Willkommen im Fachgebiet Theoretische Physik 1
TU IlmenauFachgebietsleiter
Univ.-Prof. Dr. rer. nat. (habil.)
Erich Runge
Sekretariat:
Dagmar Böhme
Tel.: +49 (0) 3677 69 3706
Curiebau, Zi. 320
Postanschrift:
Technische Universität Ilmenau
Fakultät für Mathematik und Naturwissenschaften
Institut für Physik
Fachgebiet Theoretische Physik 1
Postfach 10 05 65
98684 Ilmenau
Besucheranschrift:
Weimarer Straße 25
98693 Ilmenau
Forschung
Das Fachgebiet Theoretische Physik I beschäftigt sich schwerpunktmäßig mit den folgenden Forschungsgebieten:
Elektronische Struktur von Festkörpern
Ultraschnelle Nanooptik
Halbleiterphysik
Ionische Flüssigkeiten
Metastabilen-Induzierte Elektronen-Spektroskopie
Vielteilchenphysik
Ungeordnete Systeme
Lehre
Das Fachgebiet Theoretische Physik 1 bietet Lehrveranstaltungen im Rahmen des Studiengangs Technische Physik an. Dies sind neben zahlreichen fakultativen Vorlesungen und Seminaren die drei Bachelor-Module:
Theoretische Physik 1
Theoretische Physik 2
Theoretische Physik 3
sowie die Master-Module:
Theoretische Physik, Numerik und Simulation
Modul Physik komplexer Systeme.
Publikationen
- Großmann, Max; Bohm, Sebastian; Heyder, Stefan; Schwarzburg, Klaus; Kleinschmidt, Peter; Runge, Erich; Hannappel, Thomas
Generalized modeling of photoluminescence transients. - In: Physica status solidi, ISSN 1521-3951, Bd. 260 (2023), 1, 2200339, S. 1-12 - Bohm, Sebastian; Runge, Erich
Multiphysics simulation of fluid interface shapes in microfluidic systems driven by electrowetting on dielectrics. - In: Journal of applied physics, ISSN 1089-7550, Bd. 132 (2022), 22, S. 224702-1-224702-17 - Moritz, Dominik Christian; Ruiz Alvarado, Isaac Azahel; Zare Pour, Mohammad Amin; Paszuk, Agnieszka; Frieß, Tilo; Runge, Erich; Hofmann, Jan Philipp; Hannappel, Thomas; Schmidt, W. Gero; Jaegermann, Wolfram
P-terminated InP (001) surfaces: surface band bending and reactivity to water. - In: ACS applied materials & interfaces, ISSN 1944-8252, Bd. 14 (2022), 41, S. 47255-47261 - Lauer, Kevin; Peh, Katharina; Schulze, Dirk; Ortlepp, Thomas; Runge, Erich; Krischok, Stefan
The ASi-Sii defect model of light-induced degradation (LID) in silicon: a discussion and review. - In: Physica status solidi, ISSN 1521-396X, Bd. 219 (2022), 19, 2200099, S. 1-10 - alle Publikationen