KombiSens

Kombinatorische Hochdurchsatz-in-situ-Nano-Diagnostik für die Sensorik (Hochdurchsatz-in-situ-Rasterelektronenmikroskop - REM)

Ansprechpartner

Prof. Peter Schaaf
Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik

Telefon: +49 3677 69-3611
e-mail:  peter.schaaf@tu-ilmenau.de

Förderinformation

Fördermittelgeber: Europäische Fonds für regionale Entwicklung - Kofinanziert von der EU

Projektträger: Thüringer Aufbaubank (TAB)

Förderkennzeichen: 2021 FGI 0033

beteiligte Fachgebiete: Werkstoffe der Elektroniktechnologie

Laufzeit:  01.09.2021 - 30.06.2023

Projektinformation

„KombiSens“ zielt auf eine fortschrittliche in situ Diagnostik von Sensorwerkstoffen  im Mikro- und Nanometerbereich. Der Aufbau einer situ Diagnostik im Elektronenmikroskop soll durch eine lokalisierte und ortaufgelöste Gaszuführung und entsprechende sensorische Messtechnik erweitert werden. So kann ein hoher Probendurchsatz und kombinatorische Untersuchungsmethoden für die  schnelle Entwicklung von neuartigen Werkstoffsystemen ermöglicht und Digitalisierung und machine lerning auch in die Sensorik vorangetrieben und eine technologische Spitzenstellung erreicht werden.