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In order to achieve enhanced credibility of social networking services such as twitter, it is necessary to (1) identify the topic and to (2) check, if the majority of the tweets having the same topic show the same opinion. Therefore, it is indicated to improve the accuracy for analyzing the caller's emotional expression of the "emotional polarity classification", which is used for opinion classification. For this reason, a semantic orientation acquisition technique is proposed, which integrates "another part-of-speech based semantic orientation dictionary" and a subject predicate relationship considered semantic orientation dictionary of phrases (semantic orientation table). As a feature of the proposed method, a semantic orientation of an adjective or predicate due to its greatest impact on identification semantic orientation of each tweet or document is determined. In addition, the dictionary is created by using tweets. Usual methods have problems with the opinion classification (90 % of the tweets are judged negative), but the proposed method has a more correct to negative judge rate of 60%. An integrated semantic orientation dictionary of phrases is used to improve precision of the classification.

Creating new software-intensive systems is still a challenge and far away from a traditional engineering domain. The increasing size of software deployed in typical systems and the emergence of very large highly distributed systems necessitates additional techniques to assure the systems' quality. This paper outlines the theoretical and technical prerequisites to implement Simulation Driven Development (SDD) by defining and executing simulation based design workflows. A discrete event modeling and simulation tool has been extended to support self-controlling workflows to accompany the development of complex systems using simulation as key tool.

Die Klassizierung von Materialdefekten ist ein wesentliches Merkmal der Qualitätssicherung. Dabei sind geschichtete Verbundwerkstoffe von besonderem Interesse, weil sie zunehmend monolithische Werkstoffe ersetzen. Lorentz force evaluation (LFE) ist eine Methode zur Rekonstruktion der Geometrie von Fehlstellen in elektrisch leitfähigen Verbundwerkstoffen mittels inverser Berechnungen. Die Grundlage der inversen Berechnungen sind Störungen, die aufgrund der Fehlstellen in den gemessenen Lorentzkraft-Signalen auftreten. Die Signale werden mittels der zerstörungsfreien Prüfmethode, der Lorentzkraft-Wirbelstromprüfung (LET) gemessen. Bei diesem elektromagnetischen Testverfahren bewegen sich ein Permanentmagnet und das zu untersuchende Material relativ zu einander. Dadurch werden Wirbelströme im Material induziert. Die Interaktion dieser mit dem Magnetfeld hat eine Lorentzkraft zur Folge. Für inverse Verfahren ist eine Vorwärtslösung zur Berechnung der Lorentzkraft notwendig, der ein Modell des LET-Aufbaus zugrunde liegt. Das Ziel der vorliegenden Dissertation ist die Entwicklung und Evaluierung von Vorwärtslösungen und inversen Berechnungsmethoden für LFE. Zur Bewertung der Methoden werden Lorentzkraft Signale verwendet, die aus Messungen von geschichteten Verbundmaterialien stammen. Zur Modellierung des Permanentmagneten in der Vorwärtslösung für LFE wird das Magnetische-Dipole-Modell (MDM) entwickelt. In diesem Modell wird ein Permanentmagnet durch eine Verteilung magnetischer Dipole repräsentiert. Die Positionen der magnetischen Dipole werden optimiert. Im Vergleich zu analytischen Modellen kann das MDM zur Modellierung beliebig geformter Permanentmagneten verwendet werden. Die Lorentzkraft-Signale können analytisch berechnet werden. In dieser Dissertation werden drei inverse Berechnungsmethoden für LFE erarbeitet. In der ersten Methode wird ein stochastischer Optimierungsalgorithmus, der Differential Evolution, zur Rekonstruktion von Leitfähigkeiten im Material verwendet. Die intrinsischen Kontrollparameter des Differential Evolution (DE) werden anhand von Parameterstudien festgelegt. Als zweite inverse Methode werden Stromdichterekonstruktionen mittels Minimum-Norm-Schätzungen durchgeführt. Grundlegend für diesen Ansatz ist die Interpretation eines Defektes in der Vorwärtslösung als verteilte Stromquelle. Als dritte inverse Methode wird eine Abtastung der Zielfunktion zur Rekonstruktion der Defektparameter vorgenommen. Alle inversen Verfahren sind zur Defektrekonstruktion geeignet, wobei sich die Ergebnisse der ersten und dritten Methode genauer darstellen als die der zweiten. Des Weiteren werden Messdaten eines aus glasfaserverstärktem Aluminium (GLARE) bestehenden Prüfkörpers ausgewertet. GLARE wird insbesondere im Flugzeugbau eingesetzt. Es wird gezeigt, dass mit LET und LFE Materialfehler in GLARE nachgewiesen werden können.

Der Bedarf an elektronischen Systemen mit zusätzlichen Merkmalen, höherer Leistung und geringerem Energieverbrauch nimmt ständig zu. Dies stellt eine erhebliche Herausforderung für Entwicklungs- und Testingenieure dar, weil sie sich mit elektronischen Systemen mit einer steigenden Komplexität zu befassen haben. Außerdem müssen die Herstellungs- und Testkosten gering bleiben und die Produkteinführungsfristen so kurz wie möglich gehalten werden. Daraus folgt, dass ein Testingenieur, der auf Leiterplatten-Ebene arbeitet, die Herstellungsfehler so früh wie möglich entdecken und dabei möglichst niedrige Kosten verursachen soll. Allerdings sind die klassischen Testmethoden nicht in der Lage, die Anforderungen von modernen Leiterplatten zu erfüllen und im schlimmsten Fall können diese Testmethoden überhaupt nicht verwendet werden. Dies liegt vor allem an modernen Gehäuse-Technologien, der hohen Bauteildichte und den hohen Arbeitsfrequenzen von modernen Leiterplatten. Das führt zu sehr langen Testzeiten, geringer Testabdeckung und hohen Testkosten. Die Dissertation greift diese Problematik auf und liefert einen FPGA-basierten Testansatz für Leiterplatten. Das Konzept beruht auf einem konfigurierbaren Testprozessor, welcher im On-Board-FPGA temporär implementiert wird und die entsprechenden Mechanismen für die Kommunikation mit der externen Testeinrichtung und Co-Prozessoren im FPGA bereitstellt. Dadurch ist es möglich Testfunktionen flexibel entweder auf der externen Testeinrichtung oder auf dem FPGA zu implementieren. Auf diese Weise werden Tests at-speed ausgeführt, um die Testabdeckung zu erhöhen. Außerdem wird die Testzeit verkürzt und das Testsystem automatisch an die Eigenschaften des FPGAs und anderer Bauteile auf der Leiterplatte angepasst. Ein wesentlicher Teil des FPGA-basierten Testansatzes umfasst die Entwicklung eines Testprozessors. In dieser Dissertation wird über die benötigten Eigenschaften des Prozessors diskutiert und es wird gezeigt, dass die Anpassung des Prozessors an den spezifischen Testfall von großer Bedeutung für die Optimierung ist. Zu diesem Zweck wird der Prozessor mit Konfigurationsparametern auf der Befehlssatzarchitektur-Ebene und Mikroarchitektur-Ebene ausgerüstet. Außerdem wird ein automatischer Generierungsprozess für die Realisierung des Testsystems und für die Berechnung einer Untergruppe von Konfigurationsparametern des Prozessors vorgestellt. Der automatische Generierungsprozess benutzt als Eingangsinformation ein Modell des Prüflings (device under test model, DUT-M). Das entwickelte Testsystem wurde zum Testen von Leiterplatten für Verbindungen zwischen dem FPGA und zwei Bauteilen verwendet, um den FPGA-basierten Testansatz und die Durchführbarkeit des Testprozessors für das Testen auf Leiterplatte-Ebene zu evaluieren. Die zwei Bauteile sind ein Speicher mit direktem Zugriff (static random-access memory, SRAM) und eine Flüssigkristallanzeige (liquid crystal display, LCD). Die Experimente wurden durchgeführt, um den Ressourcenverbrauch des Prozessors und Testsystems festzustellen und um die Testzeit zu messen. Dies geschah durch die Implementierung von unterschiedlichen Testfunktionen auf der externen Testeinrichtung und dem FPGA. Dadurch konnte gezeigt werden, dass der FPGA-basierte Ansatz für das Testen von Leiterplatten geeignet ist und dass der Testprozessor eine realistische Alternative für das Testen auf Leiterplatten-Ebene ist.