Richter, Wolfgang; Jahn, Rainer
Fotografieren mit Perspektive. - In: Laser + Photonik, ISSN 1610-3521, (2005), 1, S. 44-49
Fotografieren mit Perspektive. - In: Laser + Photonik, ISSN 1610-3521, (2005), 1, S. 44-49
Wesentliche Kriterien der Abbildung einer räumlichen Szene sind Perspektivitätsart und perspektivischer Tiefeneindruck. Die Perspektivitätsart einer Abbildung wird von der Lage der Eintrittspupille bestimmt. Der perspektivische Eindruck bei Abbildungen unterliegt spezifischen geometrischen Zusammenhängen.
Jahn, Rainer; Truckenbrodt, Horst
A simple fractal analysis method of the surface roughness. - In: Journal of materials processing technology, Bd. 145 (2004), 1, S. 40-45
http://dx.doi.org/10.1016/S0924-0136(03)00860-4
A simple fractal analysis method of the surface roughness. - In: Journal of materials processing technology, Bd. 145 (2004), 1, S. 40-45
http://dx.doi.org/10.1016/S0924-0136(03)00860-4
Richter, Wolfgang;
Optik in Kompaktbauweise : Optimierung eines 2D-Parallelstrahlscanners. - In: Laser + Photonik, ISSN 1610-3521, (2004), 1, S. 32-35
Optik in Kompaktbauweise : Optimierung eines 2D-Parallelstrahlscanners. - In: Laser + Photonik, ISSN 1610-3521, (2004), 1, S. 32-35
Hehl, Karl; Hertzsch, Albrecht; Kröger, Knut; Truckenbrodt, Horst
Topography measurements of engineering surfaces with optical scatterometry :
Topographiemessungen technischer Oberflächen mit einer Streulichtanordnung. - In: Technisches Messen, ISSN 2196-7113, Bd. 70 (2003), 1, S. 4-9
https://doi.org/10.1524/teme.70.1.4.22665
Topography measurements of engineering surfaces with optical scatterometry :
Topographiemessungen technischer Oberflächen mit einer Streulichtanordnung. - In: Technisches Messen, ISSN 2196-7113, Bd. 70 (2003), 1, S. 4-9
https://doi.org/10.1524/teme.70.1.4.22665
Sinzinger, Stefan; Cao, Qing; Gruber, Matthias; Jahns, Jürgen
Integrated optoelectronic crossbar architectures in planar integrated free-space optics :
Integrierte optoelektronische Crossbar-Architekturen in planar-integrierter Freiraumoptik. - In: Information technology, ISSN 2196-7032, Bd. 45 (2003), 2, S. 87-91
https://doi.org/10.1524/itit.45.2.87.19599
Integrated optoelectronic crossbar architectures in planar integrated free-space optics :
Integrierte optoelektronische Crossbar-Architekturen in planar-integrierter Freiraumoptik. - In: Information technology, ISSN 2196-7032, Bd. 45 (2003), 2, S. 87-91
https://doi.org/10.1524/itit.45.2.87.19599
Daria, Vincent R.; Eriksen, René L.; Sinzinger, Stefan; Glückstad, Jesper
Optimizing the generalized phase contrast method for a planar optical device. - In: Journal of optics, ISSN 1741-3567, Bd. 5.2003, 5, S. S211-S215
http://dx.doi.org/10.1088/1464-4258/5/5/367
Optimizing the generalized phase contrast method for a planar optical device. - In: Journal of optics, ISSN 1741-3567, Bd. 5.2003, 5, S. S211-S215
http://dx.doi.org/10.1088/1464-4258/5/5/367
Truckenbrodt, Horst; Hertzsch, Albrecht; Würtenberger, Harry; Hecht, Siegmar
Licht und Dunkelheit : optischer Handsensor zur Dralldetektion. - In: Qualität und Zuverlässigkeit, ISSN 0720-1214, Bd. 47 (2002), 6, S. 656-657
Licht und Dunkelheit : optischer Handsensor zur Dralldetektion. - In: Qualität und Zuverlässigkeit, ISSN 0720-1214, Bd. 47 (2002), 6, S. 656-657
Patz, Marlies; Lay, Hans-Georg; Lahmann, Heinz-Wolfgang; Barthelmä, Frank; Hertzsch, Albrecht; Kröger, Knut; Truckenbrodt, Horst; Hecht, Siegmar
Raues Klima : fertigungsnahe Erfassung von Rauheitskenngrößen. - In: Qualität und Zuverlässigkeit, ISSN 0720-1214, Bd. 47 (2002), 4, S. 421-423
Raues Klima : fertigungsnahe Erfassung von Rauheitskenngrößen. - In: Qualität und Zuverlässigkeit, ISSN 0720-1214, Bd. 47 (2002), 4, S. 421-423
Hertzsch, Albrecht;
Kröger, Knut; Truckenbrodt, Horst
Microtopographic analysis of turned surfaces by model-based scatterometry. - In: Precision engineering, Bd. 26 (2002), 3, S. 306-313
https://doi.org/10.1016/S0141-6359(02)00116-2
Microtopographic analysis of turned surfaces by model-based scatterometry. - In: Precision engineering, Bd. 26 (2002), 3, S. 306-313
https://doi.org/10.1016/S0141-6359(02)00116-2
Sinzinger, Stefan;
Microoptically integrated correlators for security applications. - In: Optics communications, ISSN 1873-0310, Bd. 209 (2002), 1, S. 69-74
http://dx.doi.org/10.1016/S0030-4018(02)01629-2
Microoptically integrated correlators for security applications. - In: Optics communications, ISSN 1873-0310, Bd. 209 (2002), 1, S. 69-74
http://dx.doi.org/10.1016/S0030-4018(02)01629-2