Zeitschriftenaufsätze und Buchbeiträge

Kulikov, Dmitri V.; Trushin, Yuri V.; Yankov, Rossen A.; Pezoldt, Jörg; Skorupa, Wolfgang
Theoretical description of high-temperature implantation of silicon carbide with N+ and Al+ ions. - In: Technical physics letters, ISSN 1090-6533, Bd. 24 (1998), 1, S. 17-19

http://dx.doi.org/10.1134/1.1261975

Breiter, Manuela; Nutsch, Gabriele
Study of operating conditions of plasma spray torch using low electric power levels. - In: IEEE transactions on plasma science, Bd. 25 (1998), 5, S. 872-876

http://dx.doi.org/10.1109/27.649583

Frank, Thomas; Schilling, Cornelius
The development of cascadable microdrives with muscle-like operating behaviour. - In: Journal of micromechanics and microengineering, ISSN 1361-6439, Bd. 8 (1998), 3, S. 222-229

http://dx.doi.org/10.1088/0960-1317/8/3/008

Wöhner, Thomas; Ecke, Gernot; Rößler, Hans; Hofmann, Siegfried
Sputtering-induced surface roughness of polycrystalline Al films and its influence on AES depth profiles. - In: Surface and interface analysis, ISSN 1096-9918, Bd. 26 (1998), 1, S. 1-8

http://dx.doi.org/10.1002/(SICI)1096-9918(199801)26:1<1::AID-SIA334>3.0.CO;2-Y

Hülsenberg, Dagmar;
Verbindungen zur Technischen Universität Ilmenau. - In: Glas in Ilmenau, (1998), S. 55-59

Werninghaus, Thomas; Friedrich, M.; Cimalla, Volker; Scheiner, Jörg; Goldhahn, Rüdiger; Zahn, Dietrich R. T.; Pezoldt, Jörg
Optical characterization of MBE grown cubic and hexagonal SiC films on Si(111)1. - In: Diamond and related materials, ISSN 0925-9635, Bd. 7 (1998), 9, S. 1385-1389

http://dx.doi.org/10.1016/S0925-9635(98)00224-6

Žochovec, Svjatoslav; Goldhahn, Rüdiger; Cimalla, Volker; Cheng, T. S.; Foxon, Tom
Reflectivity study of hexagonal GaN films grown on GaAs: surface roughness, interface layer, and refractive index. - In: Journal of applied physics, ISSN 1089-7550, Bd. 84 (1998), 3, S. 1561-1566

https://doi.org/10.1063/1.368223

Winkler, Marion; Kutzschbach, Peter; Zeidler, Hubert
Galvanotechnik für den Titanguß?. - In: Metalloberfläche, ISSN 0026-0797, Bd. 52 (1998), 3, S. 190-192

Schmidt, Cordt; Karagodin, Pawel; Tomov, Ivan; Erler, Frank; Mache, Thomas
Electrolytically deposited steel coatings. Morphology of the surface, structure, texture and characteristics :
Elektrolytische Eisenschichten : Morphologie der Oberfläche, Gefüge, Textur und Eigenschaften. - In: Metalloberfläche, ISSN 0026-0797, Bd. 52 (1998), 12, S. 968-974

Halbedel, Bernd;
Größenverteilung von Partikelkollektiven. - In: CITplus, ISSN 1436-2597, Bd. 70 (1998), 1/2, S. 36-39

Die Analyse von Zerkleinerungsvorgängen und die Bewertung der dazu eingesetzten Maschinen erfordert die granulometrische Beschreibung des zerkleinerten und nichtzerkleinerten Produktes. Basis dafür sind wiederum meßtechnisch ermittelte Größenverteilungen an Partikelkollektiven. Hierbei stellen sich immer wieder die Fragen: - Was wird mit dem zur Verfügung stehenden Partikelmeßsystem wirklich gemessen? - Wie werden die Ergebnisse dargestellt? - Wie sind sie zu anderen Meßverfahren einzuordnen? - Antworten auf solche Fragestellungen sind in den Geräteinformationen der Herstellerfirmen verständlicherweise nur unzureichend zu finden oder fehlen gänzlich. - In diesem Beitrag werden die gewonnenen Erfahrungen mit dem Partikelanalysesystem CIS 1 ( L.O.T.-ORIEL GmbH, Darmstadt) in der Ausführung: - Meßbereiche: 0,5 - 150 æm/2 -300 æm/5 - 600 æm - mit - Flüssigkeitsmeßzelle GCM 2 und - CCD-Videomikroskop ohne Blitzbeleuchtung - vorgestellt. - Als Referenzmaterial wurde für die Untersuchungen eine Kalksteinprobe verwendet. Aus diesem trocken vorliegenden In-housestandard&hardcy; erfolgte über eine nasse Probennahme die jeweils erforderliche Teilmengenentnahme für alle hier angeführten Partikelanalysen.

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