Koprinarow, Nicola; Nitzsche, Karl
Kurzzeitige Veränderung des Schichtwiderstandes dünner Metallschichten im Vakuum. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 169-180
Kurzzeitige Veränderung des Schichtwiderstandes dünner Metallschichten im Vakuum. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 169-180
Richter, Anett; Rensch, Uta; Knedlik, Christian
RBS-Untersuchungen an Metallisierungsschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 161-168
RBS-Untersuchungen an Metallisierungsschichten. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 161-168
Hegewald, Gunter;
Knedlik, Christian;
Elektromigration in Aluminiumlegierungsleitbahnen. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 153-159
Elektromigration in Aluminiumlegierungsleitbahnen. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 153-159
Tippmann, Herbert; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian
Elektrische Charakterisierung von Schichten und Strukturen der Metallisierung für die VLSI-Technik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 143-152
Elektrische Charakterisierung von Schichten und Strukturen der Metallisierung für die VLSI-Technik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 143-152
Knedlik, Christian; Tippmann, Herbert
Kontaktierungsprobleme der VLSI-Technik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 133-142
Kontaktierungsprobleme der VLSI-Technik. - In: Wissenschaftliche Zeitschrift / Technische Hochschule Ilmenau, ISSN 0043-6917, Bd. 30 (1984), 1, S. 133-142
Rensch, Uta; Eichhorn, Gerd
Investigations on the structure of MOCVD AIN layers on silicon. - In: Physica status solidi. Applications and materials science. - Weinheim : Wiley-VCH, 2005- , ISSN: 1862-6319 , ZDB-ID: 1481091-8, ISSN 1862-6319, Bd. 77 (1983), 1, S. 195-199
https://doi.org/10.1002/pssa.2210770123
Investigations on the structure of MOCVD AIN layers on silicon. - In: Physica status solidi. Applications and materials science. - Weinheim : Wiley-VCH, 2005- , ISSN: 1862-6319 , ZDB-ID: 1481091-8, ISSN 1862-6319, Bd. 77 (1983), 1, S. 195-199
https://doi.org/10.1002/pssa.2210770123
Liebscher, Heinz;
Eigenschaften elektrolytisch abgeschiedener Metallschichten. - In: Oberflächenveredeln und Plattieren von Metallen, (1983), Abschnitt 3.3., Seite 107-114
Eigenschaften elektrolytisch abgeschiedener Metallschichten. - In: Oberflächenveredeln und Plattieren von Metallen, (1983), Abschnitt 3.3., Seite 107-114
Liebscher, Heinz;
Technologische Aspekte. - In: Oberflächenveredeln und Plattieren von Metallen, (1983), Abschnitt 3.2., Seite 82-107
Technologische Aspekte. - In: Oberflächenveredeln und Plattieren von Metallen, (1983), Abschnitt 3.2., Seite 82-107
Liebscher, Heinz;
Grundlagen. - In: Oberflächenveredeln und Plattieren von Metallen, (1983), Abschnitt 3.1., Seite 62-82
Grundlagen. - In: Oberflächenveredeln und Plattieren von Metallen, (1983), Abschnitt 3.1., Seite 62-82
Burkhardt, Werner; Liebscher, Heinz;
Galvanotechnische Metallabscheidungsverfahren. - In: Elektrotechnologie, (1983), S. 253-296
Galvanotechnische Metallabscheidungsverfahren. - In: Elektrotechnologie, (1983), S. 253-296