Ibrahim, Maher al-; Sensfuss, Steffi; Roth, Hans-Klaus; Zhokhavets, Uladzimir; Gobsch, Gerhard; Ayuk Mbi Egbe, Daniel; Klemm, Elisabeth; Knedlik, Christian
Optical and electrochemical measurements looking for new donor-acceptor pairs and their application in polymer solar cells. - In: Proceedings and our portrait, (2003), insges. 2 S.
Optical and electrochemical measurements looking for new donor-acceptor pairs and their application in polymer solar cells. - In: Proceedings and our portrait, (2003), insges. 2 S.
Jakubec, Andrej; Tvarozek, Vladimir; Novotny, I.; Rehacek, Vlastimil; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Spieß, Lothar
Characterization of Indium-Tin-Oxide thin film microelectrodes for biomedical use. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 662-665
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200390132
Characterization of Indium-Tin-Oxide thin film microelectrodes for biomedical use. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 662-665
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200390132
Gräbner, Frank; Teichert, Gerd; Knedlik, Christian; Hildenbrandt, S.; Romanus, Henry; Hungsberg, A.; Koledintseva, M.
Simulation of layer-sequence of Ni-Zn ferrite thin films and multilayers for EMC applications > 1000 MHz :
Untersuchung zur Schichtfolge eines Multilayerschichtsystems NiZn Ferrit/Si bzw. SiO 2 für Höchstfrequenzleiterplatten im Frequenzbereich größer 1000 MHz. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 603-607
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200390121
Simulation of layer-sequence of Ni-Zn ferrite thin films and multilayers for EMC applications > 1000 MHz :
Untersuchung zur Schichtfolge eines Multilayerschichtsystems NiZn Ferrit/Si bzw. SiO 2 für Höchstfrequenzleiterplatten im Frequenzbereich größer 1000 MHz. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 603-607
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200390121
Spieß, Lothar; Knedlik, Christian
Nutzung von Werkstoffstrukturgrößen als Messnormale. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 648-653
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200390130
Nutzung von Werkstoffstrukturgrößen als Messnormale. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 34 (2003), 7, S. 648-653
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200390130
Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg; Ecke, Gernot; Kosiba, Rastislav; Ambacher, Oliver; Spieß, Lothar; Teichert, Gerd; Lu, Hai; Schaff, William J.
Growth of cubic InN on r-plane sapphire. - In: Applied physics letters, ISSN 1077-3118, Bd. 83 (2003), 17, S. 3468-3470
http://dx.doi.org/10.1063/1.1622985
Growth of cubic InN on r-plane sapphire. - In: Applied physics letters, ISSN 1077-3118, Bd. 83 (2003), 17, S. 3468-3470
http://dx.doi.org/10.1063/1.1622985
Weih, Petia; Cimalla, Volker; Förster, Christian; Pezoldt, Jörg; Stauden, Thomas; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Hermann, Martin; Eickhoff, Martin; Masri, Pierre; Ambacher, Oliver
High-resolution XRD investigations of the strain reduction in 3C-SiC thin films grown on Si (111) substrates. - In: Silicon carbide and related materials 2002, (2003), S. 433-436
High-resolution XRD investigations of the strain reduction in 3C-SiC thin films grown on Si (111) substrates. - In: Silicon carbide and related materials 2002, (2003), S. 433-436
Hotovy, Ivan; Rehacek, Vlastimil; Siciliano, Pietro; Capone, Simonetta; Spieß, Lothar
Sensing characteristics of NiO thin films as NO2 gas sensors. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 418 (2002), 1, S. 9-15
Im Titel ist "2" tiefgestellt
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(02)00579-5
Sensing characteristics of NiO thin films as NO2 gas sensors. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 418 (2002), 1, S. 9-15
Im Titel ist "2" tiefgestellt
https://doi.org/10.1016/S0040-6090(02)00579-5
Jakubec, A.; Rehacek, Vlastimil; Novotny, I.; Ivanic, R.; Tvarozek, Vladimir; Knedlik, Christian; Breternitz, Volkmar; Spieß, Lothar
Thin films for electrochemical sensoric interfaces. - In: Conference proceedings, (2002), S. 321-324
Thin films for electrochemical sensoric interfaces. - In: Conference proceedings, (2002), S. 321-324
Gräbner, Frank; Teichert, Gerd; Blaschta, Frieder; Knedlik, Christian; Hildenbrandt, St.; Hungsberg, A.
Dünne Ferritschichtsysteme für Höchstfrequenzanwendungen in der Informationstechnik und Computertechnik. - In: Elektromagnetische Verträglichkeit, (2002), S. 65-74
Dünne Ferritschichtsysteme für Höchstfrequenzanwendungen in der Informationstechnik und Computertechnik. - In: Elektromagnetische Verträglichkeit, (2002), S. 65-74
Gräbner, Frank; Teichert, Gerd; Knedlik, Christian; Hildenbrand, S.; Romanus, Henry; Hungsberg, A.; Koledintseva, Marina
Untersuchung zur Schichtfolge eines Multilayerschichtsystems NiZn Ferrit. - In: 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (2002), insges. 11 S.
Untersuchung zur Schichtfolge eines Multilayerschichtsystems NiZn Ferrit. - In: 47. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, (2002), insges. 11 S.