Angelov, Mirko; Goldhahn, Rüdiger; Nennewitz, Olaf; Schön, Silke
Characterization of ZnGe(As x P 1-x) 2 crystals by electrolyte electroreflectance spectroscopy. - In: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing II, (1996), S. 567-572
Characterization of ZnGe(As x P 1-x) 2 crystals by electrolyte electroreflectance spectroscopy. - In: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing II, (1996), S. 567-572
Fabricius, Alexander; Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg
Rapid thermal annealing of tungsten silicide films. - In: Silicide thin films, (1996), S. 625-630
Rapid thermal annealing of tungsten silicide films. - In: Silicide thin films, (1996), S. 625-630
Teichert, Gerd; Pezoldt, Jörg; Cimalla, Volker; Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar
Analysis of reflection high energy electron diffraction pattern of silicon carbide grown on silicon. - In: Evolution of epitaxial structure and morphology, (1996), S. 17-22
Analysis of reflection high energy electron diffraction pattern of silicon carbide grown on silicon. - In: Evolution of epitaxial structure and morphology, (1996), S. 17-22
Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Spieß, Lothar *1956-*; Breternitz, Volkmar
Ohmic contacts to p-type 6H-silicon carbide. - In: Applied surface science, Bd. 91 (1995), 1/4, S. 347-351
http://dx.doi.org/10.1016/0169-4332(95)00144-1
Ohmic contacts to p-type 6H-silicon carbide. - In: Applied surface science, Bd. 91 (1995), 1/4, S. 347-351
http://dx.doi.org/10.1016/0169-4332(95)00144-1
Stauden, Thomas; Eichhorn, Gerd; Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg; Ecke, Gernot; Nennewitz, Olaf
ECR-Abscheidung von AlN auf Si. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 756-759
ECR-Abscheidung von AlN auf Si. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 756-759
Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Spieß, Lothar *1956-*; Breternitz, Volkmar
Ohmsche Kontakte auf p-type 6H-Siliciumkarbid. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 730-735
Ohmsche Kontakte auf p-type 6H-Siliciumkarbid. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 730-735
Fabricius, Alexander; Nennewitz, Olaf; Spieß, Lothar; Cimalla, Volker; Pezoldt, Jörg
Herstellung von WSi 2 und TiSi 2 durch Co-Sputtern und RTA. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 724-729
Herstellung von WSi 2 und TiSi 2 durch Co-Sputtern und RTA. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 724-729
Hotový, Ivan; Vanek, Oldrich; Spieß, Lothar; Nennewitz, Olaf
NiO thin films applicable in gas sensors. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 713-718
NiO thin films applicable in gas sensors. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 713-718
Angelov, Mirko; Schön, S.; Goldhahn, Rüdiger; Nennewitz, Olaf
Synthese von ZnGe(As x P 1-x) 2 -Kristallen und Charakterisierung mittels elektrolytischer Elektroreflexion. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 692-697
Synthese von ZnGe(As x P 1-x) 2 -Kristallen und Charakterisierung mittels elektrolytischer Elektroreflexion. - In: Vortragsreihen, (1995), S. 692-697
Fröhlich, Thomas;
Computersimulation zur Anwendbarkeit des Spiegelfacettenmodells bei der Auswertung von Defektstreulichtmessungen an hillockbehafteten Aluminium-Metallisierungsschichten. - Ilmenau, 1995. - 110 Blätter
Technische Universität Ilmenau, Dissertation 1995
Computersimulation zur Anwendbarkeit des Spiegelfacettenmodells bei der Auswertung von Defektstreulichtmessungen an hillockbehafteten Aluminium-Metallisierungsschichten. - Ilmenau, 1995. - 110 Blätter
Technische Universität Ilmenau, Dissertation 1995