Handrich, Klaus; Öttking, Rolf
Energy renormalization and damping of long-wavelength phonons in amorphous solids. - In: Physica status solidi, ISSN 0370-1972, Bd. 225 (2001), 2, S. 289-299
Energy renormalization and damping of long-wavelength phonons in amorphous solids. - In: Physica status solidi, ISSN 0370-1972, Bd. 225 (2001), 2, S. 289-299
Stühn, Bernd
Segmentdynamik und Relaxation in mikrophasenseparierten Polymersystemen : BMBF-Förderschwerpunkt "Erforschung der kondensierten Materie - Großgeräte der physikalischen Grundlagenforschung" ; [Schlussbericht] ; Förderzeitraum: 01.04.99 - 31.03.01
[Elektronische Ressource]. - Ilmenau : Techn. Univ.. - Online-Ressource (13 p. = 516 KB)Contract BMBF 03 ST5ILM 0. - Differences between the printed and electronic version of the document are possible. - nBibliography p. 13
https://edocs.tib.eu/files/e01fb02/360145469.pdf
Segmentdynamik und Relaxation in mikrophasenseparierten Polymersystemen : BMBF-Förderschwerpunkt "Erforschung der kondensierten Materie - Großgeräte der physikalischen Grundlagenforschung" ; [Schlussbericht] ; Förderzeitraum: 01.04.99 - 31.03.01
[Elektronische Ressource]. - Ilmenau : Techn. Univ.. - Online-Ressource (13 p. = 516 KB)Contract BMBF 03 ST5ILM 0. - Differences between the printed and electronic version of the document are possible. - nBibliography p. 13
https://edocs.tib.eu/files/e01fb02/360145469.pdf
Schnittler, Christoph; Teichmann, Gottfried
Zeitenwandel : die Geschichte des Instituts für Physik von 1953 bis heute, [Teil] 1. - In: Ilmenauer Uni-Nachrichten, Bd. 44 (2001), 6, S. 16
Zeitenwandel : die Geschichte des Instituts für Physik von 1953 bis heute, [Teil] 1. - In: Ilmenauer Uni-Nachrichten, Bd. 44 (2001), 6, S. 16
Scherge, Matthias; Opitz, Andreas; Schäfer, Jürgen A.
Nanoschmierung - eine Analyse mittels Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop. - In: Plenarvorträge, Werkstoffe, Reibung und Verschleiß, Dünne Schichten, Fahrzeugtechnik, (2000), S. 17.1-17.6
Nanoschmierung - eine Analyse mittels Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop. - In: Plenarvorträge, Werkstoffe, Reibung und Verschleiß, Dünne Schichten, Fahrzeugtechnik, (2000), S. 17.1-17.6
Scherge, Matthias; Gorb, Stanislav N.
Biologische Mikrotribologie - eine Einführung. - In: Plenarvorträge, Werkstoffe, Reibung und Verschleiß, Dünne Schichten, Fahrzeugtechnik, (2000), S. 3.1-3.6
Biologische Mikrotribologie - eine Einführung. - In: Plenarvorträge, Werkstoffe, Reibung und Verschleiß, Dünne Schichten, Fahrzeugtechnik, (2000), S. 3.1-3.6
Ahmed, Syed Imad Uddin; Hungenbach, Gudrun; Opitz, Andreas; Richter, Andreas; Scherge, Matthias
Tribologisches Verhalten von DLC-Schichten. - In: Plenarvorträge, Werkstoffe, Reibung und Verschleiß, Dünne Schichten, Fahrzeugtechnik, (2000), S. 26/1-11
Tribologisches Verhalten von DLC-Schichten. - In: Plenarvorträge, Werkstoffe, Reibung und Verschleiß, Dünne Schichten, Fahrzeugtechnik, (2000), S. 26/1-11
Ahmed, Syed Imad Uddin; Scherge, Matthias
Wear of self assembled monolayer films on silicon surfaces. - In: Plenarvorträge, Werkstoffe, Reibung und Verschleiß, Dünne Schichten, Fahrzeugtechnik, (2000), S. 18/1-7
Wear of self assembled monolayer films on silicon surfaces. - In: Plenarvorträge, Werkstoffe, Reibung und Verschleiß, Dünne Schichten, Fahrzeugtechnik, (2000), S. 18/1-7
Scherge, Matthias; Schäfer, Jürgen A.
Mikro- und Makrotribologie - ähnliche Erscheinungen, unterschiedliche Ursachen?. - In: Tribologie und Schmierungstechnik, ISSN 0724-3472, Bd. 47 (2000), 2, S. 7-10
Mikro- und Makrotribologie - ähnliche Erscheinungen, unterschiedliche Ursachen?. - In: Tribologie und Schmierungstechnik, ISSN 0724-3472, Bd. 47 (2000), 2, S. 7-10
Wöhner, Thomas; Cimalla, Volker; Stauden, Thomas; Schäfer, Jürgen A.; Pezoldt, Jörg
Real time spectroscopic ellipsometry monitoring of the SiC growth during the interaction process of elemental carbon with Si surfaces. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 364 (2000), 1/2, S. 28-32
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(99)00918-9
Real time spectroscopic ellipsometry monitoring of the SiC growth during the interaction process of elemental carbon with Si surfaces. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 364 (2000), 1/2, S. 28-32
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(99)00918-9
Liu, Huiwen; Fujisawa, Satoru; Tanaka, Akihiro; Enomoto, Yuji
Controlling and improving the microtribological properties of Langmuir-Blodgett monolayer films using an external electric field. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 368 (2000), 1, S. 135-142
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(00)00733-1
Controlling and improving the microtribological properties of Langmuir-Blodgett monolayer films using an external electric field. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 368 (2000), 1, S. 135-142
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(00)00733-1