Wang, Dong; Schaaf, Peter
Thermal dewetting of thin Au films deposited onto line-patterned substrates. - In: Journal of materials science, ISSN 1573-4803, Bd. 47 (2012), 4, S. 1605-1608
http://dx.doi.org/10.1007/s10853-011-5716-0
Thermal dewetting of thin Au films deposited onto line-patterned substrates. - In: Journal of materials science, ISSN 1573-4803, Bd. 47 (2012), 4, S. 1605-1608
http://dx.doi.org/10.1007/s10853-011-5716-0
Wang, Dong; Schaaf, Peter
Ni-Au bi-metallic nanoparticles formed via dewetting. - In: Materials letters, ISSN 1873-4979, Bd. 70 (2012), S. 30-33
http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2011.11.102
Ni-Au bi-metallic nanoparticles formed via dewetting. - In: Materials letters, ISSN 1873-4979, Bd. 70 (2012), S. 30-33
http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2011.11.102
Spieß, Lothar;
Teichert, Gerd; Wilke, Marcus
Die Materialcharakterisierungsverfahren Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) und Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) im Alltag eines Werkstoffprüflabors. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 16 (2011), 1, DGZfP 2010, Session: Materialcharakterisierung, Di.1.C.1, insges. 8 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121
Die Materialcharakterisierungsverfahren Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) und Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) im Alltag eines Werkstoffprüflabors. - In: The e-journal of nondestructive testing & ultrasonics, Bd. 16 (2011), 1, DGZfP 2010, Session: Materialcharakterisierung, Di.1.C.1, insges. 8 S.
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:gbv:ilm1-2016200121
Kosc, Ivan; Hotovy, Ivan; Grieseler, Rolf; Rehacek, Vlastimil; Wilke, Marcus; Spiess, Lothar
Thin compound oxide films based on NiO and TiO 2 for gas detection. - In: Proceedings of the 17th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, APCOM 2011, June 22 - 24, 2011, Spa Nový Smokovec, High Tatras, Slovak Republic, ISBN 978-80-5540386-1, (2011), S. 268-271
Thin compound oxide films based on NiO and TiO 2 for gas detection. - In: Proceedings of the 17th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, APCOM 2011, June 22 - 24, 2011, Spa Nový Smokovec, High Tatras, Slovak Republic, ISBN 978-80-5540386-1, (2011), S. 268-271
Marton, Marián; Kovalčík, David; Zdravecká, Eva; Varga, Marián; Gajdošová, Lenka; Vavrinský, Erik; Veselý, Marian; Redhammer, Robert; Hopfeld, Marcus
The influence of substrate bias on nanohardness of a-C:N films deposited on CoCrMo alloy. - In: Chemické listy, ISSN 0009-2770, Bd. 105.2011, 17, S. s832-s833
The influence of substrate bias on nanohardness of a-C:N films deposited on CoCrMo alloy. - In: Chemické listy, ISSN 0009-2770, Bd. 105.2011, 17, S. s832-s833
Spieß, Lothar; Morgenbrodt, Sören; Teichert, Gerd; Schaaf, Peter
Restaustenitbestimmung-vergleichende Untersuchung mit zerstörungsfreien Messmethoden. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 7 S.
Restaustenitbestimmung-vergleichende Untersuchung mit zerstörungsfreien Messmethoden. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 7 S.
Spieß, Lothar; Grieseler, Rolf; Wilke, Markus; Teichert, Gerd; Schaaf, Peter
Bestimmung von Werkstoffkenngrößen mittels der instrumentierten Eindringhärteprüfung. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 5 S.
Bestimmung von Werkstoffkenngrößen mittels der instrumentierten Eindringhärteprüfung. - In: DGZfP-Jahrestagung 2011 Zerstörungsfreie Materialprüfung, ISBN 978-3-940283-33-7, (2011), insges. 5 S.
Wang, Dong;
Ji, Ran; Schaaf, Peter
Formation of precise 2D Au particle arrays via thermally induced dewetting on pre-patterned substrates. - In: Beilstein journal of nanotechnology, ISSN 2190-4286, Bd. 2 (2011), S. 318-326
http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.2.37
Formation of precise 2D Au particle arrays via thermally induced dewetting on pre-patterned substrates. - In: Beilstein journal of nanotechnology, ISSN 2190-4286, Bd. 2 (2011), S. 318-326
http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.2.37
Tonisch, Katja; Jatal, Wael; Niebelschütz, Florentina; Romanus, Henry; Baumann, Uwe; Schwierz, Frank; Pezoldt, Jörg
AlGaN/GaN-heterostructures on (111) 3C-SiC/Si pseudo substrates for high frequency applications. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 520 (2011), 1, S. 491-496
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.07.003
AlGaN/GaN-heterostructures on (111) 3C-SiC/Si pseudo substrates for high frequency applications. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 520 (2011), 1, S. 491-496
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.07.003
Wilke, Marcus; Teichert, Gerd; Gemma, Ryōota; Pundt, Astrid; Kirchheim, Reiner; Romanus, Henry; Schaaf, Peter
Glow discharge optical emission spectroscopy for accurate and well resolved analysis of coatings and thin films. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 520 (2011), 5, S. 1660-1667
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.07.058
Glow discharge optical emission spectroscopy for accurate and well resolved analysis of coatings and thin films. - In: Thin solid films, ISSN 1879-2731, Bd. 520 (2011), 5, S. 1660-1667
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.07.058