Hotovy, Ivan; Huran, Jozef; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Schawohl, Jens
NiO modified thin films for gas monitoring. - In: The Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, 2004, (2004), S. 303-306
http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2004.1441221
NiO modified thin films for gas monitoring. - In: The Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, 2004, (2004), S. 303-306
http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2004.1441221
Gupta, Vinay; Scharff, Peter; Risch, Katrin; Romanus, Henry; Müller, René
Synthesis of C60 intercalated graphite. - In: Solid state communications, ISSN 1879-2766, Bd. 131 (2004), 3/4, S. 153-155
http://dx.doi.org/10.1016/j.ssc.2004.05.018
Synthesis of C60 intercalated graphite. - In: Solid state communications, ISSN 1879-2766, Bd. 131 (2004), 3/4, S. 153-155
http://dx.doi.org/10.1016/j.ssc.2004.05.018
Cui, Shen; Scharff, Peter; Siegmund, Carmen; Schneider, Doreen; Risch, Katrin; Klötzer, Susann; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Schawohl, Jens
Investigation on preparation of multiwalled carbon nanotubes by DC arc discharge under N2 atmosphere. - In: Carbon, ISSN 1873-3891, Bd. 42 (2004), 5/6, S. 931-939
http://dx.doi.org/10.1016/j.carbon.2003.12.060
Investigation on preparation of multiwalled carbon nanotubes by DC arc discharge under N2 atmosphere. - In: Carbon, ISSN 1873-3891, Bd. 42 (2004), 5/6, S. 931-939
http://dx.doi.org/10.1016/j.carbon.2003.12.060
Schober, Andreas; Kittler, Gabriel; Buchheim, Carsten; Majdeddin, Ali; Cimalla, Volker; Fischer, Michael; Yanev, Vasil; Himmerlich, Marcel; Krischok, Stefan; Schäfer, Jürgen A.; Romanus, Henry; Sändig, Torsten; Burgold, Jörg; Weise, Frank; Wurmus, Helmut; Drüe, Karl-Heinz; Hintz, Michael; Thust, Heiko; Gessner, Jörg; Kittler, Mario; Schwierz, Frank; Doll, Theodor; Manske, Eberhard; Mastylo, Rostyslav; Jäger, Gerd; Knedlik, Christian; Winkler, Gerd; Kern, Heinrich; Hoffmann, R.; Spieß, Lothar; Spitznas, Armin; Gottwald, Eric; Weibezahn, Karl-Friedrich; Wegener, Dennis; Schwienhorst, Andreas; Ambacher, Oliver
A novel class of sensors for system integrative concepts in biotechnological applications. - In: Technische Systeme für Biotechnologie und Umwelt, (2004), S. 163-169
A novel class of sensors for system integrative concepts in biotechnological applications. - In: Technische Systeme für Biotechnologie und Umwelt, (2004), S. 163-169
Hild, Wolfram; Hungenbach, Gudrun; Liu, Yonghe; Schaefer, Jürgen A.; Gubisch, Maik; Scherge, Matthias
Einfluss der Korngröße auf die tribologischen Eigenschaften und das Einlaufverhalten von gesputterten Chromschichten. - In: Reibung, Schmierung und Verschleiß, (2004), insges. 10 S.
Einfluss der Korngröße auf die tribologischen Eigenschaften und das Einlaufverhalten von gesputterten Chromschichten. - In: Reibung, Schmierung und Verschleiß, (2004), insges. 10 S.
Gubisch, Maik; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Schawohl, Jens; Knedlik, Christian
Bias-Magnetron Sputtern von Wolframkarbid-Schichten auf Stahl. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 35 (2004), 10/11, S. 916-923
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200400812
Bias-Magnetron Sputtern von Wolframkarbid-Schichten auf Stahl. - In: Materials science and engineering technology, ISSN 1521-4052, Bd. 35 (2004), 10/11, S. 916-923
http://dx.doi.org/10.1002/mawe.200400812
Romanus, Henry; Romankiewicz, Katja; Schwenke, B.; Breternitz, Volkmar; Knedlik, Christian; Teichert, Gerd
Untersuchungen zu Nickel-Zink-Ferrit-Schichten auf Kupferfolien für Leiterplatten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 125-130
Untersuchungen zu Nickel-Zink-Ferrit-Schichten auf Kupferfolien für Leiterplatten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 125-130
Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Ambacher, Oliver
Lateralkraftmikroskopie an elektrischen Kontakten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 203-211
Lateralkraftmikroskopie an elektrischen Kontakten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 203-211
Cimalla, Volker; Spieß, Lothar; Gubisch, Maik; Hotovy, Ivan; Romanus, Henry; Ambacher, Oliver
Analyse nanokristalliner Schichten auf rauen Substraten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 177-183
Analyse nanokristalliner Schichten auf rauen Substraten. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 177-183
Gubisch, Maik; Liu, Yonghe; Spieß, Lothar; Romanus, Henry; Knedlik, Christian
Nanoschichten für die Nanopositionierung. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 131-136
Nanoschichten für die Nanopositionierung. - In: Thüringer Werkstofftag 2004, (2004), S. 131-136