KombiSens
Kombinatorische Hochdurchsatz-in-situ-Nano-Diagnostik für die Sensorik (Hochdurchsatz-in-situ-Rasterelektronenmikroskop - REM)
Ansprechpartner
Prof. Peter Schaaf
Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik
Telefon: +49 3677 69-3611
e-mail: peter.schaaf@tu-ilmenau.de
Förderinformation
Projektträger: Thüringer Aufbaubank (TAB)
Förderkennzeichen: 2021 FGI 0033
beteiligte Fachgebiete: Werkstoffe der Elektroniktechnologie
Laufzeit: 01.09.2021 - 30.06.2023
Projektinformation
„KombiSens“ zielt auf eine fortschrittliche in situ Diagnostik von Sensorwerkstoffen im Mikro- und Nanometerbereich. Der Aufbau einer situ Diagnostik im Elektronenmikroskop soll durch eine lokalisierte und ortaufgelöste Gaszuführung und entsprechende sensorische Messtechnik erweitert werden. So kann ein hoher Probendurchsatz und kombinatorische Untersuchungsmethoden für die schnelle Entwicklung von neuartigen Werkstoffsystemen ermöglicht und Digitalisierung und machine lerning auch in die Sensorik vorangetrieben und eine technologische Spitzenstellung erreicht werden.