Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Kups, Thomas; Romanus, Henry; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.; Knedlik, Christian
Entwicklung von nanoskaligen Wolframkarbid-Schichtsystemen für funktionelle Oberflächen einer NPM-Maschine. - In: Maschinenbau von Makro bis Nano, 2005, [01.10], insges. 2 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=16753
Entwicklung von nanoskaligen Wolframkarbid-Schichtsystemen für funktionelle Oberflächen einer NPM-Maschine. - In: Maschinenbau von Makro bis Nano, 2005, [01.10], insges. 2 S.
http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=16753
Himmerlich, Marcel; Eremtchenko, Maxim; Krischok, Stefan; Stolz, Th.; Zeman, M. C.; Gubisch, Maik; Nemanich, R. J.; Schäfer, Jürgen A.
Thermal decomposition of indium phosphide : monitoring of metallic cluster growth. - In: 2005 International Conference Indium Phosphide and Related Materials, (2005), S. 402-405
Thermal decomposition of indium phosphide : monitoring of metallic cluster growth. - In: 2005 International Conference Indium Phosphide and Related Materials, (2005), S. 402-405
Schober, Andreas; Kittler, Gabriel; Buchheim, Carsten; Majdeddin, Ali; Cimalla, Volker; Fischer, Michael; Yanev, Vasil; Himmerlich, Marcel; Krischok, Stefan; Schäfer, Jürgen A.; Romanus, Henry; Sändig, Torsten; Burgold, Jörg; Weise, Frank; Wurmus, Helmut; Drüe, Karl-Heinz; Hintz, Michael; Thust, Heiko; Gebinoga, Michael; Kittler, Mario
A novel class of sensors for system integrative concepts in biotechnological applications. - In: NSTI BioNano, (2005), S. 489-492
A novel class of sensors for system integrative concepts in biotechnological applications. - In: NSTI BioNano, (2005), S. 489-492
Lebedev, Vadim; Morales Sánchez, Francisco Miguel; Romanus, Henry; Krischok, Stefan; Ecke, Gernot; Cimalla, Volker; Himmerlich, Marcel; Stauden, Thomas; Cengher, Dorin; Ambacher, Oliver
The role of Si as surfactant and donor in molecular-beam epitaxy of AlN. - In: Journal of applied physics, ISSN 1089-7550, Bd. 98 (2005), 9, 093508, insges. 6 S.
https://doi.org/10.1063/1.2126786
The role of Si as surfactant and donor in molecular-beam epitaxy of AlN. - In: Journal of applied physics, ISSN 1089-7550, Bd. 98 (2005), 9, 093508, insges. 6 S.
https://doi.org/10.1063/1.2126786
Oberseider, Michael; Jakob, Christine; Petrova, Maria; Noncheva, Z.; Schawohl, Jens
Untersuchung von chemisch abgeschiedenen nanoskaligen Nickeldispersionsschichten. - In: Galvanotechnik, ISSN 0016-4232, Bd. 96 (2005), 5, S. 1214-1224
Untersuchung von chemisch abgeschiedenen nanoskaligen Nickeldispersionsschichten. - In: Galvanotechnik, ISSN 0016-4232, Bd. 96 (2005), 5, S. 1214-1224
Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Krischok, Stefan; Ecke, Gernot; Spieß, Lothar; Schäfer, Jürgen A.; Knedlik, Christian
Tribological characteristics of WC1-x9 W2C and WC tungsten carbide films. - In: Life cycle tribology, (2005), S. 409-417
Tribological characteristics of WC1-x9 W2C and WC tungsten carbide films. - In: Life cycle tribology, (2005), S. 409-417
Liu, Yonghe; Gubisch, Maik; Hild, Wolfram; Scherge, Matthias; Spieß, Lothar; Knedlik, Christian; Schäfer, Jürgen A.
Nanoscale multilayer WC/C coatings developed for nanopositioning: Part II. Friction and wear. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 488 (2005), 1, S. 140-148
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.03.020
Nanoscale multilayer WC/C coatings developed for nanopositioning: Part II. Friction and wear. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 488 (2005), 1, S. 140-148
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.03.020
Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Krischok, Stefan; Ecke, Gernot; Schäfer, Jürgen A.; Knedlik, Christian
Nanoscale multilayer WC/C coatings developed for nanopositioning: Part I. Microstructures and mechanical properties. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 488 (2005), 1, S. 132-139
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.04.107
Nanoscale multilayer WC/C coatings developed for nanopositioning: Part I. Microstructures and mechanical properties. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 488 (2005), 1, S. 132-139
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.04.107
Spieß, Lothar; Schwarzer, Robert; Behnken, Herfried; Teichert, Gerd
Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
1. Aufl.. - Wiesbaden : Teubner, 2005. - XII, 523 S.. - (Teubner Lehrbuch Physik) ISBN 978-3-519-00522-3
Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
1. Aufl.. - Wiesbaden : Teubner, 2005. - XII, 523 S.. - (Teubner Lehrbuch Physik) ISBN 978-3-519-00522-3
Hotovy, Ivan; Kremmer, J.; Huran, Jozef; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar
Characterization and gas sensing properties of NiO thin films. - In: Sensors and microsystems, (2004), S. 185-190
Characterization and gas sensing properties of NiO thin films. - In: Sensors and microsystems, (2004), S. 185-190