Teichert, Gerd; Schleicher, Larissa; Spieß, Lothar; Yankov, Rossen A.; Knedlik, Christian; Pezoldt, Jörg
Thermowellenanalyse an implantiertem SiC. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 8 S.
Thermowellenanalyse an implantiertem SiC. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 8 S.
Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Teichert, Gerd; Pezoldt, Jörg
Werkstoffanalytische Probleme bei der Charakterisierung von Siliziumkarbid für Mikrotechnikanwendungen. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Werkstoffanalytische Probleme bei der Charakterisierung von Siliziumkarbid für Mikrotechnikanwendungen. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Vaněk, Oldrich; Knedlik, Christian; Držík, M.; Hučko, B.
Numerical simulation and experimental measurement of thermal stresses in Si-AlN and Si-SiC systems. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Numerical simulation and experimental measurement of thermal stresses in Si-AlN and Si-SiC systems. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Knedlik, Christian; Breternitz, Volkmar; Tippmann, Herbert; Jacobs, Th.; Schawohl, Jens; Teichert, Gerd; Scheffner, W.; Gutermuth, Uwe
Alterungsverhalten von Zinn-Blei-Lotüberzügen auf Bronze-Kontaktstiften. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Alterungsverhalten von Zinn-Blei-Lotüberzügen auf Bronze-Kontaktstiften. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Schawohl, Jens
Effect of oxygen concentration in the sputtering mixture on the properties of dc magnetron sputtered NiO films. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Effect of oxygen concentration in the sputtering mixture on the properties of dc magnetron sputtered NiO films. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Tvarozek, Vladimir; Breternitz, Volkmar; Novotny, I.; Knedlik, Christian; Rehacek, Vlastimil; Ivanic, R.; Strigac, A.
Selected properties of thin film structures applicable in microelectrochemical cells. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 3 S.
Selected properties of thin film structures applicable in microelectrochemical cells. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 3 S.
Fabricius, A.; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian
Vergleichende Elektromigrationsuntersuchungen an passivierten und unpassivierten Al(SiCu) Leitbahnen. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Vergleichende Elektromigrationsuntersuchungen an passivierten und unpassivierten Al(SiCu) Leitbahnen. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Knedlik, Christian; Spieß, Lothar
Werkstoffe und Analytik für die Mikroelektronik aus der Sicht der Metallisierung und Kontaktierung. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Werkstoffe und Analytik für die Mikroelektronik aus der Sicht der Metallisierung und Kontaktierung. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 6 S.
Vaněk, Oldrich; Harmatha, L.; Stuchlíková, L.; Tippmann, Herbert; Janiček, J.
Nickel thin film resistance sensors for measurement of very low temperatures. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 4 S.
Nickel thin film resistance sensors for measurement of very low temperatures. - In: 43. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (1998), insges. 4 S.
Goldhahn, Rüdiger; Shokhovets, Sviatoslav; Romanus, Henry; Cheng, T. S.; Foxon, C. Thomas
Free exciton recombination in tensile strained GaN grown on GaAs. - In: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, (1998), S. 1271-1274
Free exciton recombination in tensile strained GaN grown on GaAs. - In: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, (1998), S. 1271-1274