Publications without theses

Smirnov, Nikolai V.; Latyev, Svjatoslav M.; Theska, René
Adjustment and evaluation of incremental optical rotary encoders. - In: Shaping the future by engineering, (2014), insges. 7 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2014iwk-030:1

Schleichert, Jan; Carlstedt, Matthias; Marangoni, Rafael R.; Rahneberg, Ilko; Fröhlich, Thomas
Dynamic characterization of a multi-component force transducer using a Lorentz force load changer. - In: Shaping the future by engineering, (2014), insges. 11 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2014iwk-181:4

Hofmann, Norbert; Mastylo, Rostyslav; Manske, Eberhard; Theska, René
A compact tactile surface profiler for multi-sensor applications in nano measuring machines. - In: Shaping the future by engineering, (2014), insges. 10 S.

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2014iwk-177:3

Oliveira, Rafael S.; Winter, Simon; Lepikson, Herman A.; Fröhlich, Thomas; Theska, René
A new approach to test torque transducers under dynamic reference regimes. - In: Measurement, Bd. 58 (2014), S. 354-362

A system is proposed to test torque transducers under reference dynamic regimes, where the reference torque is provided by the application of angular acceleration to a coupled mass moment of inertia. The dynamic regimes include different angular velocity intervals, angular velocity steps and high torque rates. A basic general assembly is proposed and theoretical and practical analyses are performed to determine the primary parameters and depict components. The results show that the angular velocity and torque curves are repeatable and also that the simultaneous responses of torque and acceleration are linear. The mass moments of inertia involved in the measurement process are evaluated. The results provide a positive direction for future tests with transducers and the objective to fill the gap in the metrological traceability chain for torque measurement with dynamic tests and sensor verification.

http://dx.doi.org/10.1016/j.measurement.2014.09.020

Selva Ginani, Luciano;
Optical scanning sensor system with submicron resolution. - Ilmenau : Universitätsverlag Ilmenau, 2013. - Online-Ressource (PDF-Datei: XVIII, 142 S., 10,00 MB). - (Berichte aus dem Institut für Maschinen- und Gerätekonstruktion (IMGK) ; 24) : Ilmenau, Techn. Univ., Diss., 2013
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Laser-Scanning Mikroskopie ist eine im Bereich der Oberflächenmessung wichtige und vielversprechende Technologie für schnelle, genaue und wiederholbare Messungen. Es ist im Grunde eine Technik zur Erhöhung von Kontrast und Auflösung in optischen Abbildungssystemen. Ein Prüfling wird punktweise abgetastet und ein dreidimensionales Bild seiner Oberfläche mit Hilfe eines Rechners erfasst und rekonstruiert. In dieser Arbeit werden Autofokus- und optische Abtastverfahren in der Entwicklung und Konstruktion eines alternativen, vereinfachten Scanning Mikroskops für Oberflächenmessungen im Millimeterbereich mit Sub-Mikrometer Auflösung zusammengebracht. Das entwickelte System verwendet einen auf dem Foucault'sches Schneidenverfahren basierenden Autofokussensor um die Fokuslage zu bestimmen und einen Piezo-Linearantrieb für die Verschiebung des Objektivs entlang der optischen Achse und das Abtasten des Prüflings in der axialen Richtung. Die laterale Abtastung des Prüflings wird durch den Einsatz eines Piezo-Spiegels realisiert, der um zwei Achsen schwenkbar ist. Das entwickelte Mikroskop hat eine reduzierte Anzahl von optischen Komponenten und bietet einen einfachen und vielseitigen Versuchsaufbau zur Messung und Analyse von Fehlern, die durch die bewusste Verwendung von unkompensierten Optiken auftreten. Die damit verbundenen Abbildungsfehler erzeugen Asymmetrien in den Autofokussensoren und beeinträchtigen die Gesamtleistung. Die herkömmliche Lösung dieser Problematik ist das System durch Addition zusätzlicher Komponenten zu verbessern, sodass es wie ein paraxiales System wirkt. Diese Verbesserung bringt aber die Nachteile von Baugröße, Gewicht und Kosten mit sich. Durch das Brechen des Paradigmas der Verbesserung der Optik bis zu einem paraxialen System und die Betrachtung der Optik als Teil eines komplexen Systems ist es möglich, simplere Optik zu verwenden, und die resultierenden Fehler rechnerisch zu korrigieren. Diese Fehler sind systematisch und können - solange sie modelliert und gemessen werden können - vorhergesagt und korrigiert werden. Damit wird das Design des optischen Systems flexibler und die Aufgabe der Fehlerbehandlung zwischen Optimierung der Optik und rechnerischer Korrektur aufgeteilt. Baugröße, Gewicht und Kosten können dann reduziert werden und die Systemdynamik erhöht sich, ohne Einschränkung der Präzision. Das Ziel ist nicht jeden Abbildungsfehler individuell zu untersuchen, sondern deren Zusammenwirken auf die Messungen zu beobachten und zu modellieren. Verschiedene Strategien für die Behandlung dieser Messfehler werden in dieser Arbeit vorgeschlagen, diskutiert und experimentell validiert.

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