microsystems: proceedings of the 8th Italian Conference ; Trento, Italy, 12 - 14 February 2003 (ISBN 981-238-747-1), (2004), pp. 185–190

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Schawohl, Jens:

NiO modified thin films for gas monitoring

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In: The Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, 2004: ASDAM 2004, Oct. 17 - 21, 2004, [Smolenice Castle, Slovakia] ; [conference proceedings] (ISBN 0-7803-8535-7), (2004), pp. 303–306

DOI: https://doi.org/10.1109/ASDAM.2004.1441221

Hildebrand, Gerhard; Liefeith, Klaus; Strietzel, R.; Spieß, Lothar:

Vergleichende oberflächenanalytische und korrosionschemische Untersuchungen zum Einfluß eines keramischen Brennzyklus auf eine biozertifizierte PdCuGa-Aufbrennkeramiklegierung

#!ilm_mods_00055964!#

In: Thüringer Werkstofftag 2004: [Vorträge und Poster] (ISBN 3-89574-519-7), (2004), pp. 57–62

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar:

Characterization of sputtered NiO films using XRD and AFM

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In: Journal of materials science, vol. 39 (2004), no. 7, pp. 2609–2612

DOI: https://doi.org/10.1023/B:JMSC.0000020040.77683.20

Gubisch, Maik; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Schawohl, Jens; Knedlik, Christian:

Bias-Magnetron Sputtern von Wolframkarbid-Schichten auf Stahl

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In: Materials science and engineering technology, vol. 35 (2004), no. 10/11, pp. 916–923

DOI: https://doi.org/10.1002/mawe.200400812

Jakubec, Andrej; Tvarozek, Vladimir; Novotny, I.; Rehacek, Vlastimil; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar:

Characterization of Indium-Tin-Oxide thin film microelectrodes for biomedical use

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In: Materials science and engineering technology, vol. 34 (2003), no. 7, pp. 662–665

DOI: https://doi.org/10.1002/mawe.200390132

Erler, Frank; Jakob, Christine; Romanus, Henry; Spieß, Lothar; Wielage, Bernhard; Lampke, Thomas; Steinhäuser, Siegfried:

Interface behaviour in nickel composite coatings with nano-particles of oxidic ceramic

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In: Electrochimica acta: the journal of the International Society of Electrochemistry (ISE), vol. 48 (2003), no. 20/22, pp. 3063–3070

DOI: https://doi.org/10.1016/S0013-4686(03)00380-3

Hotovy, Ivan; Liday, Jozef; Spieß, Lothar; Sitter, Helmut; Vogrincic, Peter:

Study of annealed NiO thin films sputtered on unheated substrate

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In: Japanese journal of applied physics: JJAP, vol. 42 (2003), no. 10, pp. 1178–1181

DOI: https://doi.org/10.1143/JJAP.42.L1178

Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg; Ecke, Gernot; Kosiba, Rastislav; Ambacher, Oliver; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Lu, Hai; Schaff, William J.:

Growth of cubic InN on r-plane sapphire

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In: Applied physics letters, vol. 83 (2003), no. 17, pp. 3468–3470

DOI: https://doi.org/10.1063/1.1622985

Cui, S.; Scharff, Peter; Siegmund, Carmen; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Schawohl, Jens; Risch, Katrin; Schneider, Doreen; Klötzer, Susann:

Preparation of multiwalled carbon nanotubes by DC arc discharge under a nitrogen atmosphere

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In: Carbon: an international journal sponsored by the American Carbon Society, vol. 41 (2003), no. 8, pp. 1648–1651

DOI: https://doi.org/10.1016/S0008-6223(03)00083-6

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Liday, Jozef; Sitter, Helmut; Hascik, Stefan:

The influence of process parameters and annealing temperature on the physical properties of sputtered NiO thin films

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In: Vacuum: surface engineering, surface instrumentation & vacuum technology, vol. 69 (2003), no. 1/3, pp. 237–242

[12. International School on Vacuum, Electron and Ion Technologies (VEIT) (Varna, 17.-22.09.2001)]

DOI: https://doi.org/10.1016/S0042-207X(02)00338-X

Weih, Petia; Cimalla, Volker; Förster, Christian; Pezoldt, Jörg; Stauden, Thomas [et al.]:

High-resolution XRD investigations of the strain reduction in 3C-SiC thin films grown on Si (111) substrates

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In: Silicon carbide and related materials 2002: proceedings of the 4th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2 - 5, 2002, Linköping, Sweden, (2003), pp. 433–436

Spieß, Lothar; Knedlik, Christian:

Nutzung von Werkstoffstrukturgrößen als Messnormale

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In: Materials science and engineering technology, vol. 34 (2003), no. 7, pp. 648–653

DOI: https://doi.org/10.1002/mawe.200390130

Goldhahn, Rüdiger; Žochovec, Svjatoslav; Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Ecke, Gernot [et al.]:

Dielectric function of “narrow” band gap InN

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In: GaN and related alloys - 2002: symposium held December 2 - 6, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A. ; [held at the 2002 MRS fall meeting] (ISBN 1-55899-680-X), (2003)

Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Romanus, Henry; Breiter, Manuela; Müller, Ch.; Cimalla, Volker; Ecke, Gernot; Liu, Yonghe; Knedlik, Christian:

Tungsten carbide layers for nanomeasuring systems

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In: MICRO.tec 2003: applications, trends, visions ; [technologies, engineering, applications] ; 2nd VDE World Microtechnologies Congress, October 13 - 15, 2003, International Congress Centre, Munich, Germany ; proceedings (ISBN 3-8007-2791-9), (2003), pp. 165–170

Rehacek, Vlastimil; Novotny, Ivan; Tvarozek, Vladimir; Vavrinsky, Erik; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar:

Thin-film gold, palladium and indium tin oxide microelectrodes modified by mercury

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In: Proceedings and our portrait: 48. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium 22.-25.09.2003 Technische Universität Ilmenau, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, (2003)

Hotovy, Ivan; Spieß, Lothar; Schawohl, Jens; Rehacek, Vlastimil:

NiO films with Pt surface modification for gas sensing

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In: Proceedings and our portrait: 48. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium 22.-25.09.2003 Technische Universität Ilmenau, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, (2003)

Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar:

NiO thin films for gas sensing applications

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In: Sensors for enviromental control: proceedings of the International Workshop on New Developments on Sensors for Environmental Control [ENVSENS], S. Cesarea Terme, Lecce, Italy, 27 - 29 May 2002 (ISBN 981-238-338-7), (2003), pp. 58–63

Jakubec, A.; Rehacek, Vlastimil; Novotny, I.; Ivanic, R.; Tvarozek, Vladimir; Knedlik, Christian; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar:

Thin films for electrochemical sensoric interfaces

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In: The Fourth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems: Smolenice Castle, Slovakia, October 14 - 16, 2002 : Conference proceedings (ISBN 0-7803-7276-X), (2002), pp. 321–324

Kremmer, J.; Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Siroky, J.; Spieß, Lothar; Schawohl, Jens:

Physical and structural characterization of NiO films for gas detection

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Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar:

Sensing characteristics of NiO thin films as NO2 gas sensors

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In: Thin solid films: international journal on the science and technology of condensed matter films, vol. 418 (2002), no. 1, pp. 9–15

DOI: https://doi.org/10.1016/S0040-6090(02)00579-5

Jakubec, Andrej; Tvarozek, Vladimir; Novotny, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar:

Characterization of thin film ITO microelectrodes for biomedical use

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In: 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium: Konferenzmaterial ; [mit] Herbstkonferenz 2002 der Gesellschaft für Arbeitswissenschaft, [26. - 27.09.2002], BMBF-Statusseminare Fuko-Glas, IMODAS, BauLin und MoMiMRC, 6. Workshop Multimedia in Bildung und Wissenschaft, (2002)

Gubisch, Maik; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Knedlik, Christian:

EBSD-Analyse von technischen Werkstoffoberflächen

#!ilm_mods_00058396!#

In: Thüringer Werkstofftag 2002: [Vorträge und Poster] (ISBN 3-89574-473-5), (2002), pp. 86–91

Hofmann, Martin; Teichert, Gerd; Spieß, Lothar:

Sprödbruchbildung an nitrierten hochfesten Warmarbeitsstählen

#!ilm_mods_00058395!#

In: Thüringer Werkstofftag 2002: [Vorträge und Poster] (ISBN 3-89574-473-5), (2002), pp. 106–107

Ivanic, Rastislav; Rehacek, Vlastimil; Novotny, Ivan; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Tvarotzek, Vladimír:

Sputtered yttrium oxide thin films appropriate for electrochemical sensors

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In: Vacuum: surface engineering, surface instrumentation & vacuum technology, vol. 61 (2001), no. 2/4, pp. 229–234

[8. Joint Vacuum Conference of Croatia, Austria, Slovenia and Hungary (JVC) (Pula, 04.-09.06.2000)]

DOI: https://doi.org/10.1016/S0042-207X(01)00117-8

Pezoldt, Jörg; Schröter, B.; Cimalla, Volker; Stauden, Thomas; Goldhahn, Rüdiger; Romanus, Henry; Spieß, Lothar:

Carbonization induced change of the polarity for MBE grown 3C-SiC/Si(111)

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In: Silicon carbide and related materials: proceedings of the 3rd European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Kloster Banz, Germany, September 2000 (ISBN 0-87849-873-7), (2001), pp. 179–182

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar; Rehacek, Vlastimil:

The influences of preparation parameters on NiO thin film properties for gas-sensing application

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In: Sensors and actuators: B: Chemical, vol. 78 (2001), no. 1/3, pp. 126–132

DOI: https://doi.org/10.1016/S0925-4005(01)00802-4

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Capkovic, R.; Hascík, Stefan:

Preparation and characterization of NiO thin films for gas sensor applications

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In: Vacuum: surface engineering, surface instrumentation & vacuum technology, vol. 58 (2000), no. 2/3, pp. 300–307

DOI: https://doi.org/10.1016/S0042-207X(00)00182-2

Rebacek, Vlastimil; Novotny, I.; Ivanic, R.; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Tvarozek, Vladimir:

Vertically arranged microelectrode array for electrochemical sensing

#!ilm_mods_00060309!#

In: The Third International EuroConference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems: Smolenice Castle, Slovakia, October 16 - 18, 2000 : Conference proceedings (ISBN 0-7803-5939-9), (2000), pp. 421–424

Romanus, Henry; Cimalla, Volker; Schäfer, Jürgen A.; Spieß, Lothar; Ecke, Gernot; Pezoldt, Jörg:

Preparation of single phase tungsten carbide by annealing of sputtered tungsten-carbon layers

#!ilm_mods_00059889!#

In: Thin solid films: international journal on the science and technology of condensed matter films, vol. 359 (2000), no. 2, pp. 146–149

DOI: https://doi.org/10.1016/S0040-6090(99)00732-4

Erler, Frank; Romanus, Henry; Lindner, Jörg K.N.; Spieß, Lothar:

High temperature stable WSi2-contacts on p-6H-silicon carbide

#!ilm_mods_00062811!#

In: Wide-bandgap semiconductors for high-power, high-frequency and high-temperature applications - 1999: Symposium [“Wide-Bandgap Semiconductors for High-Power, High-Frequency and High-Temperature Applications - 1999” from the 1999 MRS Spring Meeting] held April 5 - 8, 1999, San Francisco, California, U.S.A. (ISBN 1-55899-479-3), (1999), pp. 111–116

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Hascik, Stefan; Rehacek, Vlastimil:

Preparation of nickel oxide thin films for gas sensors applications

#!ilm_mods_00061014!#

In: Sensors and actuators: B: Chemical, vol. 57 (1999), no. 1/3, pp. 147–152

DOI: https://doi.org/10.1016/S0925-4005(99)00077-5

Romanus, Henry; Cimalla, Volker; Ahmed, Imad; Schäfer, Jürgen A.; Ecke, Gernot; Avci, R.; Spieß, Lothar:

Preparation of conductive tungsten carbide layers for SiC high temperature applications

#!ilm_mods_00062780!#

Novotny, I.; Breternitz, Volkmar; Ivanic, R.; Knedlik, Christian; Tvarozek, Vladimir; Spieß, Lothar; Rehacek, Vlastimil:

Thin film microelectrode arrays for electrochemical biosensors

#!ilm_mods_00062791!#

In: Maschinenbau im Informationszeitalter: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 20. - 23.09.1999 : Band 1, (1999), pp. 215–220

Spieß, Lothar; Knedlik, Christian:

Nanostrukturierte Werkstoffe - Meßnormale?

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In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium: Konferenzmaterial, September 1999 ; [20.- 23.9.1999. Technische Universität Ilmenau, Fakultät für Maschinenbau. Hrsg. Wolfgang Gens], (1999)

Schawohl, Jens; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Reich, Steffen; Böswetter, Gerd:

Charakterisierung von CVD-Hartstoffschichten auf Hartmetall

#!ilm_mods_00062790!#

In: 44. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium: Konferenzmaterial, September 1999 ; [20.- 23.9.1999. Technische Universität Ilmenau, Fakultät für Maschinenbau. Hrsg. Wolfgang Gens], (1999)

Romanus, Henry; Teichert, Gerd; Spieß, Lothar:

Investigation of polymorphism and estimation of lattice constants of SiC epilayers by four circle X-ray diffraction

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In: Silicon carbide, III-nitrides and related materials: proceedings of the 7th International Conference on Silicon Carbide, III-Nitrides and Related Materials, Stockholm, Sweden, September 1997 (ISBN 0-87849-790-0), (1998), pp. 437–440

Teichert, Gerd; Schleicher, Larissa; Spieß, Lothar; Yankov, Rossen A.; Knedlik, Christian; Pezoldt, Jörg:

Thermowellenanalyse an implantiertem SiC

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In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium: Konferenzmaterial, September 1998 ; [21.- 24.9.1998. Technische Universität Ilmenau, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik. Hrsg. Wolfgang Gens], (1998)

Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Schawohl, Jens:

Effect of oxygen concentration in the sputtering mixture on the properties of dc magnetron sputtered NiO films

#!ilm_mods_00062535!#

Knedlik, Christian; Spieß, Lothar:

Werkstoffe und Analytik für die Mikroelektronik aus der Sicht der Metallisierung und Kontaktierung

#!ilm_mods_00062532!#

Romanus, Henry; Teichert, Gerd; Schawohl, Jens; Spieß, Lothar:

Röntgenografische Textur- und Einkristalluntersuchungen an SiC

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Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Teichert, Gerd; Pezoldt, Jörg:

Werkstoffanalytische Probleme bei der Charakterisierung von Siliziumkarbid für Mikrotechnikanwendungen

#!ilm_mods_00062547!#

Hotovy, Ivan; Janik, J.; Huran, Jozef; Spieß, Lothar:

Preparation and structural characterization of nickel oxide films for gas sensor devices

#!ilm_mods_00062548!#

In: Second International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems: Smolenice Castle, 5 - 7 October 1998 : Conference proceedings (ISBN 0-7803-4909-1), (1998), pp. 175–178

Romanus, Henry; Cimalla, Volker; Kromka, Alexander; Scheiner, Jörg; Spieß, Lothar; Pezoldt, Jörg:

Atomic force microscopy investigations of rapid thermal carbonized silicon

#!ilm_mods_00061008!#

In: Materials science & engineering: B. Solid state materials for advanced technology, vol. 47 (1997), no. 3, pp. 274–278

DOI: https://doi.org/10.1016/S0921-5107(97)00045-7

Spieß, Lothar; Nennewitz, Olaf; Weishart, H.; Lindner, Jörg; Skorupa, Wolfgang; Romanus, Henry; Erler, Frank; Pezoldt, Jörg:

Aluminium implantation of p-SiC for ohmic contacts

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In: Diamond and related materials: advancing the science and technology of diamond, diamond-like carbon, silicon carbides and Group 3 nitride materials, vol. 6 (1997), no. 10, pp. 1414–1419

[1. European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM) (Heraklion, 06.-09.10.1996)]

DOI: https://doi.org/10.1016/S0925-9635(97)00047-2

Spieß, Lothar; Nennewitz, Olaf; Pezoldt, Jörg:

Improved ohmic contacts to p-type 6H-SiC

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In: Silicon carbide and related materials 1995: proceedings of the sixth international conference, Kyoto, Japan, 18 - 21 September 1995 (ISBN 0-7503-0335-2), (1996), pp. 585–588

Fabricius, Alexander; Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg:

Rapid thermal annealing of tungsten silicide films

#!ilm_mods_00061910!#

In: Silicide thin films: fabrication, properties and application ; symposium held November 27 - 30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. (ISBN 1-55899-305-3), (1996), pp. 625–630

Teichert, Gerd; Pezoldt, Jörg; Cimalla, Volker; Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar:

Analysis of reflection high energy electron diffraction pattern of silicon carbide grown on silicon

#!ilm_mods_00061909!#

In: Evolution of epitaxial structure and morphology: symposium held November 27 - December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A., (1996), pp. 17–22

Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Breternitz, Volkmar:

Ohmic contacts to p-type 6H-silicon carbide

#!ilm_mods_00063779!#

In: Applied surface science: a journal devoted to applied physics and chemistry of surfaces and interfaces, vol. 91 (1995), no. 1/4, pp. 347–351

[1. European Workshop on Materials for Advanced Metallization (MAM) (Radebeul, 19.-22.03.1995)]

DOI: https://doi.org/10.1016/0169-4332(95)00144-1

Spieß, Lothar:

Röntgenstrahlen in der Technik

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In: 100 Jahre Röntgenstrahlen - Thüringer Beiträge: Festschrift zur Veranstaltung “100 Jahre Röntgenstrahlen - Thüringer Beiträge”. - Ilmenau, 1995, pp. 86–96

Hotový, Ivan; Vanek, Oldrich; Spieß, Lothar; Nennewitz, Olaf:

NiO thin films applicable in gas sensors

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In: 40. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium: 18.-21.09.1995, Technische Universität Ilmenau, Thüringen : Band 3: Vortragsreihen Automatisierter Systementwurf, Analyse und Synthese elektronischer Systeme, Halbleiter- und Oberflächenbauelemente, Hybridtechnik, kryomikroelektronische und mikromagnetische Systeme, Technologien neuer Materialien, (1995), pp. 713–718

Fabricius, Alexander; Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg:

Herstellung von WSi 2 und TiSi 2 durch Co-Sputtern und RTA

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Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Breternitz, Volkmar:

Ohmsche Kontakte auf p-type 6H-Siliciumkarbid

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Mann, Dieter; Eicke, Axel; Bilger, G.; Hummel, Wolf Joachim; Spieß, Lothar:

Complex solid state physical investigations of metal layers on plastics

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In: Fresenius’ journal of analytical chemistry, vol. 349 (1994), no. 1, p. 237

[7. International Conference on the Analysis of Solids (Chemnitz, 22.-25.06.1993)]

DOI: https://doi.org/10.1007/BF00323293

Nennewitz, Olaf; Schmidt, H.; Pezoldt, Jörg; Stauden, Thomas; Schawohl, Jens; Spieß, Lothar:

Rapid thermal annealing of thin ZnO films

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In: Physica status solidi: A: Applications and materials science, vol. 145 (1994), no. 2, pp. 283–288

[4. International Symposium on Trends and New Applications in Thin Films (TATF) (Dresden, 07.-11.03.1994), 11. Conference on High Vacuum, Interfaces and Thin Films (HVITF) (Dresden, 07.-11.03.1994)]

DOI: https://doi.org/10.1002/pssa.2211450208

Nennewitz, Olaf; Schmidt, H.; Pezoldt, Jörg; Stauden, Thomas; Schawohl, Jens; Spieß, Lothar:

X-ray diffraction analysis of RTP-annealed thin ZnO films

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In: Thin films: proceedings of the joint 4th International Symposium on Trends and New Applications in Thin Films - TATF ’94 and the 11th Conference on High Vacuum, Interfaces and Thin Films - HVITF ’94 ; [Dresden, March 7 - 11, 1994], (1994), pp. 666–669

Spieß, Lothar; Schawohl, Jens; Straßburger, Torsten; Rode, Annett:

Röntgendiffraktometrische Sonderverfahren an dünnen Schichten

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In: 37. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium: 21. - 24.09.1992 ; [IWK] : Band 2: Vortragsreihen Mikroelektronik und Schaltungstechnik, Kommunikations- und Meßtechnik, (1992), pp. 198–203

Spieß, Lothar; Tvarožek, Vladimir; Novotný, I.; Grňo, J.; Liday, Jozef; Vaňek, Oldrich:

Titansilicidschichten auf Poly-Si und SiO2

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In: 35. Internationales wissenschaftliches Kolloquium: 22.-25.10.1990 ; Technische Hochschule Ilmenau : Tagungsband, vol. 5 (1990), pp. 47–50

Spieß, Lothar:

Führt die Höchstintegration der Mikroelektronik zu einer Analytikkrise?

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In: 35. Internationales wissenschaftliches Kolloquium: 22.-25.10.1990 ; Technische Hochschule Ilmenau : Tagungsband, vol. 5 (1990), pp. 133–136

Spieß, Lothar; Klein, Sylke; Schawohl, Jens; Essler, Nora; Knedlik, Christian:

Komplexe Strukturanalytik von Metallisierungsschichten

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In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, vol. 35 (1989), no. 1, pp. 51–60

Knedlik, Christian; Spieß, Lothar; Tippmann, Herbert; Linß, M.; Schneider, Martin:

Modernste Metallisierungskonzepte für höchstintegrierte Schaltkreise - Probleme und Lösungen

#!ilm_mods_00066334!#

In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, vol. 35 (1989), no. 1, pp. 41–50

Tippmann, Herbert; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl; Spieß, Lothar:

Wolfram-Silizide für die VLSI-Mikroelektronik

#!ilm_mods_00066859!#

In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, vol. 34 (1988), no. 4, pp. 199–205

[32. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium. Technische Hochschule Ilmenau (Ilmenau, 26.-30.10.1987), 32. IWK. Technische Hochschule Ilmenau (Ilmenau, 26.-30.10.1987)]

Lippert, Gunther; Procop, Mathias; Borchardt, Wolfgang; Spieß, Lothar; Urwank, Peter:

Sputtering of Mo-Si layers from composite targets

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In: Thin solid films: international journal on the science and technology of condensed matter films, vol. 149 (1987), no. 2, pp. 2011–2218

DOI: https://doi.org/10.1016/0040-6090(87)90297-5

Spieß, Lothar; Schawohl, Jens; Tippmann, Herbert; Knedlik, Christian:

Röntgenprofilanalyse an Schwermetallsilicidschichten

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In: 5. Tagung Festkörperanalytik: Karl-Marx-Stadt, 30. Juni bis 3. Juli 1987; Kurzfassungen der Posterbeiträge, vol. 1987,6 (1987), pp. 56–57

Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl; Schlöffel, Lutz [et al.]:

Komplexer Analysezyklus (elektrische Messungen, Röntgenfeinstruktur, AES, RBS) zur Charakterisierung von W/Si-Sandwichanordnungen

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In: 32. Internationales wissenschaftliches Kolloquium: 26.-30.10.1987 ; Technische Hochschule Ilmenau, DDR, vol. 5 (1987), pp. 91–94

Spieß, Lothar; Lippert, Gunther:

Eigenschaften von MoSi2-Schichten - hergestellt mit dem Mosaiktarget

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In: 32. Internationales wissenschaftliches Kolloquium: 26.-30.10.1987 ; Technische Hochschule Ilmenau, DDR, vol. 5 (1987), pp. 83–85

Spieß, Lothar; Tippmann, Herbert; Nitzsche, Karl; Knedlik, Christian; Stedig, J.; Harmann, Rudolf; Tvarozek, Vladimir; Nowotny, Iwan:

Herstellung und Charakterisierung von Wolfram-Silizium-Mischschichten unterschiedlicher Stöchiometrie

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In: 32. Internationales wissenschaftliches Kolloquium: 26.-30.10.1987 ; Technische Hochschule Ilmenau, DDR, vol. 5 (1987), pp. 87–89

Spieß, Lothar; Tippmann, Herbert; Hegewald, Gunter; Nitzsche, Karl; Knedlik, Christian:

Wolframsilicidbildung durch Temperung von Wolframschichten auf einkristallinem Silicium

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In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, vol. 32 (1986), no. 6, pp. 167–174

Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Hummel, Wolf-Joachim; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl; Linß, M.:

Eigenschaften von Tantal-Silizium-Mischschichten

#!ilm_mods_00068286!#

In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, vol. 32 (1986), no. 6, pp. 175–182

Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Linß, M.; Hummel, Wolf-Joachim; Knedlik, Christian; Nitzsche, Karl:

Triotron-Zerstäubungsanordnung zur Herstellung von Ta/Si-Mischschichten

#!ilm_mods_00068257!#

In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, vol. 32 (1986), no. 3, pp. 161–166

Nitzsche, Karl; Knedlik, Christian; Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Harman, Rudolf; Vanek, Oldrich; Tvarozek, Vladimir:

Herstellung und Charakterisierung von getemperten Wolframschichten auf einkristallinem Silizium

#!ilm_mods_00068161!#

In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, vol. 30 (1984), no. 6, pp. 131–140

Spieß, Lothar; Tippmann, Herber; Knedlik, Christian:

Elektrische Charakterisierung von Schwermetall-Silizium-Mischschichten

#!ilm_mods_00068687!#

In: 29. Internationales wissenschaftliches Kolloquium: 29.10.-02.11.1984 ; Technische Hochschule Ilmenau, vol. 29 (1984), no. 5, pp. 7–10

Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian:

Elektrische Charakterisierung von Schichten und Strukturen der Metallisierung für die VLSI-Technik

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In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, vol. 30 (1984), no. 1, pp. 143–152

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